Modeling of systems and processes Modeling of systems and processes Моделирование систем и процессов 2219-0767 34845 10.12737/2219-0767-2020-12-4-42-46 Технические науки Технические науки RESULTS OF RELIABILITY EVALUATION OF THE 1921VK035 CHIP Результаты оценки надежности микросхемы 1921ВК035 Зольников Владимир Константинович Zolnikov V. K. Евдокимова Светлана Анатольевна Evdokimova Svetlana Anatol'evna

кандидат технических наук;

candidate of technical sciences;

 Грошева Екатерина Владимировна Grosheva Ekaterina Vladimirovna Яньков Андрей Ильич Yankov A. Il'ich Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова Россия Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov Russian Federation АО "Научно-исследовательский институт электронной техники" Россия АО "Научно-исследовательский институт электронной техники" Russian Federation ООО "НПП "Детектор" Россия LLC «SPE Detector» Russian Federation 12 4 42 46 https://zh-szf.ru/en/nauka/article/34845/view

В статье рассматривается модель оценки надежности интегральных схем (ИС) в зависимости от температуры кристалла и окружающей среды. Проведено расчетно-экспериментальное прогнозирование надежности микросхем 1921ВК035, получены зависимости минимальной наработки до отказа изделия от температуры кристалла ИС 1921ВК035 и гамма-процентного срока сохраняемости ИС от температуры окружающей среды. Полученные значения данных параметров микросхем соответствуют требованиям ОСТ В 11 0998-99.

The article considers a model for evaluating the reliability of integrated circuits (IC) depending on the temperature of the crystal and the environment. The calculation and experimental prediction of the reliability of the 1921VK035 chips was carried out, the dependences of the minimum time to failure of the product on the temperature of the 1921VK035 IC crystal and the gamma-percent life of the IC on the ambient temperature were obtained. The obtained values of these chip parameters meet the requirements of ISO 11 0998-99.

 Интегральные микросхемы 1921ВК035 надежность безотказность гамма-процентный срок сохраняемости integrated circuits 1921VK035 reliability reliability gamma-percent shelf life

