Modeling of systems and processes Modeling of systems and processes Моделирование систем и процессов 2219-0767 33828 10.12737/2219-0767-2019-12-3-42-47 Технические науки Технические науки RESULTS OF STUDIES OF ULTRAFAST RECTIFIER DIODES UNDER THE INFLUENCE OF RADIATION Результаты исследований ультрабыстрых выпрямительных диодов при воздействии радиации Зольников Владимир Константинович Zolnikov V. K. Яньков Андрей Ильич Yankov A. Il'ich Кулай А. Ю. Kulay A. Ю. Савченко Андрей Леонидович Savchenko Andrey Леонидович Ягодкин Александр Сергеевич Yagodkin A. Sergeevich Анциферова Валентина Ивановна Antsiferova V. Ivanovna Евдокимова Светлана Анатольевна Evdokimova Svetlana Anatol'evna

кандидат технических наук;

candidate of technical sciences;

 Скворцова Татьяна Владимировна Skvortsova Tatyana Vladimirovna Маклакова Елена Альбертовна Maklakova Elena Al'bertovna elena.maklakova5@mail.ru Илунина Анна Александровна Ilunina Anna Aleksandrovna ailunina@yandex.ru Квасов Олег Николаевич Kvasov Oleg Nikolaevich Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov ООО "НПП "Детектор" Россия LLC «SPE Detector» Russian Federation АО «Научно-исследовательский институт электронной техники» Воронеж Россия АО «Научно-исследовательский институт электронной техники» Воронеж Russian Federation АО «Научно-исследовательский институт микроприборов» (г. Москва) Россия АО «Научно-исследовательский институт микроприборов» (г. Москва) Russian Federation 12 3 42 47 https://zh-szf.ru/en/nauka/article/33828/view

В статье представлены результаты исследований ультрабыстрых выпрямительных диодов, предназначенных для использования в выпрямителях высокой частоты, модуляторах, преобразователях, формирователях импульсов, ограничителях и других импульсных устройствах при воздействии радиации. Приведены схемы измерения тока и напряжения диодов при воздействии специальных факторов.

The article presents the results of studies of ultrafast rectifier diodes intended for use in high-frequency rectifiers, modulators, converters, pulse transducers, limiters and other pulse devices under the influence of radiation. The schemes of measuring the current and voltage of diodes under the influence of special factors are given

 Ультрабыстрые выпрямительные диоды радиация стойкость радиоэлектроника КМОП-технология время потери работоспособности ultrafast rectifier diodes radiation durability radioelectronics CMOS technology time of loss of efficiency

