<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article
PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.4 20190208//EN"
       "JATS-journalpublishing1.dtd">
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" article-type="research-article" dtd-version="1.4" xml:lang="en">
 <front>
  <journal-meta>
   <journal-id journal-id-type="publisher-id">Modeling of systems and processes</journal-id>
   <journal-title-group>
    <journal-title xml:lang="en">Modeling of systems and processes</journal-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>Моделирование систем и процессов</trans-title>
    </trans-title-group>
   </journal-title-group>
   <issn publication-format="print">2219-0767</issn>
  </journal-meta>
  <article-meta>
   <article-id pub-id-type="publisher-id">58013</article-id>
   <article-id pub-id-type="doi">10.12737/2219-0767-2023-16-1-46-56</article-id>
   <article-categories>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="ru">
     <subject>Физико-математические науки</subject>
    </subj-group>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="en">
     <subject></subject>
    </subj-group>
    <subj-group>
     <subject>Физико-математические науки</subject>
    </subj-group>
   </article-categories>
   <title-group>
    <article-title xml:lang="en">Application of semiconductor electronics products in extreme conditions</article-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>Применение изделий полупроводниковой электроники  в экстремальных условиях</trans-title>
    </trans-title-group>
   </title-group>
   <contrib-group content-type="authors">
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Колесников</surname>
       <given-names>Максим Иванович</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Kolesnikov</surname>
       <given-names>Maksim Ivanovich</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-1"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Харченко</surname>
       <given-names>Максим Эдуардович</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Kharchenko</surname>
       <given-names>M. Eduardovich</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-2"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Дорохов</surname>
       <given-names>В. А.</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Dorohov</surname>
       <given-names>V. A.</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-3"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Зольников</surname>
       <given-names>Константин Владимирович</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Zolnikov</surname>
       <given-names>Konstantin Vladimirovich</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-4"/>
    </contrib>
   </contrib-group>
   <aff-alternatives id="aff-1">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">АО &quot;ВЗПП-С&quot;</institution>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">АО &quot;ВЗПП-С&quot;</institution>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-2">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">АО &quot;ВЗПП-С&quot;</institution>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">АО &quot;ВЗПП-С&quot;</institution>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-3">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">АО &quot;ВЗПП-С&quot;</institution>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">АО &quot;ВЗПП-С&quot;</institution>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-4">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова</institution>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov</institution>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <pub-date publication-format="print" date-type="pub" iso-8601-date="2023-03-29T20:12:08+03:00">
    <day>29</day>
    <month>03</month>
    <year>2023</year>
   </pub-date>
   <pub-date publication-format="electronic" date-type="pub" iso-8601-date="2023-03-29T20:12:08+03:00">
    <day>29</day>
    <month>03</month>
    <year>2023</year>
   </pub-date>
   <volume>16</volume>
   <issue>1</issue>
   <fpage>46</fpage>
   <lpage>56</lpage>
   <history>
    <date date-type="received" iso-8601-date="2023-03-29T00:00:00+03:00">
     <day>29</day>
     <month>03</month>
     <year>2023</year>
    </date>
   </history>
   <self-uri xlink:href="https://zh-szf.ru/en/nauka/article/58013/view">https://zh-szf.ru/en/nauka/article/58013/view</self-uri>
   <abstract xml:lang="ru">
    <p>Проведено исследование тепловых свойств материалов используемых в полупроводниковой электронике. Определена зависимость теплового сопротивления переход-корпус GaAs диодов от роста температуры корпуса изделия. Они определены с учетом конструктивных решений корпусного исполнения РЭА, которые могут защитить компоненты от экстремальных, сложных условий, но они увеличивают вес и сложность системы. Такие материалы, как SiC, GaAs, GaN, алмаз которые могут выдерживать экстремальные условия, могут иметь преимущества, выходящие далеко за рамки их электронных характеристик. Приведен пример применения модулей диодных на основе GaAs p-i-n диодов, разработанных АО «ВЗПП-С» - трехфазный мостовой выпрямитель, выполненный по схеме Ларионова для электрогенератора мощностью до 2750 Вт. Разработана методика проведения