<?xml version="1.0"?>
<!DOCTYPE article
PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.4 20190208//EN"
       "JATS-journalpublishing1.dtd">
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" article-type="research-article" dtd-version="1.4" xml:lang="en">
 <front>
  <journal-meta>
   <journal-id journal-id-type="publisher-id">Modeling of systems and processes</journal-id>
   <journal-title-group>
    <journal-title xml:lang="en">Modeling of systems and processes</journal-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>Моделирование систем и процессов</trans-title>
    </trans-title-group>
   </journal-title-group>
   <issn publication-format="print">2219-0767</issn>
  </journal-meta>
  <article-meta>
   <article-id pub-id-type="publisher-id">45933</article-id>
   <article-id pub-id-type="doi">10.12737/2219-0767-2021-14-3-22-28</article-id>
   <article-categories>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="ru">
     <subject>Технические науки</subject>
    </subj-group>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="en">
     <subject></subject>
    </subj-group>
    <subj-group>
     <subject>Технические науки</subject>
    </subj-group>
   </article-categories>
   <title-group>
    <article-title xml:lang="en">Classification of the effects of AI CP on REE</article-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>Классификация последствий воздействия ИИ КП на РЭА</trans-title>
    </trans-title-group>
   </title-group>
   <contrib-group content-type="authors">
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Козюков</surname>
       <given-names>Александр Евгеньевич</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Kozyukov</surname>
       <given-names>Aleksandr Evgen'evich</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-1"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Чубунов</surname>
       <given-names>Павел Александрович</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Chubunov</surname>
       <given-names>Pavel Aleksandrovich</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-2"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Зольников</surname>
       <given-names>Константин Владимирович</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Zolnikov</surname>
       <given-names>Konstantin Vladimirovich</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-3"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Куцько</surname>
       <given-names>Павел Павлович</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Kuc'ko</surname>
       <given-names>Pavel Pavlovich</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-4"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Скворцова</surname>
       <given-names>Татьяна Владимировна</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Skvortsova</surname>
       <given-names>Tatyana Vladimirovna</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-5"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Журавлева</surname>
       <given-names>Ирина Витальевна</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Zhuravleva</surname>
       <given-names>I. V.</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-6"/>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-7"/>
    </contrib>
   </contrib-group>
   <aff-alternatives id="aff-1">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">АО &quot;Научно-исследовательский институт космического приборостроения&quot;</institution>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">АО &quot;Научно-исследовательский институт космического приборостроения&quot;</institution>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-2">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">АО &quot;Научно-исследовательский институт космического приборостроения&quot;</institution>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">АО &quot;Научно-исследовательский институт космического приборостроения&quot;</institution>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-3">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова</institution>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov</institution>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-4">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">АО &quot;Научно-исследовательский институт электронной техники&quot;</institution>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">АО &quot;Научно-исследовательский институт электронной техники&quot;</institution>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-5">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова</institution>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov</institution>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-6">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова</institution>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov</institution>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-7">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">Филиал Ростовского государственного университета путей сообщения в г. Воронеже</institution>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Филиал Ростовского государственного университета путей сообщения в г. Воронеже</institution>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <volume>14</volume>
   <issue>3</issue>
   <fpage>22</fpage>
   <lpage>28</lpage>
   <history>
    <date date-type="received" iso-8601-date="2021-04-21T00:00:00+03:00">
     <day>21</day>
