<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article
PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.4 20190208//EN"
       "JATS-journalpublishing1.dtd">
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" article-type="research-article" dtd-version="1.4" xml:lang="en">
 <front>
  <journal-meta>
   <journal-id journal-id-type="publisher-id">NDT World</journal-id>
   <journal-title-group>
    <journal-title xml:lang="en">NDT World</journal-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>В мире неразрушающего контроля</trans-title>
    </trans-title-group>
   </journal-title-group>
   <issn publication-format="print">1609-3178</issn>
  </journal-meta>
  <article-meta>
   <article-id pub-id-type="publisher-id">10821</article-id>
   <article-id pub-id-type="doi">10.12737/18041</article-id>
   <article-categories>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="ru">
     <subject>Активная термография</subject>
    </subj-group>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="en">
     <subject>Active Thermography</subject>
    </subj-group>
    <subj-group>
     <subject>Активная термография</subject>
    </subj-group>
   </article-categories>
   <title-group>
    <article-title xml:lang="en">Active Lock-in Thermodynamic Method for Thickness Measurement of Dielectric Coatings</article-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>Активный синхронный термодинамический метод измерения толщины диэлектрических покрытий</trans-title>
    </trans-title-group>
   </title-group>
   <contrib-group content-type="authors">
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Райнке</surname>
       <given-names>Нильс </given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Reinke</surname>
       <given-names>N. </given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <email>info@winterthurinstruments.ch</email>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Бариска</surname>
       <given-names>Андор </given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Bariska</surname>
       <given-names>A. </given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <email>info@winterthurinstruments.ch</email>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Сясько</surname>
       <given-names>Владимир Александрович</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Syasko</surname>
       <given-names>Vladimir Aleksandrovich</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <email>office@constanta.ru</email>
     <bio xml:lang="ru">
      <p>доктор технических наук;</p>
     </bio>
     <bio xml:lang="en">
      <p>doctor of technical sciences;</p>
     </bio>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-1"/>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-2"/>
    </contrib>
   </contrib-group>
   <aff-alternatives id="aff-1">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">Национальный минеральный университет «Горный»</institution>
     <city>Санкт-Петербург</city>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">St. Petersburg Mining University</institution>
     <city>St. Petersburg</city>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-2">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">ООО «КОНСТАНТА»</institution>
     <city>Санкт- Петербург</city>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">CONSTANTA Ltd</institution>
     <city>St. Petersburg</city>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <pub-date publication-format="print" date-type="pub" iso-8601-date="2016-03-30T00:00:00+03:00">
    <day>30</day>
    <month>03</month>
    <year>2016</year>
   </pub-date>
   <pub-date publication-format="electronic" date-type="pub" iso-8601-date="2016-03-30T00:00:00+03:00">
    <day>30</day>
    <month>03</month>
    <year>2016</year>
   </pub-date>
   <volume>19</volume>
   <issue>1</issue>
   <fpage>14</fpage>
   <lpage>16</lpage>
   <self-uri xlink:href="https://zh-szf.ru/en/nauka/article/10821/view">https://zh-szf.ru/en/nauka/article/10821/view</self-uri>
   <abstract xml:lang="ru">
    <p>Введение. Анализ физических процессов, протекающих при активном тепловом нагружении объекта контроля, представляющего собой двухслойный пакет с отличающимися основными статическими и динамическими характеристиками, при условии, что верхний слой диэлектрик, показал, что при синхронном измерении температуры его поверхности имеется возможность измерения толщины, пористости и межслоевой адгезии.&#13;
Метод. Предложена структура бесконтактной активной синхронной термодинимической системы для измерения толщины диэлектрических покрытий, включающая в свой состав лампу-вспышку и термодинамический чувствительный элемент с оптической системой. Разработан алгоритм анализа базовой температурной функции T(τ), описывающей изменение избыточной температуры поверхности покрытия на этапах нагрева и остывания, на основании которого разработана методика измерения толщины покрытия.&#13;
