Modeling of systems and processes

Моделирование систем и процессов

2219-0767

22495

10.12737/article_5b574c7bc93924.16311213

Технические науки

Analysis of resistance to heavy charged particles radiation-hardened microcontroller, made by domestic technology

Анализ стойкости к ТЗЧ радиационно-стойкого микроконтроллера 1874BE10T, выполненного по отечественной технологии 0.25 мкм

Арзамасцев

М. Ю.

Arzamascev

M. Yu.

Яньков

Андрей Ильич

Yankov

A. Il'ich

АО "Научно-исследовательский институт электронной техники" Воронеж Россия АО "Научно-исследовательский институт электронной техники" Воронеж Russian Federation

ООО "НПП "Детектор" Россия LLC «SPE Detector» Russian Federation

11 1 4 9

https://zh-szf.ru/en/nauka/article/22495/view

В статье представлены результаты испытаний на стойкость к воздействию тяжелых заряженных частиц (ТЗЧ) на моделирующей установке У-400М лаборатории ядерных реакций (ЛЯР) Объединенного института ядерных исследований (ОИЯИ) радиационно-стойкого микропроцессора 1874ВЕ10Т. Проведена оценка влияния воздействия фотонного излучения и тяжелых заряженных частиц на радиационно-стойкие микросхемы КМОП 1906ВМ024 и КМОП КНИ 1874ВЕ10Т технологий.

Радиационная стойкость тяжелые заряженные частицы микропроцессор 1874BE10T установка У-400М микросхемы.

Подход к тестированию сложно-функциональных микросхем примененный при испытаниях двухпроцессорной системы на кристалле на базе ядер 32-разрядных процессоров ЦОС / А. И. Яньков, А. В. Ачкасов, К. В. Зольников, М. В. Конарев, Н. А. Орликовский // Элементная база отечественной радиоэлектроники : труды I Российско-Белорусской конференции, посвященной 110-летию со дня рождения О.В. Лосева. - Нижний Новгород, 2013. - С. 96-99.

Podhod k testirovaniyu slozhno-funkcional'nyh mikroshem primenennyy pri ispytaniyah dvuhprocessornoy sistemy na kristalle na baze yader 32-razryadnyh processorov COS / A. I. Yan'kov, A. V. Achkasov, K. V. Zol'nikov, M. V. Konarev, N. A. Orlikovskiy // Elementnaya baza otechestvennoy radioelektroniki : trudy I Rossiysko-Belorusskoy konferencii, posvyaschennoy 110-letiyu so dnya rozhdeniya O.V. Loseva. - Nizhniy Novgorod, 2013. - S. 96-99.

Зольников, В. К. Особенности выбора оптимального состава контролируемых параметров-критериев годности / В. К. Зольников, А. И. Яньков, В. П. Крюков // Радиационная стойкость электронных систем «Стойкость - 2016» : тезисы докладов 19 Всероссийской научно-практической конференции по радиационной стойкости электронных систем. - М. : МИФИ, 2016. - С. 47-50.

Zol'nikov, V. K. Osobennosti vybora optimal'nogo sostava kontroliruemyh parametrov-kriteriev godnosti / V. K. Zol'nikov, A. I. Yan'kov, V. P. Kryukov // Radiacionnaya stoykost' elektronnyh sistem «Stoykost' - 2016» : tezisy dokladov 19 Vserossiyskoy nauchno-prakticheskoy konferencii po radiacionnoy stoykosti elektronnyh sistem. - M. : MIFI, 2016. - S. 47-50.

Разработка технических средств контроля работоспособности ЭКБ специального назначения при экспериментальной оценки радиационной стойкости / В. К. Зольников, А. Ю. Кулай, И. И. Струков, К. А. Чубур, Ю. А. Чевычелов, С. С. Веневитина, А. И. Яньков // Информационные технологии в управлении и моделировании мехатронных систем : материалы I Международной научно-практической конференции. - Тамбов, 2017. - С. 127-131.

Razrabotka tehnicheskih sredstv kontrolya rabotosposobnosti EKB special'nogo naznacheniya pri eksperimental'noy ocenki radiacionnoy stoykosti / V. K. Zol'nikov, A. Yu. Kulay, I. I. Strukov, K. A. Chubur, Yu. A. Chevychelov, S. S. Venevitina, A. I. Yan'kov // Informacionnye tehnologii v upravlenii i modelirovanii mehatronnyh sistem : materialy I Mezhdunarodnoy nauchno-prakticheskoy konferencii. - Tambov, 2017. - S. 127-131.

Яньков, А. И. Методы испытаний современных СБИС / А. И. Яньков, В. К. Зольников, В. Е. Межов // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 1. - С. 67-69.

Yan'kov, A. I. Metody ispytaniy sovremennyh SBIS / A. I. Yan'kov, V. K. Zol'nikov, V. E. Mezhov // Modelirovanie sistem i processov. - 2013. - № 1. - S. 67-69.

РД 139-0139-2005 Нормативный документ по стандартизации РКТ. Методы оценки стойкости к воздействию заряженных частиц космического пространства по одиночным сбоям и отказам. - Москва : ЦКБС ФГУП «ЦНИИ машиностроения», 2005. - 74 с.

RD 139-0139-2005 Normativnyy dokument po standartizacii RKT. Metody ocenki stoykosti k vozdeystviyu zaryazhennyh chastic kosmicheskogo prostranstva po odinochnym sboyam i otkazam. - Moskva : CKBS FGUP «CNII mashinostroeniya», 2005. - 74 s.

Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем / В.Н. Ачкасов, В.А. Смерек, Д.М. Уткин, В.К. Зольников // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2012. - № 1.- С. 634-637.

Metody obespecheniya stoykosti mikroshem k odinochnym sobytiyam pri proektirovanii radiacionno-stoykih mikroshem / V.N. Achkasov, V.A. Smerek, D.M. Utkin, V.K. Zol'nikov // Problemy razrabotki perspektivnyh mikro- i nanoelektronnyh sistem (MES). - 2012. - № 1.- S. 634-637.

Смерек, В. А. Разработка радиационно-стойкого микроконтроллера со встроенными специальными средствами / В.А. Смерек, А.А. Стоянов, К.В. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 1. - С. 48-51.

Smerek, V. A. Razrabotka radiacionno-stoykogo mikrokontrollera so vstroennymi special'nymi sredstvami / V.A. Smerek, A.A. Stoyanov, K.V. Zol'nikov // Modelirovanie sistem i processov. - 2013. - № 1. - S. 48-51.

Моделирование воздействия ТЗЧ в активных областях элементов микросхем при проектировании / К.В. Зольников, В.А. Смерек, А.В. Ачкасов, В.А. Скляр // Моделирование систем и процессов. - 2014. - № 1. - С. 15-17.

Modelirovanie vozdeystviya TZCh v aktivnyh oblastyah elementov mikroshem pri proektirovanii / K.V. Zol'nikov, V.A. Smerek, A.V. Achkasov, V.A. Sklyar // Modelirovanie sistem i processov. - 2014. - № 1. - S. 15-17.