Modeling of systems and processes

Моделирование систем и процессов

2219-0767

14714

10.12737/23662

RESULTS OF TESTS OF PRODUCTS TO INFLUENCE OF HEAVY CHARGED PARTICLES

Результаты испытаний изделий к воздействию ТЗЧ

Скляр

В. А.

Sklyar

V. А.

Зольников

Владимир Константинович

Zolnikov

Vladimir Константинович

wkz@rambler.ru

АО "Научно-исследовательский институт электронной техники" Россия АО "Научно-исследовательский институт электронной техники" Russian Federation

21 12 2016

9 2 66 70

https://zh-szf.ru/en/nauka/article/14714/view

В статье рассматривается оценка стойкости микросхем к воздействию тяжелых заряженных частиц, описаны условия проведения испытаний, материально-техническое обеспечение испытаний.

In article assessment of resistance of chips to influence of heavy charged particles is considered, the test environment, material support of tests are described.

Автоматизация проектирования микросхемы стойкость тяжелые заряженные частицы.

design automation chips firmness heavy charged particles.

Оценка соответствия микросхем требованиям по стойкости к воздействию тяжелых заряженных частиц (ТЗЧ) проводилась в соответствии с программой методикой испытаний и по алгоритмам, представленным в [1, 2].Задачами испытаний являются:- получение экспериментальных данных для оценки соответствия порогового значения ЛПЭ для необратимых отказов в микросхемах заданным требованиям;- определение зависимости уровней сбоеустойчивости изделий от ЛПЭ ионов. Параметрами-критериями работоспособности и сбоеустойчивости являются параметры, указанные в табл. 1.

Зольников, В. К. Выбор значений параметров, определяющих кинетику накопления заряда в диэлектрике при радиационном воздействии [Текст] / В. К. Зольников, В. П.Крюков, В. Н. Ачкасов, В. А.Скляр // Моделирование систем и процессов. - 2015. - Т. 8. № 3. - С. 24-26.

Zol´nikov, V. K. Vybor znacheniy parametrov, opredelyayushchikh kinetiku nakopleniya zaryada v dielektrike pri radiatsionnom vozdeystvii [Tekst] / V. K. Zol´nikov, V. P.Kryukov, V. N. Achkasov, V. A.Sklyar. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2015. - T. 8. № 3. - S. 24-26.

Зольников, К. В. Расчет изменения схемотехнических параметров при воздействии низкоинтенсивного излучения факторов космического пространства [Текст] / К. В. Зольников, В. А. Скляр, В. П. Крюков, А. С. Грошев, К. А. Чубур // Моделирование систем и процессов. - 2015. - Т. 8. № 3. - С. 33-35.

Zol´nikov, K. V. Raschet izmeneniya skhemotekhnicheskikh parametrov pri vozdeystvii nizkointensivnogo izlucheniya faktorov kosmicheskogo prostranstva [Tekst] / K. V. Zol´nikov, V. A. Sklyar, V. P. Kryukov, A. S. Groshev, K. A. Chubur. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2015. - T. 8. № 3. - S. 33-35.