<?xml version="1.0"?>
<!DOCTYPE article
PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.4 20190208//EN"
       "JATS-journalpublishing1.dtd">
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" article-type="research-article" dtd-version="1.4" xml:lang="en">
 <front>
  <journal-meta>
   <journal-id journal-id-type="publisher-id">Modeling of systems and processes</journal-id>
   <journal-title-group>
    <journal-title xml:lang="en">Modeling of systems and processes</journal-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>Моделирование систем и процессов</trans-title>
    </trans-title-group>
   </journal-title-group>
   <issn publication-format="print">2219-0767</issn>
  </journal-meta>
  <article-meta>
   <article-id pub-id-type="publisher-id">30346</article-id>
   <article-id pub-id-type="doi">10.12737/article_5d639c8146de96.84895679</article-id>
   <article-categories>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="ru">
     <subject>Технические науки</subject>
    </subj-group>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="en">
     <subject></subject>
    </subj-group>
    <subj-group>
     <subject>Технические науки</subject>
    </subj-group>
   </article-categories>
   <title-group>
    <article-title xml:lang="en">MATHEMATICAL MODELS OF RADIATION EFFECTS OF ELECTRONIC COMPONENTS FOR SPACE APPLICATIONS</article-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>Математические модели дозовых эффектов электронной компонентной базы космического назначения</trans-title>
    </trans-title-group>
   </title-group>
   <contrib-group content-type="authors">
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Ягодкин</surname>
       <given-names>Александр Сергеевич</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Yagodkin</surname>
       <given-names>A. Sergeevich</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-1"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Анциферова</surname>
       <given-names>Валентина Ивановна</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Antsiferova</surname>
       <given-names>V. Ivanovna</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-1"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Владимиров</surname>
       <given-names>Д. И.</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Vladimirov</surname>
       <given-names>D. I.</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-1"/>
    </contrib>
   </contrib-group>
   <aff-alternatives id="aff-1">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова</institution>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov</institution>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <volume>12</volume>
   <issue>1</issue>
   <fpage>93</fpage>
   <lpage>101</lpage>
   <self-uri xlink:href="https://zh-szf.ru/en/nauka/article/30346/view">https://zh-szf.ru/en/nauka/article/30346/view</self-uri>
   <abstract xml:lang="ru">
    <p>Рассмотрены современные математические модели дозовых эффектов ионизирующего излучения, описание видов космического излучения, виды отказов работы микросхем. Особенности развития современных средств автоматизации проектирования элементной базы космического назначения с учетом воздействия космического излучения.</p>
   </abstract>
   <trans-abstract xml:lang="en">
    <p>Рассмотрены современные математические модели дозовых эффектов ионизирующего излучения, описание видов космического излучения, виды отказов работы микросхем. Особенности развития современных средств автоматизации проектирования элементной базы космического назначения с учетом воздействия космического излучения.</p>
   </trans-abstract>
   <kwd-group xml:lang="ru">
    <kwd>САПР</kwd>
    <kwd>микропроцессоры</kwd>
    <kwd>эффекты космического воздействия</kwd>
    <kwd>низко интенсивное ионизирующее излучение</kwd>
    <kwd>процессы моделирования и проектирования</kwd>
    <kwd>радиационно-стойкие микросхемы.</kwd>
   </kwd-group>
  </article-meta>
 </front>
 <body>
  <p></p>
 </body>
 <back>
  <ref-list>
   <ref id="B1">
    <label>1.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Ачкасов, В. Н. Средства автоматизации проектирования радиационно-стойкой элементарной базы и унифицированных модулей вычислительных комплексов бортовых систем управления / В. Н. Ачкасов, В. М. Антимиров, П. Р. Машевич // Материалы Российской конференции «Стойкость-2005». - Москва, МИФИ. -2005. - С. 251.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Achkasov, V. N. Sredstva avtomatizacii proektirovaniya radiacionno-stoykoy elementarnoy bazy i unificirovannyh moduley vychislitel'nyh kompleksov bortovyh sistem upravleniya / V. N. Achkasov, V. M. Antimirov, P. R. Mashevich // Materialy Rossiyskoy konferencii «Stoykost'-2005». - Moskva, MIFI. -2005. - S. 251.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B2">
    <label>2.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Зыков, В. М. Моделирование и экспериментальные исследования долговременных изменений параметров кремниевых структур при ионизирующем воздействии : дис. … д-ра техн. наук : 01.04.10 / В. М. Зыков.  Томск, 2002. - 250 с.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Zykov, V. M. Modelirovanie i eksperimental'nye issledovaniya dolgovremennyh izmeneniy parametrov kremnievyh struktur pri ioniziruyuschem vozdeystvii : dis. … d-ra tehn. nauk : 01.04.10 / V. M. Zykov.  Tomsk, 2002. - 250 s.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B3">
