<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article
PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.4 20190208//EN"
       "JATS-journalpublishing1.dtd">
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" article-type="research-article" dtd-version="1.4" xml:lang="en">
 <front>
  <journal-meta>
   <journal-id journal-id-type="publisher-id">Modeling of systems and processes</journal-id>
   <journal-title-group>
    <journal-title xml:lang="en">Modeling of systems and processes</journal-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>Моделирование систем и процессов</trans-title>
    </trans-title-group>
   </journal-title-group>
   <issn publication-format="print">2219-0767</issn>
  </journal-meta>
  <article-meta>
   <article-id pub-id-type="publisher-id">2311</article-id>
   <article-id pub-id-type="doi">10.12737/4045</article-id>
   <article-categories>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="ru">
     <subject>Технические науки</subject>
    </subj-group>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="en">
     <subject></subject>
    </subj-group>
    <subj-group>
     <subject>Технические науки</subject>
    </subj-group>
   </article-categories>
   <title-group>
    <article-title xml:lang="en">Problems of modeling the basic elements CMOS LSI dual-purpose CAD</article-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>Проблемы моделирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения в САПР</trans-title>
    </trans-title-group>
   </title-group>
   <contrib-group content-type="authors">
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Крюков</surname>
       <given-names>В. П.</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Kryukov</surname>
       <given-names>V. П.</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-1"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Зольников</surname>
       <given-names>Константин Владимирович</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Zolnikov</surname>
       <given-names>Konstantin Vladimirovich</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-2"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Евдокимова</surname>
       <given-names>С. А.</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Evdokimova</surname>
       <given-names>S. А.</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
    </contrib>
   </contrib-group>
   <aff-alternatives id="aff-1">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">АО «Научно-исследовательский институт электронной техники»</institution>
     <city>Воронеж</city>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">АО «Научно-исследовательский институт электронной техники»</institution>
     <city>Воронеж</city>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-2">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова</institution>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov</institution>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <pub-date publication-format="print" date-type="pub" iso-8601-date="2014-05-22T00:00:00+04:00">
    <day>22</day>
    <month>05</month>
    <year>2014</year>
   </pub-date>
   <pub-date publication-format="electronic" date-type="pub" iso-8601-date="2014-05-22T00:00:00+04:00">
    <day>22</day>
    <month>05</month>
    <year>2014</year>
   </pub-date>
   <volume>6</volume>
   <issue>4</issue>
   <fpage>41</fpage>
   <lpage>44</lpage>
   <self-uri xlink:href="https://zh-szf.ru/en/nauka/article/2311/view">https://zh-szf.ru/en/nauka/article/2311/view</self-uri>
   <abstract xml:lang="ru">
    <p>В работе рассмотрены проблемы моделирования базовых элементов микросхем, создания математического, информационного и программного обеспечения с учетом разделения функций между предприятиями и возможностями моделирования ионизационных и структурных эффектов.</p>
   </abstract>
   <trans-abstract xml:lang="en">
    <p>The paper considers problems of modeling the basic elements of micro-schemes, creation of mathematical, informational and software taking into account the division of responsibilities between enterprises and modeling capabilities of ionizate-organizational and structural effects.</p>
   </trans-abstract>
   <kwd-group xml:lang="ru">
    <kwd>САПР</kwd>
    <kwd>микросхема</kwd>
    <kwd>радиация</kwd>
   </kwd-group>
   <kwd-group xml:lang="en">
    <kwd>CAD</kwd>
    <kwd>chip</kwd>
    <kwd>radiation</kwd>
   </kwd-group>
  </article-meta>
 </front>
 <body>
  <p>В настоящее время для проектирования БИС при-меняется как традиционная и так называемая техно-логия “разделения функций”, когда проектирование и изготовление БИС осуществляется различными пред-приятиями.Как в первом, так и во втором случае используется подход проектирования БИС «сверху-вниз». При данном способе проектирование осуществляется, начиная с верхнего уровня – поведенческого моделирования, далее на функционально-логическое, схемотехническое, топологическое и проектирование фотошаблонов и изготовление БИС.При использовании технологии «разделения функций» процесс проектирования проходит те же стадии, однако этап проектирования  и изготовления может осуществляться различными предприятиями.Как правило, у каждого большого предприятия электронного профиля имеется своя постоянная группа заказчиков. Заказы ориентированы на проектирование и изготовление определенного класса БИС.В рамках данной работы рассматривается базовый набор БИС для цифровой обработки сигналов.