NDT World NDT World В мире неразрушающего контроля 1609-3178 38692 10.12737/1609-3178-2020-40-43 Тепловой контроль Thermal Inspection Тепловой контроль Software for Thermal NDT Systems Программное обеспечение для тепловых дефектоскопов Нестерук Денис Алексеевич Nesteruk Denis Alekseevich

кандидат технических наук;

candidate of technical sciences;

 Вавилов Владимир Платонович Vavilov Vladimir Platonovich vavilov@tpu.ru

доктор технических наук;

doctor of technical sciences;

 Чулков Арсений Олегович Chulkov Arseny O. chulkovao@tpu.ru Симонов Д. А. Simonov D. A. Томский политехнический университет Томск Россия National Research Tomsk Polytechnic University Tomsk Russian Federation Национальный исследовательский Томский политехнический университет Томск Россия National Research Tomsk Polytechnic University Tomsk Russian Federation Национальный исследовательский Томский политехнический университет Томск Россия National Research Tomsk Polytechnic University Tomsk Russian Federation Томский политехнический университет Томск Россия National Research Tomsk Polytechnic University Tomsk Russian Federation 23 2 40 43 https://zh-szf.ru/en/nauka/article/38692/view

Создано унифицированное программное обеспечение (ПО) для активного теплового контроля (ТК), которое ориентировано на коммерческие и лабораторные тепловые дефектоскопы, включающие управляемые источники нагрева и тепловизоры различного типа. Существенным элементом ПО является модуль моделирования, позволяющий решать одно-, двух и трёхмерные задачи ТК с целью оптимизации экспериментальных процедур. Обработку экспериментальных данных осуществляют с помощью модулей анализа последовательностей ИК термограмм и тепловой дефектометрии, обеспечивающих как повышение отношения сигнал/шум, так и приближённую оценку поперечных размеров, глубины залегания и теплового сопротивления дефектов.

The specialized software intended for active thermal nondestructive testing (NDT) is developed. The software is oriented toward both commercial and laboratory thermal NDT systems including heat sources and infrared imagers of various types. A modeling module is an essential part of this software allowing optimization of test procedures. Experimental data is treated by using a processing and defect characterization modules intended for enhancing signal-to-noise ratio and identifying lateral size, depth and thermal resistance of hidden defects.

 тепловой контроль моделирование дефектометрия тепловой дефектоскоп thermal NDT modeling defect characterization

Гавинский Ю. В., Ворожцов Б. И., Немиров Ю. В. Использование околоповерхностных теплоэлектрических приемников при тепловом контроле слоистых конструкций. -Дефектоскопия. 1976. № 4. С. 40-47. Gavinskiy Yu. V., Vorozhcov B. I., Nemirov Yu. V. Ispol'zovanie okolopoverhnostnyh teploelektricheskih priemnikov pri teplovom kontrole sloistyh konstrukciy. -Defektoskopiya. 1976. № 4. S. 40-47. Денисов С. С., Волков Я. А., Стороженко В. А., Рапопорт Д. А. Сканирующая оптическая головка для активного неразрушающего контроля. - Дефектоскопия. 1975. № 6. C. 116-118. Denisov S. S., Volkov Ya. A., Storozhenko V. A., Rapoport D. A. Skaniruyuschaya opticheskaya golovka dlya aktivnogo nerazrushayuschego kontrolya. - Defektoskopiya. 1975. № 6. C. 116-118. Будадин О. Н., Потапов А. И., Колганов В. И. и др. Тепловой неразрушающий контроль изделий. - М.: Наука, 2002. - 476 c. Budadin O. N., Potapov A. I., Kolganov V. I. i dr. Teplovoy nerazrushayuschiy kontrol' izdeliy. - M.: Nauka, 2002. - 476 c. Вавилов В. П., Ширяев В. В., Танасейчук С. Ю. Комплексный подход к проектированию системы теплового контроля паяных соединений. - Дефектоскопия, 1978. № 10. С. 63-67. Vavilov V. P., Shiryaev V. V., Tanaseychuk S. Yu. Kompleksnyy podhod k proektirovaniyu sistemy teplovogo kontrolya payanyh soedineniy. - Defektoskopiya, 1978. № 10. S. 63-67. Кущ Д. В., Рапопорт Д. А., Будадин О. Н. Обратная задача автоматизированного теплового контроля. - Дефектоскопия. 1988. № 5. C. 64-68. Kusch D. V., Rapoport D. A., Budadin O. N. Obratnaya zadacha avtomatizirovannogo teplovogo kontrolya. - Defektoskopiya. 1988. № 5. C. 64-68. Shepard S. Temporal noise reduction, compression and analysis of thermographic image data sequences. U.S. Patent No. 6516084, 2003. Shepard S. Temporal noise reduction, compression and analysis of thermographic image data sequences. U.S. Patent No. 6516084, 2003. Чулков А. О., Нестерук Д. А., Вавилов В. П. и др. Автоматизированный тепловой неразрушающий контроль крупногабаритных изделий. - В мире НК. 2020. Т. 23. №1. С. 56-59. Chulkov A. O., Nesteruk D. A., Vavilov V. P. i dr. Avtomatizirovannyy teplovoy nerazrushayuschiy kontrol' krupnogabaritnyh izdeliy. - V mire NK. 2020. T. 23. №1. S. 56-59.