<?xml version="1.0"?>
<!DOCTYPE article
PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.4 20190208//EN"
       "JATS-journalpublishing1.dtd">
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" article-type="research-article" dtd-version="1.4" xml:lang="en">
 <front>
  <journal-meta>
   <journal-id journal-id-type="publisher-id">Actual directions of scientific researches of the XXI century: theory and practice</journal-id>
   <journal-title-group>
    <journal-title xml:lang="en">Actual directions of scientific researches of the XXI century: theory and practice</journal-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>Актуальные направления научных исследований XXI века: теория и практика</trans-title>
    </trans-title-group>
   </journal-title-group>
   <issn publication-format="print">2308-8877</issn>
  </journal-meta>
  <article-meta>
   <article-id pub-id-type="publisher-id">3817</article-id>
   <article-id pub-id-type="doi">10.12737/6179</article-id>
   <article-categories>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="ru">
     <subject>Секция 3: Информационные технологии и компьютерное моделирование в процессах создания современных материалов и покрытий</subject>
    </subj-group>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="en">
     <subject></subject>
    </subj-group>
    <subj-group>
     <subject>Секция 3: Информационные технологии и компьютерное моделирование в процессах создания современных материалов и покрытий</subject>
    </subj-group>
   </article-categories>
   <title-group>
    <article-title xml:lang="en">MONITORING OF EDUCATIONAL PROCESS IN HIGHER EDUCATIONAL INSTITUTIONS</article-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>Методика проектирования современных микросхем</trans-title>
    </trans-title-group>
   </title-group>
   <contrib-group content-type="authors">
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Зольников</surname>
       <given-names>Константин Владимирович</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Zolnikov</surname>
       <given-names>Konstantin Vladimirovich</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-1"/>
    </contrib>
   </contrib-group>
   <aff-alternatives id="aff-1">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова</institution>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov</institution>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <pub-date publication-format="print" date-type="pub" iso-8601-date="2014-11-05T00:00:00+03:00">
    <day>05</day>
    <month>11</month>
    <year>2014</year>
   </pub-date>
   <pub-date publication-format="electronic" date-type="pub" iso-8601-date="2014-11-05T00:00:00+03:00">
    <day>05</day>
    <month>11</month>
    <year>2014</year>
   </pub-date>
   <volume>2</volume>
   <issue>4</issue>
   <fpage>348</fpage>
   <lpage>355</lpage>
   <self-uri xlink:href="https://zh-szf.ru/en/nauka/article/3817/view">https://zh-szf.ru/en/nauka/article/3817/view</self-uri>
   <abstract xml:lang="ru">
    <p>Представлена методика проектирования современных микросхем, которая включает все основные проектные процедуры. Методика способна проводить проектирование радиационно-стойкой электронной компонентной базы.</p>
   </abstract>
   <trans-abstract xml:lang="en">
    <p>Presents a design methodology for modern microcircuits, which includes all of the basic design procedure. The technique is able to carry out the design of radiation-resistant electronic component base. </p>
   </trans-abstract>
   <kwd-group xml:lang="ru">
    <kwd>САПР</kwd>
    <kwd>микросхема.</kwd>
   </kwd-group>
   <kwd-group xml:lang="en">
    <kwd>CAD</kwd>
    <kwd>chip.</kwd>
   </kwd-group>
  </article-meta>
 </front>
 <body>
  <p>УДК 519.72МЕТОДИКАПРОЕКТИРОВАНИЯСОВРЕМЕННЫХМИКРОСХЕМMONITORING OF EDUCATIONAL PROCESS IN HIGHER EDUCATIONAL INSTITUTIONSЗольников К.В., ассистентФГБОУ ВПО «Воронежская государственная   лесотехническая академия»г. Воронеж, РоссияDOI: 10.12737/6179       Аннотация: Представлена методика проектирования современных микросхем, которая включает все основные проектные процедуры. Методика способна проводить проектирование радиационно-стойкой электронной компонентной базы.Summary: Presents a design methodology for modern microcircuits, which includes all of the basic design procedure. The technique is able to carry out the design of radiation-resistant electronic component base. Ключевыеслова: САПР, микросхема.Keywords:  CAD, chip.  В настоящее время процесс проектирования уже не укладывается в четкую линейную систему, когда проектирование осуществлялось строго по нисходящему маршруту от разработки спецификации до создания и тестирования прототипа. [1-3] Сейчас на смену этому типу проектирования при­ходит спиралевидная методология, где работы выполняются одновременно по 4-м направлениям: разработка программного обеспечения, разработка RTL-кода, логический синтез и физический синтез. На рисунке 1 показан процесс проектирования с использованием IP блоков [4-5].</p>