Ачкасов, А. В. Создание отечественной проектной среды разработки микроэлектронных систем / А. В. Ачкасов, A. И. Яньков // Приводная техника. - 2006. - № 5. - С. 28-30. Achkasov, A. V. Sozdanie otechestvennoy proektnoy sredy razrabotki mikroelektronnyh sistem / A. V. Achkasov, A. I. Yan'kov // Privodnaya tehnika. - 2006. - № 5. - S. 28-30. Кривов, А. С. Методическое и техническое обеспечение испытаний изделий электронной промышленности на стойкость к электростатическим разрядам и одиночным импульсам напряжения / А. С. Кривов, В. А. Тухас, А. И. Яньков // Петербургский журнал электроники. - 2017. - № 2-3 (87-88). - С. 111-116. Krivov, A. S. Metodicheskoe i tehnicheskoe obespechenie ispytaniy izdeliy elektronnoy promyshlennosti na stoykost' k elektrostaticheskim razryadam i odinochnym impul'sam napryazheniya / A. S. Krivov, V. A. Tuhas, A. I. Yan'kov // Peterburgskiy zhurnal elektroniki. - 2017. - № 2-3 (87-88). - S. 111-116. Крюков, В. П. Проблемы моделирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения в САПР / В. П. Крюков, К. В. Зольников, С. А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 4. - С. 41-44. Kryukov, V. P. Problemy modelirovaniya bazovyh elementov KMOP BIS dvoynogo naznacheniya v SAPR / V. P. Kryukov, K. V. Zol'nikov, S. A. Evdokimova // Modelirovanie sistem i processov. - 2013. - № 4. - S. 41-44. Схемотехнический базис и проверка микросхем на работоспособность / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, А. В. Фомичев, В. Н. Чикин, А. В. Ачкасов, В. Ф. Зинченко // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 4. - С. 25-30. Shemotehnicheskiy bazis i proverka mikroshem na rabotosposobnost' / V. K. Zol'nikov, S. A. Evdokimova, A. V. Fomichev, V. N. Chikin, A. V. Achkasov, V. F. Zinchenko // Modelirovanie sistem i processov. - 2018. - T. 11, № 4. - S. 25-30. Практические методики выполнения верификации проектирования микросхем / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, Т. В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 25-30. Prakticheskie metodiki vypolneniya verifikacii proektirovaniya mikroshem / V. K. Zol'nikov, S. A. Evdokimova, T. V. Skvorcova // Modelirovanie sistem i processov. - 2019. - T. 12, № 1. - S. 25-30. Зольников, В. К. Моделирование сбора заряда при воздействии тяжелых заряженных частиц в КМОП элементах микросхем / В. К. Зольников, И. П. Потапов, К. И. Таперо // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2010. - № 1. - С. 275-278. Zol'nikov, V. K. Modelirovanie sbora zaryada pri vozdeystvii tyazhelyh zaryazhennyh chastic v KMOP elementah mikroshem / V. K. Zol'nikov, I. P. Potapov, K. I. Tapero // Problemy razrabotki perspektivnyh mikro- i nanoelektronnyh sistem (MES). - 2010. - № 1. - S. 275-278. Моделирование ионизационных эффектов и эффектов смещения в цифровых микросхемах для САПР / В. К. Зольников, В. В. Лавлинский, Ю. А. Чевычелов, Ю. С. Сербулов, В. И. Анциферова, В. Н. Ачкасов, Ю. Г. Табаков // Лесотехнический журнал. - 2014. - Т. 4, № 4 (16). - С. 280-291. Modelirovanie ionizacionnyh effektov i effektov smescheniya v cifrovyh mikroshemah dlya SAPR / V. K. Zol'nikov, V. V. Lavlinskiy, Yu. A. Chevychelov, Yu. S. Serbulov, V. I. Anciferova, V. N. Achkasov, Yu. G. Tabakov // Lesotehnicheskiy zhurnal. - 2014. - T. 4, № 4 (16). - S. 280-291. Смерек, В. К. Модель физических процессов в элементах СБИС при воздействии тяжелых заряженных частиц / В. К. Смерек, В. К. Зольников, К. И. Таперо // Моделирование систем и процессов. - 2010. - № 1-2. - С. 41-48. Smerek, V. K. Model' fizicheskih processov v elementah SBIS pri vozdeystvii tyazhelyh zaryazhennyh chastic / V. K. Smerek, V. K. Zol'nikov, K. I. Tapero // Modelirovanie sistem i processov. - 2010. - № 1-2. - S. 41-48. Зольников, В. К. Методика проектирования радиационно-стойких интегральных схем / В. К. Зольников, В. Н. Ачкасов, В. П. Крюков // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2004. - № 1-2. - С. 57-60. Zol'nikov, V. K. Metodika proektirovaniya radiacionno-stoykih integral'nyh shem / V. K. Zol'nikov, V. N. Achkasov, V. P. Kryukov // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2004. - № 1-2. - S. 57-60. Зольников, В. К. Расчетно-экспериментальная оценка стойкости КМОП ИС к ионизирующим излучениям / В. К. Зольников, В. П. Крюков // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2002. - № 4. - С. 104-110. Zol'nikov, V. K. Raschetno-eksperimental'naya ocenka stoykosti KMOP IS k ioniziruyuschim izlucheniyam / V. K. Zol'nikov, V. P. Kryukov // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2002. - № 4. - S. 104-110. Алгоритмическая основа моделирования отказов от воздействия тяжелых заряженных частиц в СБИС, выполненных по глубоко-субмикронным технологиям / К. В. Зольников, А. В. Ачкасов, А. И. Яньков, К. А. Чубур // Моделирование систем и процессов. - 2015. - Т. 8, № 3. - С. 36-38. Algoritmicheskaya osnova modelirovaniya otkazov ot vozdeystviya tyazhelyh zaryazhennyh chastic v SBIS, vypolnennyh po gluboko-submikronnym tehnologiyam / K. V. Zol'nikov, A. V. Achkasov, A. I. Yan'kov, K. A. Chubur // Modelirovanie sistem i processov. - 2015. - T. 8, № 3. - S. 36-38.