испытаний на безотказность. Проведены кратковременные испытания на безотказность модулей диодных при экстремальных температурах корпуса. Приведены результаты расчета теплового сопротивления переход-корпус. Для простоты расчета теплового сопротивления переход-корпус, разработанного модуля, примем следующие допущения: материалы, используемые в конструкции диодов модуля, обладают изотропной теплопроводностью; теплообмен во внутренних частях конструкции осуществляется только теплопроводностью; между слоями нет контактных сопротивлений; мощность, рассеиваемая выводами кристаллов диодов, пренебрежимо мала по сравнению с мощностью, отводимой через нижнее основание в теплоотвод; боковые поверхности тепловой модели теплоизолированы; каждый слой одного материала однороден и имеет коэффициент теплопроводности, определенный по средней температуре слоя; не учитывается влияние теплового воздействия соседних кристаллов модуля. За основу расчета выбран алгоритм стационарного теплового режима (метод эквивалентов) приложения Н ОСТ 11 0944-96.</p>
   </abstract>
   <trans-abstract xml:lang="en">
    <p>A study of the thermal properties of materials used in semiconductor electronics has been carried out. The dependence of the thermal resistance of GaAs diodes on the temperature increase of the product body is determined. They are determined taking into account the design solutions of the housing design of the REA, which can protect components from extreme, difficult conditions, but they increase the weight and complexity of the system. Materials such as SiC, GaAs, GaN, diamond that can withstand extreme conditions may have advantages that go far beyond their electronic characteristics. An example of the application of GaAs-based diode modules of p-i-n diodes developed by JSC &quot;VZPP-S&quot; is given - a three-phase bridge rectifier made according to the Larionov scheme for an electric generator with a power of up to 2750 watts. A methodology for conducting reliability tests has been developed. Short-term tests for the reliability of diode modules at extreme housing temperatures were carried out. The results of the calculation of the thermal resistance of the junction-housing are presented. To simplify the calculation of the thermal resistance of the junction-housing of the developed module, we will make the following assumptions: the materials used in the design of the module diodes have isotropic thermal conductivity; heat exchange in the internal parts of the structure is carried out only by thermal conductivity; there are no contact resistances between the layers; the power dissipated by the terminals of the diode crystals is negligible compared with the power discharged through the lower base into the heat sink; the side surfaces of the thermal model are insulated; each layer of the same material is homogeneous and has a thermal conductivity coefficient determined by the average temperature of the layer; the influence of the thermal effect of neighboring crystals of the module is not taken into account. The algorithm of stationary thermal regime (method of equivalents) of Appendix N OST 11 0944-96 is chosen as the basis of calculation.</p>
   </trans-abstract>
   <kwd-group xml:lang="ru">
    <kwd>Экстремальные условия эксплуатации</kwd>
    <kwd>GaAs диоды</kwd>
    <kwd>тепловое сопротивление</kwd>
    <kwd>кратковременные испытания на безотказность</kwd>
    <kwd>тепловой импеданс.</kwd>
   </kwd-group>
   <kwd-group xml:lang="en">
    <kwd>Extreme operating conditions</kwd>
    <kwd>GaAs diodes</kwd>
    <kwd>thermal resistance</kwd>
    <kwd>short-time reliability tests</kwd>
    <kwd>thermal impedance</kwd>
   </kwd-group>
  </article-meta>
 </front>
 <body>
  <p></p>
 </body>
 <back>
  <ref-list>
   <ref id="B1">
    <label>1.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Верхулевский, К. Высокотемпературные компоненты Microsemi - надежность в эксремальных условиях эксплуатации / К. Верхулевский // Силовая электроника. - 2014. - № 6. - С. 14-20.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Verhulevskiy, K. Vysokotemperaturnye komponenty Microsemi - nadezhnost' v eksremal'nyh usloviyah ekspluatacii / K. Verhulevskiy // Silovaya elektronika. - 2014. - № 6. - S. 14-20.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B2">
    <label>2.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">An Experimental Setup Based on a Printable System for the Acquisition of the Real-Time Electrical Response of Irradiated Semiconductor Devices / A. Quenon, A. Demarbaix, E. Daubie [et al.] // IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. - 2023. - Vol. 72. - Pp. 1-8. - DOI: 10.1109/TIM.2022.3228260.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">An Experimental Setup Based on a Printable System for the Acquisition of the Real-Time Electrical Response of Irradiated Semiconductor Devices / A. Quenon, A. Demarbaix, E. Daubie [et al.] // IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. - 2023. - Vol. 72. - Pp. 1-8. - DOI: 10.1109/TIM.2022.3228260.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B3">
