<?xml version="1.0"?>
<!DOCTYPE article
PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.4 20190208//EN"
       "JATS-journalpublishing1.dtd">
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" article-type="research-article" dtd-version="1.4" xml:lang="en">
 <front>
  <journal-meta>
   <journal-id journal-id-type="publisher-id">Modeling of systems and processes</journal-id>
   <journal-title-group>
    <journal-title xml:lang="en">Modeling of systems and processes</journal-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>Моделирование систем и процессов</trans-title>
    </trans-title-group>
   </journal-title-group>
   <issn publication-format="print">2219-0767</issn>
  </journal-meta>
  <article-meta>
   <article-id pub-id-type="publisher-id">37765</article-id>
   <article-id pub-id-type="doi">10.12737/2219-0767-2020-13-1-77-82</article-id>
   <article-categories>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="ru">
     <subject>Технические науки</subject>
    </subj-group>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="en">
     <subject></subject>
    </subj-group>
    <subj-group>
     <subject>Технические науки</subject>
    </subj-group>
   </article-categories>
   <title-group>
    <article-title xml:lang="en">DEVELOPMENT OF THE DESIGN ENVIRONMENT AND ASSESSMENT OF THE MANUFACTURABILITY OF THE CHIP PRODUCTION TAKING INTO ACCOUNT THE RESISTANCE TO SPECIAL FACTORS ON THE EXAMPLE OF VLSI 1867VTS6F</article-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>Разработка проектной среды и оценка технологичности производства микросхемы с учетом стойкости к специальным факторам на примере СБИС 1867ВЦ6Ф</trans-title>
    </trans-title-group>
   </title-group>
   <contrib-group content-type="authors">
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Скляр</surname>
       <given-names>В. А.</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Sklyar</surname>
       <given-names>V. А.</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-1"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Смерек</surname>
       <given-names>В. А.</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Smerek</surname>
       <given-names>V. A.</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-2"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Зольников</surname>
       <given-names>Константин Владимирович</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Zolnikov</surname>
       <given-names>Konstantin Vladimirovich</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-3"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Чернов</surname>
       <given-names>Дмитрий Николаевич</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Chernov</surname>
       <given-names>D. N.</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-4"/>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-5"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Ягодкин</surname>
       <given-names>Александр Сергеевич</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Yagodkin</surname>
       <given-names>A. Sergeevich</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-6"/>
    </contrib>
   </contrib-group>
   <aff-alternatives id="aff-1">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">АО &quot;Научно-исследовательский институт электронной техники&quot;</institution>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">АО &quot;Научно-исследовательский институт электронной техники&quot;</institution>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-2">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">АО &quot;Научно-исследовательский институт электронной техники&quot;</institution>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">АО &quot;Научно-исследовательский институт электронной техники&quot;</institution>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-3">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова</institution>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov</institution>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-4">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">АО «Научно-исследовательский институт электронной техники»</institution>
     <city>Воронеж</city>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Scientific research institute electronic engineering</institution>
     <city>Voronezh</city>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-5">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">Воронежский государственный технический университет</institution>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Voronezh State Technical University</institution>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-6">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова</institution>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov</institution>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <volume>13</volume>
   <issue>1</issue>
   <fpage>77</fpage>
   <lpage>82</lpage>
   <self-uri xlink:href="https://zh-szf.ru/en/nauka/article/37765/view">https://zh-szf.ru/en/nauka/article/37765/view</self-uri>
   <abstract xml:lang="ru">
    <p>Статья посвящена процессу создания цифровых микроэлектронных устройств, удовлетворяющих определенным параметрам, в том числе требованиям по стойкости к воздействию специальных факторов. Описана технологическая среда проектирования изделия 1867ВЦ6Ф и маршрут проектирования. Созданная технология проектирования обеспечила разработку радиационно-стойкой микросхемы. Проведена оценка производственной технологичности изделия и уровня стандартизации и унификации.</p>
   </abstract>
   <trans-abstract xml:lang="en">
