Modeling of systems and processes

Моделирование систем и процессов

2219-0767

37760

10.12737/2219-0767-2020-13-1-39-45

Технические науки

METHODS OF RELIABILITY CONTROL IN CHIP DEVELOPMENT

Методы контроля надежности при разработке микросхем

Зольников

Константин Владимирович

Zolnikov

Konstantin Vladimirovich

Евдокимова

Светлана Анатольевна

Evdokimova

Svetlana Anatol'evna

кандидат технических наук;

candidate of technical sciences;

Скворцова

Татьяна Владимировна

Skvortsova

Tatyana Vladimirovna

Гриднев

А. Е.

Gridnev

A. E.

Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова Россия Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov Russian Federation

Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov

13 1 39 45

https://zh-szf.ru/en/nauka/article/37760/view

Статья рассматривает вопросы контроля надежности при разработке микросхем. Приводится схема контроля надежности, которая предназначена для анализа состояний мажорирующих элементов и учета сбоев. В работе описываются отбраковочные испытания, последовательность их проведения, а так же представлен результат анализа методов и условий проведения испытаний.

The article considers the issues of reliability control in the development of chips. A reliability control scheme is provided for analyzing the States of major elements and accounting for failures. The paper describes the rejection tests, the sequence of their conduct, as well as the results of the analysis of methods and conditions of testing

Микросхемы надежность проектирование интерфейс отбраковочные испытания.

ICS reliability design interface burn-in testing

Конструкция и технология микросхем космического назначения / В. К. Зольников, А. Ю. Кулай, И. И. Струков, К. А. Чубур, Ю. А. Чевычелов, С. В. Гречаный // Информационно-сенсорные системы в теплофизических исследованиях: сборник трудов научной конференции. - Тамбов: ТГТУ, 2018. - С. 229-232.

Konstrukciya i tehnologiya mikroshem kosmicheskogo naznacheniya / V. K. Zol'nikov, A. Yu. Kulay, I. I. Strukov, K. A. Chubur, Yu. A. Chevychelov, S. V. Grechanyy // Informacionno-sensornye sistemy v teplofizicheskih issledovaniyah: sbornik trudov nauchnoy konferencii. - Tambov: TGTU, 2018. - S. 229-232.

Яньков, А.И. Методы испытаний современных СБИС / А.И. Яньков, В.К. Зольников, В.Е. Межов // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 1. - С. 67-69.

Yan'kov, A.I. Metody ispytaniy sovremennyh SBIS / A.I. Yan'kov, V.K. Zol'nikov, V.E. Mezhov // Modelirovanie sistem i processov. - 2013. - № 1. - S. 67-69.

Обобщенная методика проектирования технических блоков высоконадежных программно-технических комплексов специального назначения / В.К. Зольников, Д.М. Уткин, С.А. Евдокимова, В.И. Анциферова // Радиационная стойкость электронных систем «Стойкость-2014» : сборник тезисов докладов 17-й Всероссийской научно-практической конференции по радиационной стойкости электронных систем. - М. : Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2014. - С. 71-72.

Obobschennaya metodika proektirovaniya tehnicheskih blokov vysokonadezhnyh programmno-tehnicheskih kompleksov special'nogo naznacheniya / V.K. Zol'nikov, D.M. Utkin, S.A. Evdokimova, V.I. Anciferova // Radiacionnaya stoykost' elektronnyh sistem «Stoykost'-2014» : sbornik tezisov dokladov 17-y Vserossiyskoy nauchno-prakticheskoy konferencii po radiacionnoy stoykosti elektronnyh sistem. - M. : Nacional'nyy issledovatel'skiy yadernyy universitet «MIFI», 2014. - S. 71-72.

Схемотехнический базис и проверка микросхем на работоспособность / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, А.В. Фомичев, В.Н. Чикин, А.В. Ачкасов, В.Ф. Зинченко // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 4. - С. 25-30.

Shemotehnicheskiy bazis i proverka mikroshem na rabotosposobnost' / V.K. Zol'nikov, S.A. Evdokimova, A.V. Fomichev, V.N. Chikin, A.V. Achkasov, V.F. Zinchenko // Modelirovanie sistem i processov. - 2018. - T. 11, № 4. - S. 25-30.

Отбраковочные испытания как средство повышения надежности партий ИС / М. Горлов, А. Строгонов, С. Арсентьев, В. Емельянов, В. Плебанович // Технологии в электронной промышленности. - 2006. - № 1 (7). - С. 70-75.

Otbrakovochnye ispytaniya kak sredstvo povysheniya nadezhnosti partiy IS / M. Gorlov, A. Strogonov, S. Arsent'ev, V. Emel'yanov, V. Plebanovich // Tehnologii v elektronnoy promyshlennosti. - 2006. - № 1 (7). - S. 70-75.

Ачкасов, В.Н. Обобщенный критерий надежности интегральных схем и методы защиты от одиночных сбоев в цифровых устройствах на стадии проектирования / В.Н. Ачкасов, В.А. Смерек, Д.М. Уткин // Политематический сетевой электронный научный журнал Кубанского государственного аграрного университета. - 2012. - № 76. - С. 387-398.

Achkasov, V.N. Obobschennyy kriteriy nadezhnosti integral'nyh shem i metody zaschity ot odinochnyh sboev v cifrovyh ustroystvah na stadii proektirovaniya / V.N. Achkasov, V.A. Smerek, D.M. Utkin // Politematicheskiy setevoy elektronnyy nauchnyy zhurnal Kubanskogo gosudarstvennogo agrarnogo universiteta. - 2012. - № 76. - S. 387-398.

Попов, В. Д. Подход к прогнозированию надежности интегральных микросхем при радиационном воздействии / В.Д. Попов // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2011. - № 1. - С. 9-11.

Popov, V. D. Podhod k prognozirovaniyu nadezhnosti integral'nyh mikroshem pri radiacionnom vozdeystvii / V.D. Popov // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2011. - № 1. - S. 9-11.

Результаты оценки надежности микросхемы 1921ВК028 / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, Е.В. Грошева, А.И. Яньков // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12,№ 4. - С. 37-41.

Rezul'taty ocenki nadezhnosti mikroshemy 1921VK028 / V.K. Zol'nikov, S.A. Evdokimova, E.V. Grosheva, A.I. Yan'kov // Modelirovanie sistem i processov. - 2019. - T. 12,№ 4. - S. 37-41.

Результаты оценки надежности микросхемы 1921ВК035 / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, Е.В. Грошева, А.И. Яньков // Моделирование систем и процессов. - 2019. -Т. 12, № 4. - С. 42-46.

Rezul'taty ocenki nadezhnosti mikroshemy 1921VK035 / V.K. Zol'nikov, S.A. Evdokimova, E.V. Grosheva, A.I. Yan'kov // Modelirovanie sistem i processov. - 2019. -T. 12, № 4. - S. 42-46.