НАКРИСТАЛЬНОЕ РЕЗЕРВИРОВАНИЕ БЛОКОВ АЦП И ЦАП СПЕЦИАЛЬНОГО НАЗНАЧЕНИЯ
Аннотация и ключевые слова
Аннотация (русский):
Рассматривается техника накристального резервирования блоков АЦП и ЦАП для повышения живучести преобразователей в условиях эксплуатации. Обоснована целесообразность резервирования основных цифровых блоков (сумматоры, регистры, устройства ФАПЧ), а также периферийных ЦАП и компараторов, применяемых при автоматической калибровке преобразователей

Ключевые слова:
Аналого-цифровой преобразователь (АЦП), цифро-аналоговый преобразователь (ЦАП), резервирование, блоки, живучесть.
Список литературы

1. Ионизирующие излучения космического пространства и их воздействие на бортовую аппаратуру космических аппаратов / В. С. Анашин [и др.]; под ред. Г. Г. Райкунова. - М. : ФИЗМАТЛИТ, 2013. - 255 c.

2. Моделирование ионизационных эффектов и эффектов смещения в цифровых микросхемах для САПР / В. К. Зольников, В. В. Лавлинский, Ю. А. Чевычелов, Ю. С. Сербулов, В. И. Анциферова, В. Н. Ачкасов, Ю. Г. Табаков // Лесотехнический журнал. - 2014. - Т. 4, № 4 (16). - С. 280-291.

3. Анализ проблем моделирования элементов КМОП БИС / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, А. В. Фомичев, В. Н. Чикин, А. В. Ачкасов, В. Ф. Зинченко // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 4. - С. 20-25.

4. Крюков, В. П. Проблемы моделирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения в САПР / В. П. Крюков, К. В. Зольников, С. А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 4. - С. 41-44.

5. Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем / В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек, Д. М. Уткин, В. К. Зольников // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2012. - № 1. - С. 634-637.

6. Зольников, В. К. Методика проектирования радиационно-стойких интегральных схем / В. К. Зольников, В. Н. Ачкасов, В. П. Крюков // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2004. - № 1-2. - С. 57-60.

7. Развитие технологии и платформ проектирования при топологических нормах менее 90 нм / В. А. Скляр, К. В. Зольников, В. В. Лавлинский, К. И. Таперо, А. И. Озеров // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 4. - С. 72-76.

8. Беляева, Т. П. Модель оптимального планирования проектов создания изделий микроэлектроники проектов / Т. П. Беляева, А. П. Затворницкий // Программные продукты и системы. - 2011. - № 2. - С. 61-64.

9. Зольников, К. В. Современное проектирование электронной компонентной базы / К. В. Зольников, В. В. Лавлинский // Экономика. Инновации. Управление качеством. - 2015. - № 1 (10). - С. 40-41.

10. Кононов, В. С. Схемотехнические методы повышения стойкости аналоговых блоков АЦП к воздействию тяжелых заряженных частиц / В. С. Кононов, А. А. Илларионов // Теория и техника специальной радиосвязи. - 2018. - №2. - С. 101-107.

11. Смерек, В. К. Модель физических процессов в элементах СБИС при воздействии тяжелых заряженных частиц / В. К. Смерек, В. К. Зольников, К. И. Таперо // Моделирование систем и процессов. - 2010. - № 1-2. - С. 41-48.

12. Зольников, В. К. Верификация проектов и создание тестовых последовательностей для проектирования микросхем / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, Т. В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 10-16.

13. Кононов, В. С. Локализация и нейтрализация случайных дефектов при повышении ресурса работоспособности АЦП и ЦАП / В. С. Кононов, С. И. Рембеза // Вестник Воронежского государственного технического университета. - 2018. - Т. 14, № 2. - С. 114-119.

Войти или Создать
* Забыли пароль?