Modeling of systems and processesModeling of systems and processesМоделирование систем и процессов2219-07671530010.12737/24495EXPERIENCE OF FUNCTIONAL VERIFICATION OF THE BLOCK OF A MODERN CHIPОпыт функциональной верификации блока современной микросхемыКонаревМ. В.KonarevM. В.АО «Научно-исследовательский институт электронной техники»РоссияАО «Научно-исследовательский институт электронной техники»Russian Federation0702201707022017932125https://zh-szf.ru/en/nauka/article/15300/view
В статье рассматривается методика функциональной проверки блока современной системы на кристалле. Рассмотрены основные этапы такой проверки. Приведены практические примеры реализации для двуядерной системы на кристалле, содержащей процессор обработки сигналов и набор периферийных устройств.
In article the technique of the functional checkout of the unit of the modern system on a crystal is considered. The main stages of such check are considered. Practical examples of implementation for the two-nuclear system on a crystal containing the processor of signal processing and a set of peripheral devices are given.
Функциональная верификациясистема на кристаллемикропроцессорспецификацияпрограмма.the functional verificationsystem on a crystalthe microprocessorthe specificationthe program.
I. Введение Современные системы на кристалле (СнК) являются сверхбольшими интегральными схемами (СБИС), обычно содержащими несколько процессорных ядер (RISC-процессор, процессор цифровой обработки сигналов, различные аппаратные ускорители), многоуровневую память для хранения данных программ, кэш-память, шины, сопроцессор прямого доступа к памяти (ПДП), порты ввода вывода и набор системных периферийных устройств. Разработка подобных систем на кристалле является чрезвычайно сложной задачей. При этом наиболее трудоёмкой и важной задачей является функциональная верификация разрабатываемой СнК. По данным [1, 3] она занимает от 60 до 90 % времени разработки проекта в зависимости от сложности СнК и наличия необходимых СФ-блоков, а ошибки, пропущенные при функциональном контроле, могут приводить к многомиллионным убыткам [2]. В данной статье рассмотрим методику функциональной проверки одного из СФ-блоков СнК К1867ВЦ3АФ.
Немудров, В. Системы на кристалле. Проектирование и развитие [Текст] / В. Немудров, Г.Мартин. - М. : Техносфера, 2004. - 216 с.Nemudrov, V. Sistemy na kristalle. Proektirovanie i razvitie [Tekst] / V. Nemudrov, G.Martin. - M. : Tekhnosfera, 2004. - 216 s.Потапов, И. П. Автоматизация проектирования комплементарных микросхем с учетом одиночных событий [Текст] : монография / И. П. Потапов, В. М. Антимиров, К. И. Таперо. - Воронеж : ВГУ, 2007. - 165 с.Potapov, I. P. Avtomatizatsiya proektirovaniya komplementarnykh mikroskhem s uchetom odinochnykh sobytiy [Tekst] : monografiya / I. P. Potapov, V. M. Antimirov, K. I. Tapero. - Voronezh : VGU, 2007. - 165 s.Фортинский, Ю. К. Создание подсистемы верификации сложных цифровых микросхем с учетом радиационного воздействия [Текст] : монография / Ю. К. Фортинский, В. К. Зольников, М. В. Конарев. - Воронеж : ВГУ, 2011.- 207 с.Fortinskiy, Yu. K. Sozdanie podsistemy verifikatsii slozhnykh tsifrovykh mikroskhem s uchetom radiatsionnogo vozdeystviya [Tekst] : monografiya / Yu. K. Fortinskiy, V. K. Zol´nikov, M. V. Konarev. - Voronezh : VGU, 2011.- 207 s.Микросхемы интегральные 1867ВЦ3Ф. Техническое описание. КФДЛ.431282.002ТО [Электронный ресурс]. - Режим доступа: www.niiet.ru/product/product.htm. - Загл. с экрана.Mikroskhemy integral´nye 1867VTs3F. Tekhnicheskoe opisanie. KFDL.431282.002TO [Elektronnyy resurs]. - Rezhim dostupa: www.niiet.ru/product/product.htm. - Zagl. s ekrana.Vasudervan, S. Effective Functional Verification Principles and Processes / S. Vasudervan - Published by Springer, P.O. Box 17, 3300 AA Dordrecht, The Netherlands. - 2006. - 268 p.Vasudervan, S. Effective Functional Verification Principles and Processes / S. Vasudervan - Published by Springer, P.O. Box 17, 3300 AA Dordrecht, The Netherlands. - 2006. - 268 p.