Modeling of systems and processes Modeling of systems and processes Моделирование систем и процессов 2219-0767 37766 10.12737/2219-0767-2020-13-1-83-87 Технические науки Технические науки CREATING A TEST ENVIRONMENT AND HOW TO LOAD TESTS DURING CHIP DESIGN Создание тестового окружения и порядок загрузки тестов в процессе проектирования микросхем Чубур Кирилл Александрович Chubur K. A. Кулай А. Ю. Kulay A. Ю. Савченко Андрей Леонидович Savchenko Andrey Леонидович Зольников Константин Владимирович Zolnikov Konstantin Vladimirovich Гриднев А. Е. Gridnev A. E. Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова RU FSBE Institution of Higher Education Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov RU АО «Научно-исследовательский институт электронной техники» Воронеж Россия АО «Научно-исследовательский институт электронной техники» Воронеж Russian Federation АО «Научно-исследовательский институт микроприборов» (г. Москва) Россия АО «Научно-исследовательский институт микроприборов» (г. Москва) Russian Federation Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова Россия Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov Russian Federation 13 1 83 87 https://zh-szf.ru/en/nauka/article/37766/view

В статье рассматриваются два основных этапа процесса загрузки тестов в ходе проектирования микросхем: выполнение процедуры тестирования и копирования основной программы и ее запуск. Приводится подробное описание проводимых тестов. При описании процесса загрузки основной программы отдельное внимание уделено внештатным ситуациям, которые останавливают процесс загрузки.

The article discusses two main stages of the test loading process during chip design: performing the test procedure and copying the main program and running it. A detailed description of the tests is provided. When describing the loading process of the main program, special attention is paid to emergency situations that stop the loading process.

 Микросхемы микроэлектроника проектирование тесты загрузка тестов microchips microelectronics design tests test loading

Зольников, В. К. Верификация проектов и создание тестовых последовательностей для проектирования микросхем / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, Т. В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 10-16. Zol'nikov, V. K. Verifikaciya proektov i sozdanie testovyh posledovatel'nostey dlya proektirovaniya mikroshem / V. K. Zol'nikov, S. A. Evdokimova, T. V. Skvorcova // Modelirovanie sistem i processov. - 2019. - T. 12, № 1. - S. 10-16. Зольников, В.К. Практические методики выполнения верификации проектирования микросхем / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, Т. В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 25-30. Zol'nikov, V.K. Prakticheskie metodiki vypolneniya verifikacii proektirovaniya mikroshem / V. K. Zol'nikov, S. A. Evdokimova, T. V. Skvorcova // Modelirovanie sistem i processov. - 2019. - T. 12, № 1. - S. 25-30. Подход к тестированию сложно-функциональных микросхем примененный при испытаниях двухпроцессорной системы на кристалле на базе ядер 32-разрядных процессоров ЦОС / А. И. Яньков, А. В. Ачкасов, К. В. Зольников, М. В. Конарев, Н. А. Орликовский // Элементная база отечественной радиоэлектроники : труды I Российско-Белорусской конференции, посвященной 110-летию со дня рождения О.В. Лосева. - Нижний Новгород, 2013. - С. 96-99. Podhod k testirovaniyu slozhno-funkcional'nyh mikroshem primenennyy pri ispytaniyah dvuhprocessornoy sistemy na kristalle na baze yader 32-razryadnyh processorov COS / A. I. Yan'kov, A. V. Achkasov, K. V. Zol'nikov, M. V. Konarev, N. A. Orlikovskiy // Elementnaya baza otechestvennoy radioelektroniki : trudy I Rossiysko-Belorusskoy konferencii, posvyaschennoy 110-letiyu so dnya rozhdeniya O.V. Loseva. - Nizhniy Novgorod, 2013. - S. 96-99. Схемотехнический базис и проверка микросхем на работоспособность / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, А.В. Фомичев, В.Н. Чикин, А.В. Ачкасов, В.Ф. Зинченко // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 4. - С. 25-30. Shemotehnicheskiy bazis i proverka mikroshem na rabotosposobnost' / V.K. Zol'nikov, S.A. Evdokimova, A.V. Fomichev, V.N. Chikin, A.V. Achkasov, V.F. Zinchenko // Modelirovanie sistem i processov. - 2018. - T. 11, № 4. - S. 25-30. Создание базиса для микросхем сбора и обработки данных / В.А. Скляр, А.В. Ачкасов, К.В. Зольников, И.И. Струков, К.А. Чубур // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 2. - С. 66-71. Sozdanie bazisa dlya mikroshem sbora i obrabotki dannyh / V.A. Sklyar, A.V. Achkasov, K.V. Zol'nikov, I.I. Strukov, K.A. Chubur // Modelirovanie sistem i processov. - 2018. - T. 11, № 2. - S. 66-71. Зольников, В. К. Методы верификации сложно-функциональных блоков в САПР для микросхем глубоко субмикронных проектных норм / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, Т. В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 1. - С. 16-24. Zol'nikov, V. K. Metody verifikacii slozhno-funkcional'nyh blokov v SAPR dlya mikroshem gluboko submikronnyh proektnyh norm / V. K. Zol'nikov, S. A. Evdokimova, T. V. Skvorcova // Modelirovanie sistem i processov. - 2019. - T. 12, № 1. - S. 16-24. Методы схемотехнического моделирования КМОП СБИС с учетом радиации / К.В. Зольников, В.А. Скляр, В.И. Анциферова, С.А. Евдокимова // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2014. - № 2. - С. 5-9. Metody shemotehnicheskogo modelirovaniya KMOP SBIS s uchetom radiacii / K.V. Zol'nikov, V.A. Sklyar, V.I. Anciferova, S.A. Evdokimova // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2014. - № 2. - S. 5-9.