Actual directions of scientific researches of the XXI century: theory and practiceActual directions of scientific researches of the XXI century: theory and practiceАктуальные направления научных исследований XXI века: теория и практика2308-8877319410.12737/5194Секция: Теория управления и информационные системыSection: Theory of Management and Information SystemsСекция: Теория управления и информационные системыProtection circuits from the effects of heavy charged particlesЗащиты микросхем от воздействия тяжелых заряженных частицЗольниковВладимир КонстантиновичZolnikovVladimir Константиновичwkz@rambler.ru071020140710201424395398https://zh-szf.ru/en/nauka/article/3194/view
Рассмотрены методы обеспечения стойкости микросхем к воздействию тяжелых заряженных частиц за счет избытка аппаратных, информационных и программных ресурсов.
Methods of ensuring the chip resistance to impact of heavy charged particles due to an excess of hardware, software and information resources.
Одной из первых областей, на которой следует сосредоточиться внимание, прежде всего, является ячейки ОЗУ. Они наиболее критичны к одиночным сбоям, из-за относительно большой пощади и «тяжести отказа» - потери информации. Вначале проводится оценка площади ОЗУ без средств защиты ячеек, затем со «специальными» ячейками - т.е. с применением схемотехнических методов и, наконец, оценивается возрастание площади при резервирования ячеек, которые в общем случае могут быть как обычные, так и «специальные». После этого следует принять решение каким методом следует воспользоваться.
Стешенко В. и др. Проектирование СБИС типа "Система на кристалле". Маршрут проектирования. Синтез схемы. // Электронные компоненты. 2009. №1.Steshenko V. i dr. Proektirovanie SBIS tipa "Sistema na kristalle". Marshrut proektirovaniya. Sintez skhemy.. Elektronnye komponenty. 2009. №1.Яньков, А.И.. Состояние и перспективы разработки радиационно-стойкой элементной базы во ФГУП «НИИЭТ» / А.И.Яньков, В.П.Крюков, Д.Е. Чибисов // Научно-технический журнал «Моделирование систем и процессов». Выпуск 1-2. - ВГЛТА: 2010. -С. 99-102.Yan´kov, A.I.. Sostoyanie i perspektivy razrabotki radiatsionno-stoykoy elementnoy bazy vo FGUP «NIIET» / A.I.Yan´kov, V.P.Kryukov, D.E. Chibisov. Nauchno-tekhnicheskiy zhurnal «Modelirovanie sistem i protsessov». Vypusk 1-2. - VGLTA: 2010. -S. 99-102.Зольников, В.К.. Формирование библиотек типовых элементов и СФ блоков / В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. 2011. № 3. С. 27-29.Zol´nikov, V.K.. Formirovanie bibliotek tipovykh elementov i SF blokov / V.K. Zol´nikov. Modelirovanie sistem i protsessov. 2011. № 3. S. 27-29.Зольников, В.К.. Разработка схемотехнического и конструктивно-технологического базиса ЭКБ / В.К.Зольников, А.А. Стоянов // Моделирование систем и процессов. 2011. № 1-2. С. 28-30.Zol´nikov, V.K.. Razrabotka skhemotekhnicheskogo i konstruktivno-tekhnologicheskogo bazisa EKB / V.K.Zol´nikov, A.A. Stoyanov. Modelirovanie sistem i protsessov. 2011. № 1-2. S. 28-30.Яньков А.И. Методы обеспечения сбоеустойчивости к одиночным событиям в процессе проектирования для микропроцессоров K1830BE32УМ и 1830ВЕ32У / А.И.Яньков, В.А. Смерек, В.П.Крюков, В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. 2012. № 1. С. 92-95.Yan´kov A.I. Metody obespecheniya sboeustoychivosti k odinochnym sobytiyam v protsesse proektirovaniya dlya mikroprotsessorov K1830BE32UM i 1830VE32U / A.I.Yan´kov, V.A. Smerek, V.P.Kryukov, V.K. Zol´nikov. Modelirovanie sistem i protsessov. 2012. № 1. S. 92-95.Зольников В.К. Проектирование современной микрокомпонентной базы с учетом одиночных событий радиационного воздействия / В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. 2012. № 1. С. 27-30.Zol´nikov V.K. Proektirovanie sovremennoy mikrokomponentnoy bazy s uchetom odinochnykh sobytiy radiatsionnogo vozdeystviya / V.K. Zol´nikov. Modelirovanie sistem i protsessov. 2012. № 1. S. 27-30.