    <label>3.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">First-principles study of stability of point defects and their effects on electronic properties of GaAs/AlGaAs superlattice / F. Shan [et al] // Chinese Physics B. - 2022. - Vol. 31. - C. 036104. - DOI: 10.1088/1674-1056/ac16cb.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">First-principles study of stability of point defects and their effects on electronic properties of GaAs/AlGaAs superlattice / F. Shan [et al] // Chinese Physics B. - 2022. - Vol. 31. - C. 036104. - DOI: 10.1088/1674-1056/ac16cb.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B4">
    <label>4.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">He, J. Comparison between the ultra-wide band gap semiconductor AlGaN and GaN / J. He // IOP Conference Series Materials Science and Engineering. - 2020. - Vol. 738. - C. 012009. - DOI: 10.1088/1757-899X/738/1/012009.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">He, J. Comparison between the ultra-wide band gap semiconductor AlGaN and GaN / J. He // IOP Conference Series Materials Science and Engineering. - 2020. - Vol. 738. - C. 012009. - DOI: 10.1088/1757-899X/738/1/012009.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B5">
    <label>5.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Aseev, A.L. Semiconductor Nanostructures for Modern Electronics / A.L. Aseev, A.V. Latyshev, A.V. Dvurechenskii // Advanced Research in Materials Science III. - 2020. - Vol. 310, № 10. - Pp. 65-80. - DOI: 10.4028/www.scientific.net/SSP.310.65.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Aseev, A.L. Semiconductor Nanostructures for Modern Electronics / A.L. Aseev, A.V. Latyshev, A.V. Dvurechenskii // Advanced Research in Materials Science III. - 2020. - Vol. 310, № 10. - Pp. 65-80. - DOI: 10.4028/www.scientific.net/SSP.310.65.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B6">
    <label>6.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Song, H. Electronic microstructure and thermal conductivity modeling of semiconductor nanomaterials / H. Song, C. Yin, H. Qu // Microelectronics Journal. - 2021. - Vol. 108. - C. 104988. - DOI: 10.1016/j.mejo.2020.104988.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Song, H. Electronic microstructure and thermal conductivity modeling of semiconductor nanomaterials / H. Song, C. Yin, H. Qu // Microelectronics Journal. - 2021. - Vol. 108. - C. 104988. - DOI: 10.1016/j.mejo.2020.104988.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B7">
    <label>7.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Setera, B. Challenges of overcoming defects in wide bandgap semiconductor power electronics / B. Setera, A. Christou // Electronics. - 2022. - Vol. 11(1). - C. 10. - DOI: 10.3390/electronics11010010.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Setera, B. Challenges of overcoming defects in wide bandgap semiconductor power electronics / B. Setera, A. Christou // Electronics. - 2022. - Vol. 11(1). - C. 10. - DOI: 10.3390/electronics11010010.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B8">
    <label>8.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Radiation-Tolerant Electronic Devices Using Wide Bandgap Semiconductors / Z. Muhammad [et al.] // Advanced Materials Technologies. - 2022. - Vol. 8(2). - C. 2200539. - DOI: 10.1002/admt.202200539.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Radiation-Tolerant Electronic Devices Using Wide Bandgap Semiconductors / Z. Muhammad [et al.] // Advanced Materials Technologies. - 2022. - Vol. 8(2). - C. 2200539. - DOI: 10.1002/admt.202200539.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B9">
    <label>9.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Derbyshire К. IC Materials For Extreme Conditions. - URL:  https://semiengineering.com/ic-materials-for-extreme-conditions (дата обращения: 18.01.2023).</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Derbyshire K. IC Materials For Extreme Conditions. - URL:  https://semiengineering.com/ic-materials-for-extreme-conditions (data obrascheniya: 18.01.2023).</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B10">
    <label>10.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Распоряжение Правительства РФ от 17 января 2020 г. № 20-р О Стратегии развития электронной промышленности РФ на период до 2030 г. и плане мероприятий по ее реализации.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Rasporyazhenie Pravitel'stva RF ot 17 yanvarya 2020 g. № 20-r O Strategii razvitiya elektronnoy promyshlennosti RF na period do 2030 g. i plane meropriyatiy po ee realizacii.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B11">
    <label>11.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Борисов, П.А. Расчет и моделирование выпрямителей / П.А. Борисов, В.С. Томасов. - СПб. :  СПб ГУИТМО, 2009. - 169 с.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Borisov, P.A. Raschet i modelirovanie vypryamiteley / P.A. Borisov, V.S. Tomasov. - SPb. :  SPb GUITMO, 2009. - 169 s.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B12">
    <label>12.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">ОСТ 11 0944-96. Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы расчета, измерения и контроля теплового сопротивления. - М. : ГУП НПП Пульсар, 1997. - 110 c/</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">OST 11 0944-96. Mikroshemy integral'nye i pribory poluprovodnikovye. Metody rascheta, izmereniya i kontrolya teplovogo soprotivleniya. - M. : GUP NPP Pul'sar, 1997. - 110 c/</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B13">