    <label>3.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Скляр, В.А. Моделирование эффектов низкоинтенсивного ионизирующего излучения в СБИС / В. А. Скляр. В. К. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2014. - №2. - С. 58-61.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Sklyar, V.A. Modelirovanie effektov nizkointensivnogo ioniziruyuschego izlucheniya v SBIS / V. A. Sklyar. V. K. Zol'nikov // Modelirovanie sistem i processov. - 2014. - №2. - S. 58-61.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B4">
    <label>4.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Крюков, В. П. Моделирование изменения параметров ИС при воздействии дозы ИИ / В. П. Крюков // Системные проблемы качества, математического моделирования и информационных технологий: труды Международной научно-технической конференции. - М., 2002. - С.93-95.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Kryukov, V. P. Modelirovanie izmeneniya parametrov IS pri vozdeystvii dozy II / V. P. Kryukov // Sistemnye problemy kachestva, matematicheskogo modelirovaniya i informacionnyh tehnologiy: trudy Mezhdunarodnoy nauchno-tehnicheskoy konferencii. - M., 2002. - S.93-95.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B5">
    <label>5.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Петров, А. С. Исследование влияния низкоинтенсивного облучения при повышенной температуре на деградацию БиКМОП операционных усилителей / А. С. Петров, К. И. Таперо, В. Н. Улимов // Вопросы атомной науки и техники. Сер.: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2018. - Вып.1. - С. 31-34.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Petrov, A. S. Issledovanie vliyaniya nizkointensivnogo oblucheniya pri povyshennoy temperature na degradaciyu BiKMOP operacionnyh usiliteley / A. S. Petrov, K. I. Tapero, V. N. Ulimov // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Ser.: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2018. - Vyp.1. - S. 31-34.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B6">
    <label>6.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Петров, А. С. Влияние повышенной температуры на деградацию БиКМОП операционных усилителей при низкоинтенсивном облучении / А. С. Петров, К. И. Таперо, В. Н. Улимов // 21-я Всероссийская научно-техническая конференция «Радиационная стойкость электронных систем» - «Стойкость-2018» : тезисы докладов. - Лыткарино,2018. - С. 93-94.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Petrov, A. S. Vliyanie povyshennoy temperatury na degradaciyu BiKMOP operacionnyh usiliteley pri nizkointensivnom obluchenii / A. S. Petrov, K. I. Tapero, V. N. Ulimov // 21-ya Vserossiyskaya nauchno-tehnicheskaya konferenciya «Radiacionnaya stoykost' elektronnyh sistem» - «Stoykost'-2018» : tezisy dokladov. - Lytkarino,2018. - S. 93-94.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B7">
    <label>7.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">РДВ 319.03.37-2000. Изделия электронной техники. Микросхемы интегральные и полупроводниковые приборы. Инженерные методы ускоренных испытаний на стойкость к воздействию низко интенсивных протонного и электронного излучений космического пространства. - М., 2000. - 36 с.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">RDV 319.03.37-2000. Izdeliya elektronnoy tehniki. Mikroshemy integral'nye i poluprovodnikovye pribory. Inzhenernye metody uskorennyh ispytaniy na stoykost' k vozdeystviyu nizko intensivnyh protonnogo i elektronnogo izlucheniy kosmicheskogo prostranstva. - M., 2000. - 36 s.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B8">
    <label>8.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">РД 134-0196-2011. Аппаратура радиоэлектронная бортовая космических аппаратов. Типовая методика контроля стойкости к ионизирующим излучениям космического пространства в части дозовых эффектов, отбора и отбраковки биполярных электро-радио изделий. - М., 2011. - 40 c.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">RD 134-0196-2011. Apparatura radioelektronnaya bortovaya kosmicheskih apparatov. Tipovaya metodika kontrolya stoykosti k ioniziruyuschim izlucheniyam kosmicheskogo prostranstva v chasti dozovyh effektov, otbora i otbrakovki bipolyarnyh elektro-radio izdeliy. - M., 2011. - 40 c.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B9">
    <label>9.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Романенко, А. А. Влияние ионизирующего излучения низкой интенсивности на биполярные изделия электронной техники / А. А. Романенко // Вопросы атомной науки и техники. Сер.: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2002. - Вып. 4. - С. 121-132.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Romanenko, A. A. Vliyanie ioniziruyuschego izlucheniya nizkoy intensivnosti na bipolyarnye izdeliya elektronnoy tehniki / A. A. Romanenko // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Ser.: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2002. - Vyp. 4. - S. 121-132.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B10">
    <label>10.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Таперо, К. И. Радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения : монография / К. И. Таперо, В. Н. Улимов, А. М. Членов. - М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2012. - 304 с.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Tapero, K. I. Radiacionnye effekty v kremnievyh integral'nyh shemah kosmicheskogo primeneniya : monografiya / K. I. Tapero, V. N. Ulimov, A. M. Chlenov. - M.: BINOM. Laboratoriya znaniy, 2012. - 304 s.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
  </ref-list>
 </back>
</article>
