NDT World NDT World В мире неразрушающего контроля 1609-3178 21948 10.12737/article_5b279d189feb81.99742063 Радиационный контроль Radiation Inspection Радиационный контроль Determination of Thickness of a Silver Covering on Finned Walls by the X-Ray Fluorescent Analysis Method Определение толщины серебряного покрытия на оребрённых стенках методом рентгенофлуоресцентного анализа Полянский Александр Михайлович Polyansky Aleksandr Михайлович p_a_m@list.ru Полянский Владислав Михайлович Polyansky Vladislav Михайлович Polyansky@bmstu.ru 21 2 38 41 https://zh-szf.ru/en/nauka/article/21948/view

стенках методом рентгенофлуоресцентного анализа Отработана методика определения толщины гальванического серебряного покрытия, нанесённого на оребрённую бронзовую стенку, методом рентгенофлуоресцентного анализа и получена зависимость толщины покрытия от концентрации серебра. Определена критическая толщина покрытия — граница применимости метода. Проведена экспериментальная проверка методики путём определения толщины покрытия на оребрённых стенках товарных проставок.

стенках методом рентгенофлуоресцентного анализа Отработана методика определения толщины гальванического серебряного покрытия, нанесённого на оребрённую бронзовую стенку, методом рентгенофлуоресцентного анализа и получена зависимость толщины покрытия от концентрации серебра. Определена критическая толщина покрытия — граница применимости метода. Проведена экспериментальная проверка методики путём определения толщины покрытия на оребрённых стенках товарных проставок.

 рентгенофлуоресцентный анализ характеристическое излучение оребрённая стенка гальваническое покрытие критическая толщина покрытия

Beeghiy H. F. - J. Electrochim. Soс. 1950. V. 97. P. 152. Beeghiy H. F. - J. Electrochim. Sos. 1950. V. 97. P. 152. Liebhafsky H. A., Zemany P. D. - Anal. Chem. 1956. V. 28. P. 455. Liebhafsky H. A., Zemany P. D. - Anal. Chem. 1956. V. 28. P. 455. Практическая растровая электронная микроскопия / Под ред. Дж. Гоулдстейна и Х. Яковица. - М.: Мир, 1978. - 656 с. Prakticheskaya rastrovaya elektronnaya mikroskopiya / Pod red. Dzh. Gouldsteyna i H. Yakovica. - M.: Mir, 1978. - 656 s. Либхафски Х. А., Пфейфер Г. Г., Уинслоу Э. Г., Земани П. Д. Применение поглощения и испускания рентгеновских лучей. - М.: Металлургия, 1964. - 391 с. Libhafski H. A., Pfeyfer G. G., Uinslou E. G., Zemani P. D. Primenenie pogloscheniya i ispuskaniya rentgenovskih luchey. - M.: Metallurgiya, 1964. - 391 s.