    <label>13.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Справочник по свойствам веществ и материалов: плотность, теплопроводность, теплоемкость, вязкость и другие физические свойства. - URL: http://thermalinfo.ru (дата обращения: 18.01.2023).</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Spravochnik po svoystvam veschestv i materialov: plotnost', teploprovodnost', teploemkost', vyazkost' i drugie fizicheskie svoystva. - URL: http://thermalinfo.ru (data obrascheniya: 18.01.2023).</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B14">
    <label>14.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Coulter R. NASA Glenn Demonstrates Electronics for Longer Venus Surface Missions. - URL: https://www.nasa.gov/press-release/nasa-glenn-demonstrates-electronics-for-longer-venus-surface-missions (дата обращения: 18.01.2023).</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Coulter R. NASA Glenn Demonstrates Electronics for Longer Venus Surface Missions. - URL: https://www.nasa.gov/press-release/nasa-glenn-demonstrates-electronics-for-longer-venus-surface-missions (data obrascheniya: 18.01.2023).</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B15">
    <label>15.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Лучинин, В. Отечественная экстремальная ЭКБ: карбидокремниевая индустрия СПбГЭТУ &quot;ЛЭТИ&quot; / В. Лучинин // Нано индустрия - 2016. - №3. - С. 78-89.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Luchinin, V. Otechestvennaya ekstremal'naya EKB: karbidokremnievaya industriya SPbGETU &quot;LETI&quot; / V. Luchinin // Nano industriya - 2016. - №3. - S. 78-89.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B16">
    <label>16.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Испытания радиоэлектронной аппаратуры на стойкость к воздействию импульсного гамма-излучения в условиях повышенной температуры / Е.Ю. Бахматов [и др.] // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2022. - № 4. - С. 38-41.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Ispytaniya radioelektronnoy apparatury na stoykost' k vozdeystviyu impul'snogo gamma-izlucheniya v usloviyah povyshennoy temperatury / E.Yu. Bahmatov [i dr.] // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2022. - № 4. - S. 38-41.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B17">
    <label>17.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Воробьева, И.В. Особенности деградации спектральных характеристик SIИ GAAS-фотодиодов при нейтронном облучении / И.В. Воробьева, С.М. Дубровских, О.В. Ткачев // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2022. - № 2. - С. 11-18.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Vorob'eva, I.V. Osobennosti degradacii spektral'nyh harakteristik SII GAAS-fotodiodov pri neytronnom obluchenii / I.V. Vorob'eva, S.M. Dubrovskih, O.V. Tkachev // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2022. - № 2. - S. 11-18.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B18">
    <label>18.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Комбаев, Т.Ш. Оценка требований к стойкости по дозовому эффекту используемых в бортовой аппаратуре электрорадиоизделий при полете космического аппарата к сатурну / Т.Ш. Комбаев, М.Е. Артемов, Н.М. Хамидуллина // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2022. - № 2. - С. 34-36.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Kombaev, T.Sh. Ocenka trebovaniy k stoykosti po dozovomu effektu ispol'zuemyh v bortovoy apparature elektroradioizdeliy pri polete kosmicheskogo apparata k saturnu / T.Sh. Kombaev, M.E. Artemov, N.M. Hamidullina // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2022. - № 2. - S. 34-36.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B19">
    <label>19.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Незамутдинов, Ф.Ф. Определение срока службы радиационно-стойкой аппаратуры для задачи мониторинга морской акватории / Ф.Ф. Незамутдинов, С.А. Филатов // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2021. - № 4. - С. 24-27.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Nezamutdinov, F.F. Opredelenie sroka sluzhby radiacionno-stoykoy apparatury dlya zadachi monitoringa morskoy akvatorii / F.F. Nezamutdinov, S.A. Filatov // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2021. - № 4. - S. 24-27.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B20">
    <label>20.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Таперо, К.И. Проблемные вопросы оценки стойкости электронной компонентной базы к воздействию поглощенной дозы ионизирующего излучения космического пространства / К.И. Таперо // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2021. - № 4. - С. 5-14.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Tapero, K.I. Problemnye voprosy ocenki stoykosti elektronnoy komponentnoy bazy k vozdeystviyu pogloschennoy dozy ioniziruyuschego izlucheniya kosmicheskogo prostranstva / K.I. Tapero // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2021. - № 4. - S. 5-14.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
  </ref-list>
 </back>
</article>