Результаты. Рассмотрены основные вопросы метрологического обеспечения, включающие принципы разработки эталонных ступенчатых мер толщины, вопросы градуировки, поверки и калибровки. Предложено использовать основные положения действующей поверочной схемы для средств измерения толщины покрытий и технологию изготовления мер, подобную применяемой для изготовления ступенчатых металлических мер толщины, как наиболее близкую.&#13;
Обсуждение. Представленные основные технические характеристики системы, а также примеры применения в авиации, машиностроении и других производствах, показывают справедливость основных теоретических положений метода и перспективность использования систем на его базе.</p>
   </abstract>
   <trans-abstract xml:lang="en">
    <p>Introduction. The task of dielectric coating thickness measurement is regular for many industries. The object to be measured represents a two-layer structure with different static and dynamic parameters of the layers; the upper layer is dielectric. The analysis of physical processes taking place at active thermal loading of the object has shown that lockin temperature measurements of the object’s surface make it possible to measure its thickness, porosity and interlayer adhesion.&#13;
Method. The structure of a noncontact active lock-in thermodynamic system for dielectric coating thickness measurement is offered. The system includes a flashlamp and a thermodynamic sensor with an optical unit. The technique for coating thickness measurement is developed on the base of the offered algorithm for analysis of primary temperature function T(τ), which shows the change of the excess coating surface temperature during heating and cooling.&#13;
Results. The main matters of the method metrological provision are justificated including principles of reference stepped thickness standard development; questions of graduation, verification and calibration are considered. It is offered to use basic provisions of the active “National Verification System for Coatings Thickness Measurement Instruments” as well as the technology for metal thickness standard fabrication as most similar.&#13;
Discussion. The main technical specifications of the system and examples of its applications in aerospace industry, mechanical engineering, and other industries show the correctness of the main theoretical provisions of the method and long-term benefit of using the system created on its base.</p>
   </trans-abstract>
   <kwd-group xml:lang="ru">
    <kwd>инфракрасная термография</kwd>
    <kwd>толщина</kwd>
    <kwd>покрытие</kwd>
    <kwd>измерение</kwd>
   </kwd-group>
   <kwd-group xml:lang="en">
    <kwd>infrared thermography</kwd>
    <kwd>thickness</kwd>
    <kwd>coating</kwd>
    <kwd>measurement</kwd>
   </kwd-group>
  </article-meta>
 </front>
 <body>
  <p></p>
 </body>
 <back>
  <ref-list>
   <ref id="B1">
    <label>1.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Bariska A., Reinke N. Einfache Beschichtungskontrolle mit thermischer Schichtprüfung. ITG - Sonderausgabe. 2010. No. 10. P. 10-13.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Bariska A., Reinke N. Einfache Beschichtungskontrolle mit thermischer Schichtprüfung. ITG - Sonderausgabe. 2010, no. 10, pp. 10-13.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B2">
    <label>2.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Вавилов В. П. Инфракрасная термография и тепловой контроль. - М.: ИД Спектр, 2009. - 544 с.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Vavilov V. P. Infrakrasnaya termografiya i teplovoy kontrol&amp;#180; [Infrared Thermography and Thermal Inspection]. Moscow, ID Spektr, 2009, 544 p. (in Russ.).</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B3">
    <label>3.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Р 50.2.006-2001 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений толщины покрытий в диапазоне от 1 до 20000 мкм. - М.: ИПК Изд-во стандартов, 2001.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Р 50.2.006-2001. Gosudarstvennaya poverochnaya skhema dlya sredstv izmereniya tolshchiny pokrytiy v diapazone ot 1 do 20000 mkm [National System for Standardization of Measurements. National Verification System for Coatings Thickness Measurement Instruments in the Range 1-20,000 Micrometers]. Moscow, IPK Izdatel&amp;#180;stvo standartov, 2001 (in Russ.).</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B4">
    <label>4.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Bariska A. Alles unter Kontrolle. - Messen und Prüfen. 2014. V. 64. P. 30-32.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Bariska A. Alles unter Kontrolle. - Messen und Prüfen. 2014, v. 64, pp. 30-32.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
  </ref-list>
 </back>
</article>
