Modeling of systems and processes

Моделирование систем и процессов

2219-0767

33830

10.12737/2219-0767-2019-12-3-53-58

Технические науки

SPECIAL-PURPOSE REDUNDANCY OF ADC AND DAC UNITS

Накристальное резервирование блоков АЦП и ЦАП специального назначения

Кононов

Владимир Сергеевич

Kononov

Vladimir Sergeevich

АО «Специализированное конструкторско-технологическое бюро электронных систем» (ОАО «СКТБ ЭС») Россия АО «Специализированное конструкторско-технологическое бюро электронных систем» (ОАО «СКТБ ЭС») Russian Federation

12 3 53 58

https://zh-szf.ru/en/nauka/article/33830/view

Рассматривается техника накристального резервирования блоков АЦП и ЦАП для повышения живучести преобразователей в условиях эксплуатации. Обоснована целесообразность резервирования основных цифровых блоков (сумматоры, регистры, устройства ФАПЧ), а также периферийных ЦАП и компараторов, применяемых при автоматической калибровке преобразователей

The technique of crystalline redundancy of ADC and DAC units is considered to increase the survivability of converters in operating conditions. The expediency of backing up the main digital blocks (adders, registers, PLLs), as well as peripheral DACs and comparators used for automatic calibration and calibration of converters is substantiated.

Аналого-цифровой преобразователь (АЦП) цифро-аналоговый преобразователь (ЦАП) резервирование блоки живучесть.

analog-to-digital converter (ADC) digital-to-analog converter (DAC) redundancy blocks survivability

Ионизирующие излучения космического пространства и их воздействие на бортовую аппаратуру космических аппаратов / В. С. Анашин [и др.]; под ред. Г. Г. Райкунова. - М. : ФИЗМАТЛИТ, 2013. - 255 c.

Ioniziruyuschie izlucheniya kosmicheskogo prostranstva i ih vozdeystvie na bortovuyu apparaturu kosmicheskih apparatov / V. S. Anashin [i dr.]; pod red. G. G. Raykunova. - M. : FIZMATLIT, 2013. - 255 c.

Моделирование ионизационных эффектов и эффектов смещения в цифровых микросхемах для САПР / В. К. Зольников, В. В. Лавлинский, Ю. А. Чевычелов, Ю. С. Сербулов, В. И. Анциферова, В. Н. Ачкасов, Ю. Г. Табаков // Лесотехнический журнал. - 2014. - Т. 4, № 4 (16). - С. 280-291.

Modelirovanie ionizacionnyh effektov i effektov smescheniya v cifrovyh mikroshemah dlya SAPR / V. K. Zol'nikov, V. V. Lavlinskiy, Yu. A. Chevychelov, Yu. S. Serbulov, V. I. Anciferova, V. N. Achkasov, Yu. G. Tabakov // Lesotehnicheskiy zhurnal. - 2014. - T. 4, № 4 (16). - S. 280-291.

Анализ проблем моделирования элементов КМОП БИС / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, А. В. Фомичев, В. Н. Чикин, А. В. Ачкасов, В. Ф. Зинченко // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 4. - С. 20-25.

Analiz problem modelirovaniya elementov KMOP BIS / V. K. Zol'nikov, S. A. Evdokimova, A. V. Fomichev, V. N. Chikin, A. V. Achkasov, V. F. Zinchenko // Modelirovanie sistem i processov. - 2018. - T. 11, № 4. - S. 20-25.

Крюков, В. П. Проблемы моделирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения в САПР / В. П. Крюков, К. В. Зольников, С. А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 4. - С. 41-44.

Kryukov, V. P. Problemy modelirovaniya bazovyh elementov KMOP BIS dvoynogo naznacheniya v SAPR / V. P. Kryukov, K. V. Zol'nikov, S. A. Evdokimova // Modelirovanie sistem i processov. - 2013. - № 4. - S. 41-44.

Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем / В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек, Д. М. Уткин, В. К. Зольников // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2012. - № 1. - С. 634-637.

Metody obespecheniya stoykosti mikroshem k odinochnym sobytiyam pri proektirovanii radiacionno-stoykih mikroshem / V. N. Achkasov, V. A. Smerek, D. M. Utkin, V. K. Zol'nikov // Problemy razrabotki perspektivnyh mikro- i nanoelektronnyh sistem (MES). - 2012. - № 1. - S. 634-637.