     <month>04</month>
     <year>2021</year>
    </date>
   </history>
   <self-uri xlink:href="https://zh-szf.ru/en/nauka/article/45933/view">https://zh-szf.ru/en/nauka/article/45933/view</self-uri>
   <abstract xml:lang="ru">
    <p>В процессе полета на космические системы (орбитальные станции, космические аппараты, межпланетные космические корабли и др.) действуют заряженные частицы (ЗЧ) космического пространства (КП), которые, без применения специальных мер защиты, способны приводить к отказу бортовых систем. Особую опасность они представляют для систем, в составе которых использованы комплектующие изделия электронной техники (ИЭТ) (полупроводниковые приборы (ППП) и интегральные схемы (ИС), оптоэлектронные приборы). К этим системам в КА, как правило, относятся все системы управления, телеметрические системы, приемо-передающие устройства, системы терморегулирования, системы энергопитания и т.п., которые в целом можно называть радиоэлектронной аппаратурой (РЭА).</p>
   </abstract>
   <trans-abstract xml:lang="en">
    <p>During the flight, charged particles of outer space act on space systems (orbital stations, spacecraft, interplanetary spacecraft, etc.), which, without the use of special protection measures, can lead to the failure of onboard systems. They are particularly dangerous for systems that use electronic components (semiconductor devices and integrated circuits, optoelectronic devices). These systems in the spacecraft, as a rule, include all control systems, telemetry systems, receiving and transmitting devices, thermal control systems, power supply systems, etc., which in general can be called radio-electronic equipment (REE).</p>
   </trans-abstract>
   <kwd-group xml:lang="ru">
    <kwd>МДП-транзисторы</kwd>
    <kwd>ПЗС-матрицы</kwd>
    <kwd>ионизационное излучение</kwd>
    <kwd>радиационные эффекты</kwd>
    <kwd>радиационная стойкость</kwd>
    <kwd>одиночные эффекты.</kwd>
   </kwd-group>
   <kwd-group xml:lang="en">
    <kwd>MDR transistors</kwd>
    <kwd>CCD arrays</kwd>
    <kwd>ionization radiation</kwd>
    <kwd>radiation effects</kwd>
    <kwd>radiation resistance</kwd>
    <kwd>single effects.</kwd>
   </kwd-group>
  </article-meta>
 </front>
 <body>
  <p></p>
 </body>
 <back>
  <ref-list>
   <ref id="B1">
    <label>1.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Исследование характеристик пучков ионов на испытательных стендах по контролю стойкости ЭКБ к воздействию ТЗЧ и их вариации при различных плотностях потоков и энергиях / А.С. Бычков, В.С. Анашин, А.Е. Козюков, С.А. Яковлев // Петербургский журнал электроники. - 2017. - № 2-3 (87-88). - С. 132-136.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Issledovanie harakteristik puchkov ionov na ispytatel'nyh stendah po kontrolyu stoykosti EKB k vozdeystviyu TZCh i ih variacii pri razlichnyh plotnostyah potokov i energiyah / A.S. Bychkov, V.S. Anashin, A.E. Kozyukov, S.A. Yakovlev // Peterburgskiy zhurnal elektroniki. - 2017. - № 2-3 (87-88). - S. 132-136.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B2">
    <label>2.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Зольников, В.К. Методика проектирования современной микрокомпонентной базы с учетом одиночных событий радиационного воздействия / В.К. Зольников // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2012. - № 3. - С. 5-8.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Zol'nikov, V.K. Metodika proektirovaniya sovremennoy mikrokomponentnoy bazy s uchetom odinochnyh sobytiy radiacionnogo vozdeystviya / V.K. Zol'nikov // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2012. - № 3. - S. 5-8.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B3">
    <label>3.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Destructive failure heavy ion testing of different amplifiers / A.A. Kalashnikova, V.S. Anashin, S.A. Iakovlev [et al.] // 17th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, RADECS 2017. - Space to Ground and Below. 2019. - P. 8696112. - DOI: 10.1109/RADECS.2017.8696112.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Destructive failure heavy ion testing of different amplifiers / A.A. Kalashnikova, V.S. Anashin, S.A. Iakovlev [et al.] // 17th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, RADECS 2017. - Space to Ground and Below. 2019. - P. 8696112. - DOI: 10.1109/RADECS.2017.8696112.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B4">
    <label>4.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">The difficulties and solutions in see radiation experiments, test samples and setup preparation / A.E. Koziukov, V.S. Anashin, S.A. Yakovlev [et al.] // 17th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, RADECS 2017. - Space to Ground and Below. 2019. - P. 8696208. - DOI: 10.1109/RADECS.2017.8696208.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">The difficulties and solutions in see radiation experiments, test samples and setup preparation / A.E. Koziukov, V.S. Anashin, S.A. Yakovlev [et al.] // 17th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, RADECS 2017. - Space to Ground and Below. 2019. - P. 8696208. - DOI: 10.1109/RADECS.2017.8696208.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B5">
