Modeling of systems and processes Modeling of systems and processes Моделирование систем и процессов 2219-0767 41063 10.12737/2219-0767-2020-13-3-58-65 Технические науки Технические науки DEVELOPMENT OF A TEST CRYSTAL IN THE DESIGN OF CMOS TECHNOLOGY CHIPS Разработка тестового кристалла при проектировании микросхем технологии КМОП Зольников Владимир Константинович Zolnikov V. K. Оксюта Олеся Владимировна Oksyuta O. V. Чубур Кирилл Александрович Chubur K. A. Квасов Олег Николаевич Kvasov Oleg Nikolaevich Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова RU FSBE Institution of Higher Education Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov RU 13 3 58 65 https://zh-szf.ru/en/nauka/article/41063/view

В статье рассматриваются методы и технологии тестирования микросхем с использование тестовых кристаллов и описана структура таких кристаллов, разработанных в виде микросхемы для проведения исследований. Представлены схемы блока проверки элементов ввода-вывода, блока проверки элементов ядра и блока кольцевых генераторов, а также схемы ряда кольцевых генераторов.

The article discusses methods and technologies for testing chips using test crystals and describes the structure of such crystals developed as a chip for research. Diagrams of the I / O element verification block, the core element verification block, and the ring generator block, as well as diagrams of a number of ring generators, are presented.

 Кристаллы БМК блоки тестового кристалла блок проверки элементов ввода-вывода блок проверки элементов ядра блок кольцевых генераторов кольцевой генератор crystals ULA the blocks of the test crystal the unit test elements of the input-output block of test elements of the kernel block ring generators ring generator

Анализ проблем моделирования элементов КМОП БИС / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, А.В. Фомичев, В.Н. Чикин, А.В. Ачкасов, В.Ф. Зинченко // Моделирование систем и процессов. - 2018. -Т . 11, № 4. -С. 20-25. Analiz problem modelirovaniya elementov KMOP BIS / V.K. Zol'nikov, S.A. Evdokimova, A.V. Fomichev, V.N. Chikin, A.V. Achkasov, V.F. Zinchenko // Modelirovanie sistem i processov. - 2018. -T . 11, № 4. -S. 20-25. Зольников, В.К. Верификация проектов и создание тестовых последовательностей для проектирования микросхем / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 10-16. Zol'nikov, V.K. Verifikaciya proektov i sozdanie testovyh posledovatel'nostey dlya proektirovaniya mikroshem / V.K. Zol'nikov, S.A. Evdokimova, T.V. Skvorcova // Modelirovanie sistem i processov. - 2019. - T. 12, № 1. - S. 10-16. Зольников, К.В. Основы построения средств верификации блоков ОЗУ микропроцессора с системой команд TMS320C50 / К. В. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2011. - № 1-2. - С. 31-35. Zol'nikov, K.V. Osnovy postroeniya sredstv verifikacii blokov OZU mikroprocessora s sistemoy komand TMS320C50 / K. V. Zol'nikov // Modelirovanie sistem i processov. - 2011. - № 1-2. - S. 31-35. Методы контроля надежности при разработке микросхем / К.В. Зольников, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова, А.Е. Гриднев // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 39-45. Metody kontrolya nadezhnosti pri razrabotke mikroshem / K.V. Zol'nikov, S.A. Evdokimova, T.V. Skvorcova, A.E. Gridnev // Modelirovanie sistem i processov. - 2020. - T. 13, № 1. - S. 39-45. Зольников, В. К. Модель накопления заряда в диэлектрике паразитного транзистора КМОП структуры / В.К. Зольников // Информационные технологии моделирования и управления. - 2009. - № 1 (53). - С. 63-67. Zol'nikov, V. K. Model' nakopleniya zaryada v dielektrike parazitnogo tranzistora KMOP struktury / V.K. Zol'nikov // Informacionnye tehnologii modelirovaniya i upravleniya. - 2009. - № 1 (53). - S. 63-67. Зольников, В.К. Моделирование сбора заряда при воздействии тяжелых заряженных частиц в КМОП элементах микросхем / В.К. Зольников, И.П. Потапов, К.И. Таперо // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2010. - № 1. - С. 275-278. Zol'nikov, V.K. Modelirovanie sbora zaryada pri vozdeystvii tyazhelyh zaryazhennyh chastic v KMOP elementah mikroshem / V.K. Zol'nikov, I.P. Potapov, K.I. Tapero // Problemy razrabotki perspektivnyh mikro- i nanoelektronnyh sistem (MES). - 2010. - № 1. - S. 275-278. Результаты экспериментальных исследований микросхем ИС 1882ВЕ53У, 1882ВЕ53УМ и 1830ВЕ32У на стойкость к воздействию тяжелых заряженных частиц / В.П. Крюков, А.И. Яньков, В.Г. Калинин, В.А. Смерек // Моделирование систем и процессов. - 2011. - № 4. - С. 41-44. Rezul'taty eksperimental'nyh issledovaniy mikroshem IS 1882VE53U, 1882VE53UM i 1830VE32U na stoykost' k vozdeystviyu tyazhelyh zaryazhennyh chastic / V.P. Kryukov, A.I. Yan'kov, V.G. Kalinin, V.A. Smerek // Modelirovanie sistem i processov. - 2011. - № 4. - S. 41-44. Яньков, А.И. Разработка алгоритмического обеспечения для проведения испытаний микроконтроллеров / А.И. Яньков, М.А. Онищенко // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 3. - С. 70-72. Yan'kov, A.I. Razrabotka algoritmicheskogo obespecheniya dlya provedeniya ispytaniy mikrokontrollerov / A.I. Yan'kov, M.A. Onischenko // Modelirovanie sistem i processov. - 2012. - № 3. - S. 70-72. Арзамасцев, М.Ю. Анализ стойкости к ТЗЧ радиационно-стойкого микроконтроллера 1874BE10T, выполненного по отечественной технологии 0.25 мкм / М.Ю. Арзамасцев, А.И. Яньков // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 1. - С. 4-9. Arzamascev, M.Yu. Analiz stoykosti k TZCh radiacionno-stoykogo mikrokontrollera 1874BE10T, vypolnennogo po otechestvennoy tehnologii 0.25 mkm / M.Yu. Arzamascev, A.I. Yan'kov // Modelirovanie sistem i processov. - 2018. - T. 11, № 1. - S. 4-9. Зольников, К. В. Математическая модель оценки показателей надежности сложных программно-технических комплексов / К.В. Зольников, Д.М. Уткин, Ю.А. Чевычелов // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 1. - С. 21-26. Zol'nikov, K. V. Matematicheskaya model' ocenki pokazateley nadezhnosti slozhnyh programmno-tehnicheskih kompleksov / K.V. Zol'nikov, D.M. Utkin, Yu.A. Chevychelov // Modelirovanie sistem i processov. - 2018. - T. 11, № 1. - S. 21-26.