Зольников, В. К. Методика проектирования радиационно-стойких интегральных схем / В. К. Зольников, В. Н. Ачкасов, В. П. Крюков // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2004. - № 1-2. - С. 57-60.

Zol'nikov, V. K. Metodika proektirovaniya radiacionno-stoykih integral'nyh shem / V. K. Zol'nikov, V. N. Achkasov, V. P. Kryukov // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2004. - № 1-2. - S. 57-60.

Развитие технологии и платформ проектирования при топологических нормах менее 90 нм / В. А. Скляр, К. В. Зольников, В. В. Лавлинский, К. И. Таперо, А. И. Озеров // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 4. - С. 72-76.

Razvitie tehnologii i platform proektirovaniya pri topologicheskih normah menee 90 nm / V. A. Sklyar, K. V. Zol'nikov, V. V. Lavlinskiy, K. I. Tapero, A. I. Ozerov // Modelirovanie sistem i processov. - 2012. - № 4. - S. 72-76.

Беляева, Т. П. Модель оптимального планирования проектов создания изделий микроэлектроники проектов / Т. П. Беляева, А. П. Затворницкий // Программные продукты и системы. - 2011. - № 2. - С. 61-64.

Belyaeva, T. P. Model' optimal'nogo planirovaniya proektov sozdaniya izdeliy mikroelektroniki proektov / T. P. Belyaeva, A. P. Zatvornickiy // Programmnye produkty i sistemy. - 2011. - № 2. - S. 61-64.

Зольников, К. В. Современное проектирование электронной компонентной базы / К. В. Зольников, В. В. Лавлинский // Экономика. Инновации. Управление качеством. - 2015. - № 1 (10). - С. 40-41.

Zol'nikov, K. V. Sovremennoe proektirovanie elektronnoy komponentnoy bazy / K. V. Zol'nikov, V. V. Lavlinskiy // Ekonomika. Innovacii. Upravlenie kachestvom. - 2015. - № 1 (10). - S. 40-41.

10.

Кононов, В. С. Схемотехнические методы повышения стойкости аналоговых блоков АЦП к воздействию тяжелых заряженных частиц / В. С. Кононов, А. А. Илларионов // Теория и техника специальной радиосвязи. - 2018. - №2. - С. 101-107.

Kononov, V. S. Shemotehnicheskie metody povysheniya stoykosti analogovyh blokov ACP k vozdeystviyu tyazhelyh zaryazhennyh chastic / V. S. Kononov, A. A. Illarionov // Teoriya i tehnika special'noy radiosvyazi. - 2018. - №2. - S. 101-107.

11.

Смерек, В. К. Модель физических процессов в элементах СБИС при воздействии тяжелых заряженных частиц / В. К. Смерек, В. К. Зольников, К. И. Таперо // Моделирование систем и процессов. - 2010. - № 1-2. - С. 41-48.

Smerek, V. K. Model' fizicheskih processov v elementah SBIS pri vozdeystvii tyazhelyh zaryazhennyh chastic / V. K. Smerek, V. K. Zol'nikov, K. I. Tapero // Modelirovanie sistem i processov. - 2010. - № 1-2. - S. 41-48.

12.

Зольников, В. К. Верификация проектов и создание тестовых последовательностей для проектирования микросхем / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, Т. В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 10-16.

Zol'nikov, V. K. Verifikaciya proektov i sozdanie testovyh posledovatel'nostey dlya proektirovaniya mikroshem / V. K. Zol'nikov, S. A. Evdokimova, T. V. Skvorcova // Modelirovanie sistem i processov. - 2019. - T. 12, № 1. - S. 10-16.

13.

Кононов, В. С. Локализация и нейтрализация случайных дефектов при повышении ресурса работоспособности АЦП и ЦАП / В. С. Кононов, С. И. Рембеза // Вестник Воронежского государственного технического университета. - 2018. - Т. 14, № 2. - С. 114-119.

Kononov, V. S. Lokalizaciya i neytralizaciya sluchaynyh defektov pri povyshenii resursa rabotosposobnosti ACP i CAP / V. S. Kononov, S. I. Rembeza // Vestnik Voronezhskogo gosudarstvennogo tehnicheskogo universiteta. - 2018. - T. 14, № 2. - S. 114-119.