Modeling of systems and processes Modeling of systems and processes Моделирование систем и процессов 2219-0767 30313 10.12737/article_5d639c80c07798.20924462 Технические науки Технические науки VERIFICATION OF PROJECTS AND CREATION OF TEST SEQUENCES FOR CHIP DESIGN Верификация проектов и создание тестовых последовательностей для проектирования микросхем Зольников Владимир Константинович Zolnikov V. K. Евдокимова Светлана Анатольевна Evdokimova Svetlana Anatol'evna

кандидат технических наук;

candidate of technical sciences;

 Скворцова Татьяна Владимировна Skvortsova Tatyana Vladimirovna Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov 12 1 10 16 https://zh-szf.ru/en/nauka/article/30313/view

В статье приводится анализ существующих подходов к верификации проектов и сравнение их характеристик. Рассматриваются методология верификации «систем на кристалле» (SoC), ее этапы и требования, предъявляемые к верификационным процедурам. Описаны подходы к созданию тестовых последовательностей, необходимых для проверки совпадения фактических выходных значений с ожидаемыми. Показана схема реализации самопроверяющейся тестовой последовательности.

В статье приводится анализ существующих подходов к верификации проектов и сравнение их характеристик. Рассматриваются методология верификации «систем на кристалле» (SoC), ее этапы и требования, предъявляемые к верификационным процедурам. Описаны подходы к созданию тестовых последовательностей, необходимых для проверки совпадения фактических выходных значений с ожидаемыми. Показана схема реализации самопроверяющейся тестовой последовательности.

 Микросхема проектирование верификация тестовая последовательность системы на кристалле.

Скляр, В. А. Проектирование и испытания микросхем для систем сбора и обработки информации / В.А. Скляр, А.В. Ачкасов, К.В. Зольников // Радиотехника. - 2014. - № 6. - С. 94-98. Sklyar, V. A. Proektirovanie i ispytaniya mikroshem dlya sistem sbora i obrabotki informacii / V.A. Sklyar, A.V. Achkasov, K.V. Zol'nikov // Radiotehnika. - 2014. - № 6. - S. 94-98. Скляр, В.В. Совмещенная аппаратно-программная верификация микросхем / В.А. Скляр, К.В. Зольников, И.В. Нагорный // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 2. - С. 63-65. Sklyar, V.V. Sovmeschennaya apparatno-programmnaya verifikaciya mikroshem / V.A. Sklyar, K.V. Zol'nikov, I.V. Nagornyy // Modelirovanie sistem i processov. - 2012. - № 2. - S. 63-65. Методы схемотехнического моделирования КМОП СБИС с учетом радиации / К.В. Зольников, В.А. Скляр, В.И. Анциферова, С.А. Евдокимова // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2014. -№ 2. - С. 5-9. Metody shemotehnicheskogo modelirovaniya KMOP SBIS s uchetom radiacii / K.V. Zol'nikov, V.A. Sklyar, V.I. Anciferova, S.A. Evdokimova // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2014. -№ 2. - S. 5-9. Основные методы и процедуры верификации сф-блоков / В.А. Скляр, В.П. Крюков, В.Н. Ачкасов, Ю.А. Чевычелов // Моделирование систем и процессов. - 2011. - № 4. - С. 58-61. Osnovnye metody i procedury verifikacii sf-blokov / V.A. Sklyar, V.P. Kryukov, V.N. Achkasov, Yu.A. Chevychelov // Modelirovanie sistem i processov. - 2011. - № 4. - S. 58-61. Зольников, В.К. Методика проектирования современной микрокомпонентной базы с учетом одиночных событий радиационного воздействия / В.К. Зольников // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2012. - № 3. - С. 5-8. Zol'nikov, V.K. Metodika proektirovaniya sovremennoy mikrokomponentnoy bazy s uchetom odinochnyh sobytiy radiacionnogo vozdeystviya / V.K. Zol'nikov // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2012. - № 3. - S. 5-8. Условия эксплуатации нового поколения микросхем специального назначения / В.К. Зольников, В.П. Крюков, А.Ю. Кулай, М.В. Конарев, И.И. Струков, М.В. Солодилов // Моделирование систем и процессов. - 2017. - Т. 10, № 1. - С. 23-26. Usloviya ekspluatacii novogo pokoleniya mikroshem special'nogo naznacheniya / V.K. Zol'nikov, V.P. Kryukov, A.Yu. Kulay, M.V. Konarev, I.I. Strukov, M.V. Solodilov // Modelirovanie sistem i processov. - 2017. - T. 10, № 1. - S. 23-26. Зольников, К.В. Современное проектирование электронной компонентной базы / К.В. Зольников, В.В. Лавлинский // Экономика. Инновации. Управление качеством. - 2015. - № 1 (10). - С. 40-41. Zol'nikov, K.V. Sovremennoe proektirovanie elektronnoy komponentnoy bazy / K.V. Zol'nikov, V.V. Lavlinskiy // Ekonomika. Innovacii. Upravlenie kachestvom. - 2015. - № 1 (10). - S. 40-41. Развитие технологии и платформ проектирования при топологических нормах менее 90 нм / В.А. Скляр, К.В. Зольников, В.В. Лавлинский, К.И. Таперо, А.И. Озеров // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 4. - С. 72-76. Razvitie tehnologii i platform proektirovaniya pri topologicheskih normah menee 90 nm / V.A. Sklyar, K.V. Zol'nikov, V.V. Lavlinskiy, K.I. Tapero, A.I. Ozerov // Modelirovanie sistem i processov. - 2012. - № 4. - S. 72-76. Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем / В.Н. Ачкасов, В.А. Смерек, Д.М. Уткин, В.К. Зольников // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2012. - № 1. - С. 634-637. Metody obespecheniya stoykosti mikroshem k odinochnym sobytiyam pri proektirovanii radiacionno-stoykih mikroshem / V.N. Achkasov, V.A. Smerek, D.M. Utkin, V.K. Zol'nikov // Problemy razrabotki perspektivnyh mikro- i nanoelektronnyh sistem (MES). - 2012. - № 1. - S. 634-637. Кривов, А.С. Методическое и техническое обеспечение испытаний изделий электронной промышленности на стойкость к электростатическим разрядам и одиночным импульсам напряжения / А.С. Кривов, В.А. Тухас, А.И. Яньков // Петербургский журнал электроники. -2017. - № 2-3 (87-88). - С. 111-116. Krivov, A.S. Metodicheskoe i tehnicheskoe obespechenie ispytaniy izdeliy elektronnoy promyshlennosti na stoykost' k elektrostaticheskim razryadam i odinochnym impul'sam napryazheniya / A.S. Krivov, V.A. Tuhas, A.I. Yan'kov // Peterburgskiy zhurnal elektroniki. -2017. - № 2-3 (87-88). - S. 111-116. Методы обеспечения сбоеустойчивости к одиночным событиям в процессе проектирования для микропроцессоров K1830BE32УМ и 1830ВЕ32У / А.И. Яньков, В.А. Смерек, В.П. Крюков, В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 1. - С. 92-95. Metody obespecheniya sboeustoychivosti k odinochnym sobytiyam v processe proektirovaniya dlya mikroprocessorov K1830BE32UM i 1830VE32U / A.I. Yan'kov, V.A. Smerek, V.P. Kryukov, V.K. Zol'nikov // Modelirovanie sistem i processov. - 2012. - № 1. - S. 92-95.