Modeling of systems and processes Modeling of systems and processes Моделирование систем и процессов 2219-0767 22518 10.12737/article_5b577957756591.06987252 Технические науки Технические науки MICROPROCESSOR PROTECTION AGAINST SINGLE-POINT FAILURES Защита микропроцессоров от одиночных сбоев Смерек В. А. Smerek V. A. Антимиров В. М. Antimirov V. М. Кулай А. Ю. Kulay A. Ю. Савченко Андрей Леонидович Savchenko Andrey Леонидович АО "Научно-исследовательский институт электронной техники" Россия АО "Научно-исследовательский институт электронной техники" Russian Federation Уральский федеральный университет им. Первого Президента России Б.Н. Ельцина Ural Federal University named First President of Russia B. Yeltsin АО «Научно-исследовательский институт электронной техники» Воронеж Россия АО «Научно-исследовательский институт электронной техники» Воронеж Russian Federation АО «Научно-исследовательский институт микроприборов» (г. Москва) Россия АО «Научно-исследовательский институт микроприборов» (г. Москва) Russian Federation 11 2 71 77 https://zh-szf.ru/en/nauka/article/22518/view

В статье рассмотрены методы обеспечения сбоеустойчивости микросхем космического назначения к воздействию тяжелых заряженных частиц. Приводятся параметры микросхем, содержащих защиту от одиночных сбоев. Исследуется защита ПЗУ, ОЗУ, регистров и других элементов микросхем, а также потери площади кристалла при реализации методов защиты.

В статье рассмотрены методы обеспечения сбоеустойчивости микросхем космического назначения к воздействию тяжелых заряженных частиц. Приводятся параметры микросхем, содержащих защиту от одиночных сбоев. Исследуется защита ПЗУ, ОЗУ, регистров и других элементов микросхем, а также потери площади кристалла при реализации методов защиты.

 Автоматизация проектирования радиация сбои структурная избыточность временная избыточность информационная избыточность.