    <p>The article is devoted to the process of creating digital microelectronic devices that meet certain parameters, including the requirements for resistance to special factors. The technological environment for designing the 1867vc6f product and the design route are described. The created design technology provided the development of a radiation-resistant chip. The assessment of the product's production manufacturability and the level of standardization and unification was carried out.</p>
   </trans-abstract>
   <kwd-group xml:lang="ru">
    <kwd>СБИС 1867ВЦ6Ф</kwd>
    <kwd>специальные факторы</kwd>
    <kwd>технологичность производства</kwd>
    <kwd>проектирование</kwd>
    <kwd>маршрут проектирования</kwd>
    <kwd>микроэлектроника</kwd>
    <kwd>специальные факторы</kwd>
   </kwd-group>
   <kwd-group xml:lang="en">
    <kwd>VLSI 1867VC6F</kwd>
    <kwd>special factors</kwd>
    <kwd>processability of production</kwd>
    <kwd>design</kwd>
    <kwd>design route</kwd>
    <kwd>microelectronics</kwd>
    <kwd>special factors.</kwd>
   </kwd-group>
  </article-meta>
 </front>
 <body>
  <p></p>
 </body>
 <back>
  <ref-list>
   <ref id="B1">
    <label>1.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Методы схемотехнического моделирования КМОП СБИС с учетом радиации / К.В. Зольников, В.А. Скляр, В.И. Анциферова, С.А. Евдокимова // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2014. - № 2. - С. 5-9.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Metody shemotehnicheskogo modelirovaniya KMOP SBIS s uchetom radiacii / K.V. Zol'nikov, V.A. Sklyar, V.I. Anciferova, S.A. Evdokimova // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2014. - № 2. - S. 5-9.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B2">
    <label>2.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Схемотехнический базис и проверка микросхем на работоспособность / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, А.В. Фомичев, В.Н. Чикин, А.В. Ачкасов, В.Ф. Зинченко // Моделирование систем и процессов. - 2018. -Т. 11, № 4. - С. 25-30.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Shemotehnicheskiy bazis i proverka mikroshem na rabotosposobnost' / V.K. Zol'nikov, S.A. Evdokimova, A.V. Fomichev, V.N. Chikin, A.V. Achkasov, V.F. Zinchenko // Modelirovanie sistem i processov. - 2018. -T. 11, № 4. - S. 25-30.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B3">
    <label>3.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Результаты исследования сбоеустойчевого процессора серии 1867 / А.И. Яньков, А.В. Ачкасов, К.В. Зольников, М.В. Конарев, Н.А. Орликовский // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 4. - С. 72-74.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Rezul'taty issledovaniya sboeustoychevogo processora serii 1867 / A.I. Yan'kov, A.V. Achkasov, K.V. Zol'nikov, M.V. Konarev, N.A. Orlikovskiy // Modelirovanie sistem i processov. - 2013. - № 4. - S. 72-74.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B4">
    <label>4.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Расчет показателей стойкости работы цифровых микросхем в САПР / В.К. Зольников, В.В. Лавлинский, Ю.А. Чевычелов, Ю.С. Сербулов, В.И. Анциферова, В.Н. Ачкасов, Ю.Г. Табаков // Лесотехнический журнал. - 2014. - Т. 4, № 4 (16). - С. 291-301.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Raschet pokazateley stoykosti raboty cifrovyh mikroshem v SAPR / V.K. Zol'nikov, V.V. Lavlinskiy, Yu.A. Chevychelov, Yu.S. Serbulov, V.I. Anciferova, V.N. Achkasov, Yu.G. Tabakov // Lesotehnicheskiy zhurnal. - 2014. - T. 4, № 4 (16). - S. 291-301.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B5">
    <label>5.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Алгоритмическая основа моделирования и обеспечения защиты типовых КМОП элементов в процессе проектирования / В. К. Зольников, В. А. Смерек, В. И. Анциферова, С. А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 3. - С. 14-16.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Algoritmicheskaya osnova modelirovaniya i obespecheniya zaschity tipovyh KMOP elementov v processe proektirovaniya / V. K. Zol'nikov, V. A. Smerek, V. I. Anciferova, S. A. Evdokimova // Modelirovanie sistem i processov. - 2013. - № 3. - S. 14-16.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B6">
    <label>6.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем / В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек, Д. М. Уткин, В. К. Зольников // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2012. - № 1. - С. 634-637.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Metody obespecheniya stoykosti mikroshem k odinochnym sobytiyam pri proektirovanii radiacionno-stoykih mikroshem / V. N. Achkasov, V. A. Smerek, D. M. Utkin, V. K. Zol'nikov // Problemy razrabotki perspektivnyh mikro- i nanoelektronnyh sistem (MES). - 2012. - № 1. - S. 634-637.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B7">
    <label>7.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Смерек, В. К. Модель физических процессов в элементах СБИС при воздействии тяжелых заряженных частиц / В. К. Смерек, В. К. Зольников, К. И. Таперо // Моделирование систем и процессов. - 2010. - № 1-2. - С. 41-48.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Smerek, V. K. Model' fizicheskih processov v elementah SBIS pri vozdeystvii tyazhelyh zaryazhennyh chastic / V. K. Smerek, V. K. Zol'nikov, K. I. Tapero // Modelirovanie sistem i processov. - 2010. - № 1-2. - S. 41-48.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B8">
    <label>8.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Крюков, В. П. Проблемы моделирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения в САПР / В.П. Крюков, К.В. Зольников, С.А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 4. - С. 41-44.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Kryukov, V. P. Problemy modelirovaniya bazovyh elementov KMOP BIS dvoynogo naznacheniya v SAPR / V.P. Kryukov, K.V. Zol'nikov, S.A. Evdokimova // Modelirovanie sistem i processov. - 2013. - № 4. - S. 41-44.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
  </ref-list>
 </back>
</article>