    <label>5.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Проектирование интерфейсов сбоеустойчивых микросхем / В.К. Зольников, Н.В. Мозговой, С.В. Гречаный [и др.] // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 17-24. - DOI: 10.12737/2219-0767-2020-13-1-17-24.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Proektirovanie interfeysov sboeustoychivyh mikroshem / V.K. Zol'nikov, N.V. Mozgovoy, S.V. Grechanyy [i dr.] // Modelirovanie sistem i processov. - 2020. - T. 13, № 1. - S. 17-24. - DOI: 10.12737/2219-0767-2020-13-1-17-24.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B6">
    <label>6.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Определение мероприятий по программе обеспечения качества работ проектирования и серийного производства микросхем и оценки их эффективности на примере СБИС 1867ВН016 / К.В. Зольников, А.С. Ягодкин, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 46-53. - DOI: 10.12737/2219-0767-2020-13-1-46-53.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Opredelenie meropriyatiy po programme obespecheniya kachestva rabot proektirovaniya i seriynogo proizvodstva mikroshem i ocenki ih effektivnosti na primere SBIS 1867VN016 / K.V. Zol'nikov, A.S. Yagodkin, S.A. Evdokimova, T.V. Skvorcova // Modelirovanie sistem i processov. - 2020. - T. 13, № 1. - S. 46-53. - DOI: 10.12737/2219-0767-2020-13-1-46-53.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B7">
    <label>7.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Разработка проектной среды и оценка технологичности производства микросхемы с учетом стойкости к специальным факторам на примере СБИС 1867Ц6Ф / В.А. Скляр, В.А. Смерек, К.В. Зольников [и др.] // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 77-82. - DOI: 10.12737/2219-0767-2020-13-1-77-82.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Razrabotka proektnoy sredy i ocenka tehnologichnosti proizvodstva mikroshemy s uchetom stoykosti k special'nym faktoram na primere SBIS 1867C6F / V.A. Sklyar, V.A. Smerek, K.V. Zol'nikov [i dr.] // Modelirovanie sistem i processov. - 2020. - T. 13, № 1. - S. 77-82. - DOI: 10.12737/2219-0767-2020-13-1-77-82.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B8">
    <label>8.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Макаренко, Ф.В. Сужение спектра излучения GaAs светодиода за счет применения светофильтра InP (Ag) / Ф.В. Макаренко, А.В. Арсентьев, К.В. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 4. - С. 32-38. - DOI: 10.12737/2219-0767-2021-13-4-32-38.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Makarenko, F.V. Suzhenie spektra izlucheniya GaAs svetodioda za schet primeneniya svetofil'tra InP (Ag) / F.V. Makarenko, A.V. Arsent'ev, K.V. Zol'nikov // Modelirovanie sistem i processov. - 2020. - T. 13, № 4. - S. 32-38. - DOI: 10.12737/2219-0767-2021-13-4-32-38.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B9">
    <label>9.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Особенности технологического процесса изготовления микросхем космического назначения по технологии КМОП КНС / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, И.В. Журавлева [и др.] // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 3. - С. 53-58. - DOI: 10.12737/2219-0767-2020-13-3-53-58.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Osobennosti tehnologicheskogo processa izgotovleniya mikroshem kosmicheskogo naznacheniya po tehnologii KMOP KNS / V.K. Zol'nikov, S.A. Evdokimova, I.V. Zhuravleva [i dr.] // Modelirovanie sistem i processov. - 2020. - T. 13, № 3. - S. 53-58. - DOI: 10.12737/2219-0767-2020-13-3-53-58.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B10">
    <label>10.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Основные факторы ионизирующих излучений космического пространства, действующие на микросхемы / И.В. Журавлева // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 3. - С. 11-16. - DOI: 10.12737/2219-0767-2019-12-3-11-16.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Osnovnye faktory ioniziruyuschih izlucheniy kosmicheskogo prostranstva, deystvuyuschie na mikroshemy / I.V. Zhuravleva // Modelirovanie sistem i processov. - 2019. - T. 12, № 3. - S. 11-16. - DOI: 10.12737/2219-0767-2019-12-3-11-16.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B11">
    <label>11.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Создание базиса для микросхем сбора и обработки данных / В.А. Скляр, А.В. Ачкасов, К.В. Зольников [и др.] // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 2. - С.66-71. - DOI: 10.12737/article_5b57795062f199.54387613.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Sozdanie bazisa dlya mikroshem sbora i obrabotki dannyh / V.A. Sklyar, A.V. Achkasov, K.V. Zol'nikov [i dr.] // Modelirovanie sistem i processov. - 2018. - T. 11, № 2. - S.66-71. - DOI: 10.12737/article_5b57795062f199.54387613.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B12">
    <label>12.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Characterization of widely used bipolar transistors in wide temperature range before and after ionizing radiation impact / A.S. Bakerenkov, A.S. Rodin, V.A. Felitsyn [et al.] // IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference, NSREC 2018. - 2018. - P. 8584306. - DOI: 10.1109/NSREC.2018.8584306.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Characterization of widely used bipolar transistors in wide temperature range before and after ionizing radiation impact / A.S. Bakerenkov, A.S. Rodin, V.A. Felitsyn [et al.] // IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference, NSREC 2018. - 2018. - P. 8584306. - DOI: 10.1109/NSREC.2018.8584306.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
  </ref-list>
 </back>
</article>
