В работе рассмотрены схемотехнические методы для защиты электронной компонентной базы от воздействия тяжелых заряженных частиц. Одним из основных методов является увеличение емкости прибора, которое приводит к увеличению емкости диффузионных областей и уменьшению частоты проявления одиночных событий. Показана структура конденсатора, который присоединяется к различным узлам схемы для повышения чувствительности емкости узла. В статье уделено внимание методу использования активных RC-цепочек в цепи обратной связи ячейки запоминающего устройства. Отмечены достоинства и недостатки методов применения ячейки запоминающего устройства с внутренним резервированием. В работе показано, что применение схемотехнических методов обеспечит требуемый уровень сбое- и отказоустойчивости к воздействию тяжелых заряженных частиц.
The paper considers circuit engineering methods for protecting the electronic component base from the effects of heavy charged particles. One of the main methods is to increase the capacity of the device, which leads to an increase in the capacity of diffusion regions and a decrease in the frequency of single events. The structure of a capacitor is shown, which is connected to various nodes of the circuit to increase the sensitivity of the capacitance of the node. The article focuses on the method of using active RC circuits in the feedback circuit of a storage device cell. The advantages and disadvantages of the methods of using a storage device cell with internal redundancy are noted. The paper shows that the use of circuit engineering methods will provide the required level of fault and fault tolerance to the effects of heavy charged particles.