Modeling of systems and processes Modeling of systems and processes Моделирование систем и процессов 2219-0767 22505 10.12737/article_5b574c7fd2b815.56868481 Технические науки Технические науки CHARACTERIZATION AND MODELING OF SIGNALS IN CAD Характеризация и моделирование сигналов в САПР Скляр В. А. Sklyar V. А. Зольников Владимир Константинович Zolnikov V. K. Яньков Андрей Ильич Yankov A. Il'ich Чевычелов Юрий Акимович Chevychelov Yu. Akimovich Барабанов В. Ф. Barabanov V. F. АО "Научно-исследовательский институт электронной техники" Россия АО "Научно-исследовательский институт электронной техники" Russian Federation Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov ООО "НПП "Детектор" Россия LLC «SPE Detector» Russian Federation Воронежский государственный технический университет Voronezh State Technical University 11 1 62 67 https://zh-szf.ru/en/nauka/article/22505/view

В статье рассмотрены основные характеристики сигналов и процессов при проектировании микросхем с проектными нормами 0,09-0,18 мкм. Также описаны вопросы моделирования сигналов в системах автоматизированного проектирования (САПР), алгоритмы анализа шумов и связанных с ними эффектов.

В статье рассмотрены основные характеристики сигналов и процессов при проектировании микросхем с проектными нормами 0,09-0,18 мкм. Также описаны вопросы моделирования сигналов в системах автоматизированного проектирования (САПР), алгоритмы анализа шумов и связанных с ними эффектов.

 САПР микросхема сигнал характеризация СБИС

Фортинский, Ю. К. Создание подсистемы верификации сложных цифровых микросхем с учетом радиационного воздействия : монография / Ю. К. Фортинский, В. К. Зольников, М. В. Конарев. - Воронеж : Воронежский государственный университет, 2011.- 207 с. Fortinskiy, Yu. K. Sozdanie podsistemy verifikacii slozhnyh cifrovyh mikroshem s uchetom radiacionnogo vozdeystviya : monografiya / Yu. K. Fortinskiy, V. K. Zol'nikov, M. V. Konarev. - Voronezh : Voronezhskiy gosudarstvennyy universitet, 2011.- 207 s. Achkasov, V. N. Controlling means of development electronic component basis : monography / V. N. Achkasov, V. K. Zolnicov, T. P. Belyaeva. - Science Book Publishing House, Lorman, MS, USA, 2012. - 130 p. Achkasov, V. N. Controlling means of development electronic component basis : monography / V. N. Achkasov, V. K. Zolnicov, T. P. Belyaeva. - Science Book Publishing House, Lorman, MS, USA, 2012. - 130 p. Моделирование ионизационных эффектов и эффектов смещения в цифровых микросхемах для САПР / В. К. Зольников, В. В. Лавлинский, Ю. А. Чевычелов, Ю. С. Сербулов, В. И. Анциферова, В. Н. Ачкасов, Ю. Г. Табаков // Лесотехнический журнал. - 2014. - Т. 4, № 4 (16). - С. 280-291. Modelirovanie ionizacionnyh effektov i effektov smescheniya v cifrovyh mikroshemah dlya SAPR / V. K. Zol'nikov, V. V. Lavlinskiy, Yu. A. Chevychelov, Yu. S. Serbulov, V. I. Anciferova, V. N. Achkasov, Yu. G. Tabakov // Lesotehnicheskiy zhurnal. - 2014. - T. 4, № 4 (16). - S. 280-291. Методы схемотехнического моделирования КМОП СБИС с учетом радиации / К. В. Зольников, В. А. Скляр, В. И. Анциферова, С. А. Евдокимова // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2014. - № 2. - С. 5-9. Metody shemotehnicheskogo modelirovaniya KMOP SBIS s uchetom radiacii / K. V. Zol'nikov, V. A. Sklyar, V. I. Anciferova, S. A. Evdokimova // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2014. - № 2. - S. 5-9. Метод и алгоритм поиска дефектов для радиационно-стойких микросхем / К. В. Зольников, В. А. Скляр, В. П. Крюков, А. В. Ачкасов, В. И. Анциферова, С. А. Евдокимова // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2014. - № 2. - С. 10-13. Metod i algoritm poiska defektov dlya radiacionno-stoykih mikroshem / K. V. Zol'nikov, V. A. Sklyar, V. P. Kryukov, A. V. Achkasov, V. I. Anciferova, S. A. Evdokimova // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2014. - № 2. - S. 10-13. Проблемы методологии процессов САПР при проектировании электронной компонентной базы специального назначения для оценки радиационной стойкости / В. В. Лавлинский, А. Л. Савченко // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2016. - № 4. - С. 190-198. Problemy metodologii processov SAPR pri proektirovanii elektronnoy komponentnoy bazy special'nogo naznacheniya dlya ocenki radiacionnoy stoykosti / V. V. Lavlinskiy, A. L. Savchenko // Problemy razrabotki perspektivnyh mikro- i nanoelektronnyh sistem (MES). - 2016. - № 4. - S. 190-198. Расчет изменения схемотехнических параметров при воздействии низкоинтенсивного излучения факторов космического пространства / К. В. Зольников, В. А. Скляр, В. П. Крюков, А. С. Грошев, К. А. Чубур // Моделирование систем и процессов. - 2015. - Т. 8, № 3. - С. 33-35. Raschet izmeneniya shemotehnicheskih parametrov pri vozdeystvii nizkointensivnogo izlucheniya faktorov kosmicheskogo prostranstva / K. V. Zol'nikov, V. A. Sklyar, V. P. Kryukov, A. S. Groshev, K. A. Chubur // Modelirovanie sistem i processov. - 2015. - T. 8, № 3. - S. 33-35. Алгоритмическая основа моделирования отказов от воздействия тяжелых заряженных частиц в СБИС, выполненных по глубоко-субмикронным технологиям / К. В. Зольников, А. В. Ачкасов, А. И. Яньков, К. А. Чубур // Моделирование систем и процессов. - 2015. - Т. 8, № 3. - С. 36-38. Algoritmicheskaya osnova modelirovaniya otkazov ot vozdeystviya tyazhelyh zaryazhennyh chastic v SBIS, vypolnennyh po gluboko-submikronnym tehnologiyam / K. V. Zol'nikov, A. V. Achkasov, A. I. Yan'kov, K. A. Chubur // Modelirovanie sistem i processov. - 2015. - T. 8, № 3. - S. 36-38. Synopsys. - Режим доступа: https://www.synopsys.com/. - Загл. с экрана. Synopsys. - Rezhim dostupa: https://www.synopsys.com/. - Zagl. s ekrana.