Modeling of systems and processes

Моделирование систем и процессов

2219-0767

14704

10.12737/23652

RESULTS OF RESEARCHES OF FIRMNESS OF CHIPS ON THE EXAMPLE OF VLSI OF THE ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER

Результаты исследований стойкости микросхем на примере СБИС аналого-цифрового преобразователя

Кулай

А. Ю.

Kulay

A. Ю.

Скворцова

Татьяна Владимировна

Skvortsova

Tatyana Vladimirovna

Чубур

Кирилл Александрович

Chubur

K. A.

Анциферова

Валентина Ивановна

Antsiferova

V. Ivanovna

Зольников

Владимир Константинович

Zolnikov

Vladimir Константинович

wkz@rambler.ru

Грошев

А. С.

Groshev

A. С.

АО «Научно-исследовательский институт электронной техники» Воронеж Россия АО «Научно-исследовательский институт электронной техники» Воронеж Russian Federation

Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov

Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова RU FSBE Institution of Higher Education Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov RU

21 12 2016

9 2 39 41

https://zh-szf.ru/en/nauka/article/14704/view

В статье рассматривается оценка микросхем по стойкости к воздействию специальных факторов на примере СБИС аналого-цифрового преобразователя.

In article assessment of chips on resistance to influence of special factors on the example of VLSI of the analog-to-digital converter is considered.

Автоматизация проектирования микросхемы стойкость.

automation of design chip firmness.

Оценка соответствия микросхем требованиям по стойкости к воздействию специальных факторов проводили по методике, в которой контролировались параметры, указанные в табл. 1, на основе алгоритмов, изложенных в [1-4].Испытания микросхем на стойкость проводили в нормальных условиях и при верхнем значении температуры корпуса микросхемы. Контроль температуры на корпусе микросхемы проводили термопарой хромель-капель с использованием микропроцессорного терморегулятора ТРМ101 фирмы «ОВЕН», Россия. В процессе испытаний определяли уровень бессбойной работы, время потери работоспособности во время и непосредственно после воздействия фактора, уровень тиристорного эффекта (при его наличии), а также отсутствие катастрофических отказов.

Зольников, К. В. Расчет изменения схемотехнических параметров при воздействии низкоинтенсивного излучения факторов космического пространства [Текст] / К. В. Зольников, В. А. Скляр, В. П. Крюков, А. С. Грошев, К. А. Чубур // Моделирование систем и процессов. - 2015. - Т. 8. № 3. - С. 33-35.

Zol´nikov, K. V. Raschet izmeneniya skhemotekhnicheskikh parametrov pri vozdeystvii nizkointensivnogo izlucheniya faktorov kosmicheskogo prostranstva [Tekst] / K. V. Zol´nikov, V. A. Sklyar, V. P. Kryukov, A. S. Groshev, K. A. Chubur. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2015. - T. 8. № 3. - S. 33-35.

Зольников, К. В. Алгоритмическая основа моделирования отказов на глубоко-субмикронных технологиях [Текст] / К. В. Зольников, А. И. Яньков, А. В. Ачкасов, К. А. Чубур // Моделирование систем и процессов. - 2015. - Т. 8. № 1. - С. 15-17

Zol´nikov, K. V. Algoritmicheskaya osnova modelirovaniya otkazov na gluboko-submikronnykh tekhnologiyakh [Tekst] / K. V. Zol´nikov, A. I. Yan´kov, A. V. Achkasov, K. A. Chubur. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2015. - T. 8. № 1. - S. 15-17

Зольников, К. В. Современное проектирование электронной компонентной базы [Текст] / К. В. Зольников, В. В. Лавлинский // Экономика. Инновации. Управление качеством. - 2015. - № 1 (10). - С. 40-41.

Zol´nikov, K. V. Sovremennoe proektirovanie elektronnoy komponentnoy bazy [Tekst] / K. V. Zol´nikov, V. V. Lavlinskiy. Ekonomika. Innovatsii. Upravlenie kachestvom. - 2015. - № 1 (10). - S. 40-41.

Зольников, К. В. Метод оценки тока ионизации для учета импульсного излучения в САПР [Текст] / К. В. Зольников, В. А. Скляр, С. А. Евдокимова, Т. В. Скворцова // Экономика. Инновации. Управление качеством. - 2015. - № 1 (10). - С. 42-45.

Zol´nikov, K. V. Metod otsenki toka ionizatsii dlya ucheta impul´snogo izlucheniya v SAPR [Tekst] / K. V. Zol´nikov, V. A. Sklyar, S. A. Evdokimova, T. V. Skvortsova. Ekonomika. Innovatsii. Upravlenie kachestvom. - 2015. - № 1 (10). - S. 42-45.