На начальном этапе проектирования таких БИС определяется логический и схемотехнический базис для их построения, внедряются типовые стандартные двоичные элементы (И-НЕ, ИЛИ-НЕ, триггеры и др.), осуществляется их проектирование на различных иерархических уровнях и постоянно данная библио-тека пополняется. Далее на основе стандартных ти-повых элементов проектируются базовые элементы КМОП БИС ЦОС двойного назначения, представляющие собой большие законченные функциональные блоки (ОЗУ, дешифраторы, счетчики, регистры, АЛУ и др.), которые также отрабатываются на всех уровнях процесса проектирования и уже они являют-ся основой создания КМОП БИС ЦОС.При таком подходе процесс проектирования может быть разделен между предприятием, ориентирован-ном на проектирование базовых элементов, а окончательное проектирование БИС осуществляется другим предприятием.В этом случае на первом этапе проектирования мо-гут использоваться АРМ на недорогих популярных ПЭВМ, которые в то же время обладают достаточной производительностью для решения задач проектирования базовых элементов БИС. С другой стороны и к математическому обеспечению проектирования базо-вых элементов БИС не предъявляется жестких требо-ваний по предельной сложности (количеству элемен-тов) и скорости вычислений.Таким образом, в данном случае можно «приблизить» вычислительные средства к любому разработчику из-за приемлемой стоимости как аппаратных, так и программных проблемно-ориентированных средств, небольших габаритов АРМ и простоты экс-плуатации.Однако, как показал проведенный выше анализ, наиболее популярные АРМ на ПЭВМ имеют существенные недостатки – не имеют полного набора проблемно-ориентированных программ для реализации всех этапов процесса проектирования, не в достаточной степени проработаны вопросы автоматизации преобразования структуры схемы при переходе на другой уровень моделирования, что значительно усложняет организацию сквозного цикла проектирования, и требуется развитие их лингвистического и информационного обеспечения.Поэтому задача создания программных средств, обеспечивающих единство и непрерывность много-уровневого процесса проектирования с единой базой данных для реализации сквозного цикла проектирования с непосредственными выходами в локальные базы данных, а также все необходимые задачи по описанию, вводу, обработки и документированию проектов базовых элементов и их характеристик на основе наиболее естественных форм их представления являются актуальными. </p>
 </body>
 <back>
  <ref-list>
   <ref id="B1">
    <label>1.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Зольников, В. К. Формирование библиотек типовых элементов и СФ блоков [Текст] / В. К. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2011. - № 3. - С. 27-29.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Zol&amp;#180;nikov, V. K. Formirovanie bibliotek tipovykh elementov i SF blokov [Tekst] / V. K. Zol&amp;#180;nikov. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2011. - № 3. - S. 27-29.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B2">
    <label>2.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Межов, В. Е. Алгоритмы конструкторского проектирования базовых элементов радиационно-стойких БИС [Текст] / В. Е. Межов, П. Р. Машевич, Ю. К. Фортинский, В. К. Зольников// Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2005. - № 1-2. - С. 125-126.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Mezhov, V. E. Algoritmy konstruktorskogo proektirovaniya bazovykh elementov radiatsionno-stoykikh BIS [Tekst] / V. E. Mezhov, P. R. Mashevich, Yu. K. Fortinskiy, V. K. Zol&amp;#180;nikov// Voprosy atomnoy nauki i tekhniki. Seriya: Fizika radiatsionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2005. - № 1-2. - S. 125-126.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B3">
    <label>3.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Яньков, А. И. Методы обеспечения сбоеустойчивости к одиночным событиям в процессе проектирования для микропроцессоров K1830BE32УМ и 1830ВЕ32У [Текст] / А. И. Яньков, В. А. Смерек, В. П. Крюков, В. К. Зольников // Моделирование систем и процессов. -2012. - № 1. - С. 92-95.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Yan&amp;#180;kov, A. I. Metody obespecheniya sboeustoychivosti k odinochnym sobytiyam v protsesse proektirovaniya dlya mikroprotsessorov K1830BE32UM i 1830VE32U [Tekst] / A. I. Yan&amp;#180;kov, V. A. Smerek, V. P. Kryukov, V. K. Zol&amp;#180;nikov. Modelirovanie sistem i protsessov. -2012. - № 1. - S. 92-95.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B4">
    <label>4.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Зольников, В. К. Проектирование микросхем с учетом радиационного воздействия [Текст] / В. К. Зольников, В. П. Крюков, А. И. Яньков // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2009. - № 02. - С. 28-30.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Zol&amp;#180;nikov, V. K. Proektirovanie mikroskhem s uchetom radiatsionnogo vozdeystviya [Tekst] / V. K. Zol&amp;#180;nikov, V. P. Kryukov, A. I. Yan&amp;#180;kov. Voprosy atomnoy nauki i tekhniki. Seriya: Fizika radiatsionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2009. - № 02. - S. 28-30.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B5">
    <label>5.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Потапов, И. П. Средства автоматизации проектирования радиационно-стойкой элементной базы [Текст] / И. П. Потапов, А. В. Ачкасов, В. К. Зольников // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2006. - № 1-2. - С. 147-148</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Potapov, I. P. Sredstva avtomatizatsii proektirovaniya radiatsionno-stoykoy elementnoy bazy [Tekst] / I. P. Potapov, A. V. Achkasov, V. K. Zol&amp;#180;nikov. Voprosy atomnoy nauki i tekhniki. Seriya: Fizika radiatsionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2006. - № 1-2. - S. 147-148</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
  </ref-list>
 </back>
</article>