РД 11 0755-90. Микросхемы интегральные. Методы ускоренных испытаний на безотказность и долговечность. RD 11 0755-90. Mikroshemy integral'nye. Metody uskorennyh ispytaniy na bezotkaznost' i dolgovechnost'. Глухов, А. В. Модели и алгоритмы проектирования микросхем преобразователей напряжения : дис. … канд. техн. наук: 05.13.12 / А. В. Глухов. - Новосибирск, 2013. - 186 с. Gluhov, A. V. Modeli i algoritmy proektirovaniya mikroshem preobrazovateley napryazheniya : dis. … kand. tehn. nauk: 05.13.12 / A. V. Gluhov. - Novosibirsk, 2013. - 186 s. Конструкция и технология микросхем космического назначения / В. К. Зольников, А. Ю. Кулай, И. И. Струков, К. А. Чубур, Ю. А. Чевычелов, С. В. Гречаный // Информационно-сенсорные системы в теплофизических исследованиях : сборник трудов научной конференции. - Тамбов: ТГТУ, 2018. - С. 229-232. Konstrukciya i tehnologiya mikroshem kosmicheskogo naznacheniya / V. K. Zol'nikov, A. Yu. Kulay, I. I. Strukov, K. A. Chubur, Yu. A. Chevychelov, S. V. Grechanyy // Informacionno-sensornye sistemy v teplofizicheskih issledovaniyah : sbornik trudov nauchnoy konferencii. - Tambov: TGTU, 2018. - S. 229-232. Ачкасов, В. Н. Обобщенный критерий надежности интегральных схем и методы защиты от одиночных сбоев в цифровых устройствах на стадии проектирования / В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек, Д. М. Уткин // Политематический сетевой электронный научный журнал Кубанского государственного аграрного университета. - 2012. - № 76. - С. 387-398. Achkasov, V. N. Obobschennyy kriteriy nadezhnosti integral'nyh shem i metody zaschity ot odinochnyh sboev v cifrovyh ustroystvah na stadii proektirovaniya / V. N. Achkasov, V. A. Smerek, D. M. Utkin // Politematicheskiy setevoy elektronnyy nauchnyy zhurnal Kubanskogo gosudarstvennogo agrarnogo universiteta. - 2012. - № 76. - S. 387-398. Яньков, А. И. Методы испытаний современных СБИС / А. И. Яньков, В. К. Зольников, В. Е. Межов // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 1. - С. 67-69. Yan'kov, A. I. Metody ispytaniy sovremennyh SBIS / A. I. Yan'kov, V. K. Zol'nikov, V. E. Mezhov // Modelirovanie sistem i processov. - 2013. - № 1. - S. 67-69. Москалев, В. Ю. Конструктивно-технологические методы повышения радиационной стойкости биполярных и КМОП-интегральных схем : дис. … канд. техн. наук: 05.27.01 / В. Ю. Москалев. - Воронеж, 2007. - 115 с. Moskalev, V. Yu. Konstruktivno-tehnologicheskie metody povysheniya radiacionnoy stoykosti bipolyarnyh i KMOP-integral'nyh shem : dis. … kand. tehn. nauk: 05.27.01 / V. Yu. Moskalev. - Voronezh, 2007. - 115 s. Тимошенков, С. П. Основы теории надежности : учебник и практикум / С. П. Тимошенков, Б. М. Симонов, В. Н. Горошко. - М. : Юрайт, 2018. - 444 с. Timoshenkov, S. P. Osnovy teorii nadezhnosti : uchebnik i praktikum / S. P. Timoshenkov, B. M. Simonov, V. N. Goroshko. - M. : Yurayt, 2018. - 444 s. ОСТ 11 0998-99. Микросхемы интегральные. Общие технические условия. - М., 2000. - 139 с. OST 11 0998-99. Mikroshemy integral'nye. Obschie tehnicheskie usloviya. - M., 2000. - 139 s. Определение вероятности безотказной работы при структурной оптимизации элементов сложных функциональных блоков в САПР / В. А. Смерек, К. В. Зольников, А. И. Яньков, М. В. Конарев, Н. А. Орликовский, А. В. Ачкасов // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 3. - С. 35-37. Opredelenie veroyatnosti bezotkaznoy raboty pri strukturnoy optimizacii elementov slozhnyh funkcional'nyh blokov v SAPR / V. A. Smerek, K. V. Zol'nikov, A. I. Yan'kov, M. V. Konarev, N. A. Orlikovskiy, A. V. Achkasov // Modelirovanie sistem i processov. - 2013. - № 3. - S. 35-37. Машевич, П. Р. Инструментальные средства автоматизации проектирования изделий микроэлектроники дизайн-центра / П. Р. Машевич, В. К. Зольников, К. И. Таперо. - Воронеж : ВГУ, 2006. - 179 с. Mashevich, P. R. Instrumental'nye sredstva avtomatizacii proektirovaniya izdeliy mikroelektroniki dizayn-centra / P. R. Mashevich, V. K. Zol'nikov, K. I. Tapero. - Voronezh : VGU, 2006. - 179 s. Методы создания сбоеустойчивых микросхем / В. К. Зольников, А. Ю. Кулай, А. Л. Савченко, И. И. Струков, К. А. Чубур, Ю. А. Чевычелов, А. И. Яньков // Информационно-сенсорные системы в теплофизических исследованиях : сборник трудов конференции. - Тамбов: ТГТУ, 2018. - С. 219-221. Metody sozdaniya sboeustoychivyh mikroshem / V. K. Zol'nikov, A. Yu. Kulay, A. L. Savchenko, I. I. Strukov, K. A. Chubur, Yu. A. Chevychelov, A. I. Yan'kov // Informacionno-sensornye sistemy v teplofizicheskih issledovaniyah : sbornik trudov konferencii. - Tambov: TGTU, 2018. - S. 219-221.