Модель радиационных эффектов воздействия тяжелых заряженных частиц в КМОП-элементах микросхем / В. К. Зольников, К. И. Таперо, В. А. Смерек, Т. П.Беляева // Программные продукты и системы. - №3(95). - 2011. - С. 17-22. Model' radiacionnyh effektov vozdeystviya tyazhelyh zaryazhennyh chastic v KMOP-elementah mikroshem / V. K. Zol'nikov, K. I. Tapero, V. A. Smerek, T. P.Belyaeva // Programmnye produkty i sistemy. - №3(95). - 2011. - S. 17-22. Смерек, В. А. Методы повышения производительности работы микроконтроллеров. Первый отечественный 16-разрядный микроконвертер / В. А. Смерек, В. К. Зольников, А. В. Ачкасов // Фундаментальные и прикладные проблемы техники и технологии. - 2012. - № 3. - С. 122-127. Smerek, V. A. Metody povysheniya proizvoditel'nosti raboty mikrokontrollerov. Pervyy otechestvennyy 16-razryadnyy mikrokonverter / V. A. Smerek, V. K. Zol'nikov, A. V. Achkasov // Fundamental'nye i prikladnye problemy tehniki i tehnologii. - 2012. - № 3. - S. 122-127. Методы проектирования сбоеустойчивых 8-разрядных микроконтроллеров к воздействию ТЗЧ / А. И. Яньков, В. А. Смерек, В. П. Крюков, В. К. Зольников, Д. М. Уткин // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2012. - №4 - С.73-79. Metody proektirovaniya sboeustoychivyh 8-razryadnyh mikrokontrollerov k vozdeystviyu TZCh / A. I. Yan'kov, V. A. Smerek, V. P. Kryukov, V. K. Zol'nikov, D. M. Utkin // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2012. - №4 - S.73-79. Зольников, В. К. Проектирование специальных СБИС и управление проектами их создания / В. К. Зольников, В. А. Смерек, Т. П. Беляева // Интеллектуальные технологии будущего. Естественный и искусственный интеллект.: материалы Всероссийской научной школы. - Воронеж : ИПЦ «Научная книга», 2011. - С. 218 - 220. Zol'nikov, V. K. Proektirovanie special'nyh SBIS i upravlenie proektami ih sozdaniya / V. K. Zol'nikov, V. A. Smerek, T. P. Belyaeva // Intellektual'nye tehnologii buduschego. Estestvennyy i iskusstvennyy intellekt.: materialy Vserossiyskoy nauchnoy shkoly. - Voronezh : IPC «Nauchnaya kniga», 2011. - S. 218 - 220. Выбор значений параметров, определяющих кинетику накопления заряда в диэлектрике при радиационном воздействии / В. К. Зольников, В. П. Крюков, А. В. Ачкасов, В. А. Скляр // Моделирование систем и процессов. - 2015. - Т. 8, № 3. - С. 31-33. Vybor znacheniy parametrov, opredelyayuschih kinetiku nakopleniya zaryada v dielektrike pri radiacionnom vozdeystvii / V. K. Zol'nikov, V. P. Kryukov, A. V. Achkasov, V. A. Sklyar // Modelirovanie sistem i processov. - 2015. - T. 8, № 3. - S. 31-33. Смерек, В. А. Реализация методов защиты от сбоев радиационного характера для восьми разрядного микроконтроллера / В. А. Смерек, В. К. Зольников, А. В. Ачкасов // Радиационная стойкость электронных систем «Стойкость-2011». : тезисы докладов 14 Всероссийской научно-практической конференции по радиационной стойкости электронных систем. - М. : МИФИ, 2011. - С. 86-87. Smerek, V. A. Realizaciya metodov zaschity ot sboev radiacionnogo haraktera dlya vos'mi razryadnogo mikrokontrollera / V. A. Smerek, V. K. Zol'nikov, A. V. Achkasov // Radiacionnaya stoykost' elektronnyh sistem «Stoykost'-2011». : tezisy dokladov 14 Vserossiyskoy nauchno-prakticheskoy konferencii po radiacionnoy stoykosti elektronnyh sistem. - M. : MIFI, 2011. - S. 86-87. Моделирование тока ионизации от воздействия тяжелых заряженных частиц при кластерных отказах структур микросхем / К.В. Зольников, А.И. Яньков, К.А. Чубур, А.С. Грошев, А.Л Савченко. // Радиационная стойкость электронных систем «Стойкость - 2016» : тезисы докладов 19 Всероссийской научно-практической конференции по радиационной стойкости электронных систем. - М. : МИФИ, 2016. - С. 111-112. Modelirovanie toka ionizacii ot vozdeystviya tyazhelyh zaryazhennyh chastic pri klasternyh otkazah struktur mikroshem / K.V. Zol'nikov, A.I. Yan'kov, K.A. Chubur, A.S. Groshev, A.L Savchenko. // Radiacionnaya stoykost' elektronnyh sistem «Stoykost' - 2016» : tezisy dokladov 19 Vserossiyskoy nauchno-prakticheskoy konferencii po radiacionnoy stoykosti elektronnyh sistem. - M. : MIFI, 2016. - S. 111-112. Смерек, В. А. Принципы защиты микросхем от одиночных сбоев в процессе проектирования [Текст] // В. А. Смерек, В. Н. Ачкасов // Моделирование систем и процессов. - 2011. - № 3. - С. 60-63. Smerek, V. A. Principy zaschity mikroshem ot odinochnyh sboev v processe proektirovaniya [Tekst] // V. A. Smerek, V. N. Achkasov // Modelirovanie sistem i processov. - 2011. - № 3. - S. 60-63. Смерек, В. А. Влияние одиночных сбоев на работу цифровых устройств / В. А. Смерек // Моделирование систем и процессов. - 2011. - № 4. - С. 68-71 Smerek, V. A. Vliyanie odinochnyh sboev na rabotu cifrovyh ustroystv / V. A. Smerek // Modelirovanie sistem i processov. - 2011. - № 4. - S. 68-71 Зольников, В. К. Результаты испытаний изделий к воздействию ТЗЧ / В.К. Зольников, В.А. Скляр // Моделирование систем и процессов. - 2016. - Т. 9, № 2. - С. 66-70. Zol'nikov, V. K. Rezul'taty ispytaniy izdeliy k vozdeystviyu TZCh / V.K. Zol'nikov, V.A. Sklyar // Modelirovanie sistem i processov. - 2016. - T. 9, № 2. - S. 66-70. Методы проектирования микросхем, стойких к одиночным событиям / В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек, Д. М. Уткин, К. В. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 3. - С. 17-20. Metody proektirovaniya mikroshem, stoykih k odinochnym sobytiyam / V. N. Achkasov, V. A. Smerek, D. M. Utkin, K. V. Zol'nikov // Modelirovanie sistem i processov. - 2012. - № 3. - S. 17-20.