 </body>
 <back>
  <ref-list>
   <ref id="B1">
    <label>1.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Конарев,. М.В.. Учет радиационного воздействия при верификации объектов  проектирования на разных этапах маршрута проектирования / М.В. Конарев // Моделирование систем и процессов. - Воронеж: Издательство типографии Воронежского государственного университета. - 2009. - № 1,2. - С. 36-42.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Konarev,. M.V.. Uchet radiatsionnogo vozdeystviya pri verifikatsii ob&amp;#180;&amp;#180;ektov  proektirovaniya na raznykh etapakh marshruta proektirovaniya / M.V. Konarev. Modelirovanie sistem i protsessov. - Voronezh: Izdatel&amp;#180;stvo tipografii Voronezhskogo gosudarstvennogo universiteta. - 2009. - № 1,2. - S. 36-42.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B2">
    <label>2.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Зольников, В.К.. Формирование библиотек типовых элементов и СФ блоков / В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. 2011. № 3. С. 27-29.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Zol&amp;#180;nikov, V.K.. Formirovanie bibliotek tipovykh elementov i SF blokov / V.K. Zol&amp;#180;nikov. Modelirovanie sistem i protsessov. 2011. № 3. S. 27-29.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B3">
    <label>3.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Зольников, В.К.. Разработка схемотехнического и конструктивно-технологического базиса ЭКБ / В.К.Зольников, А.А. Стоянов // Моделирование систем и процессов. 2011. № 1-2. С. 28-30.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Zol&amp;#180;nikov, V.K.. Razrabotka skhemotekhnicheskogo i konstruktivno-tekhnologicheskogo bazisa EKB / V.K.Zol&amp;#180;nikov, A.A. Stoyanov. Modelirovanie sistem i protsessov. 2011. № 1-2. S. 28-30.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B4">
    <label>4.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Яньков, А.И. Методы обеспечения сбоеустойчивости к одиночным событиям в процессе проектирования для микропроцессоров K1830BE32УМ и 1830ВЕ32У / А.И.Яньков, В.А.Смерек, В.П.Крюков, В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. 2012. № 1. С. 92-95.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Yan&amp;#180;kov, A.I. Metody obespecheniya sboeustoychivosti k odinochnym sobytiyam v protsesse proektirovaniya dlya mikroprotsessorov K1830BE32UM i 1830VE32U / A.I.Yan&amp;#180;kov, V.A.Smerek, V.P.Kryukov, V.K. Zol&amp;#180;nikov. Modelirovanie sistem i protsessov. 2012. № 1. S. 92-95.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B5">
    <label>5.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Зольников, В.К. Проектирование современной микрокомпонентной базы с учетом одиночных событий радиационного воздействия / В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. 2012. № 1. С. 27-30.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Zol&amp;#180;nikov, V.K. Proektirovanie sovremennoy mikrokomponentnoy bazy s uchetom odinochnykh sobytiy radiatsionnogo vozdeystviya / V.K. Zol&amp;#180;nikov. Modelirovanie sistem i protsessov. 2012. № 1. S. 27-30.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B6">
    <label>6.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Уткин Д.М. Проблемно-ориентированное программное обеспечение для расчета показателей надежности сложных блоков программно-технических комплексов и его интеграция в САПР сквозного проектирования / Д.М. Уткин, В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. 2013. №3. С. 48-51.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Utkin D.M. Problemno-orientirovannoe programmnoe obespechenie dlya rascheta pokazateley nadezhnosti slozhnykh blokov programmno-tekhnicheskikh kompleksov i ego integratsiya v SAPR skvoznogo proektirovaniya / D.M. Utkin, V.K. Zol&amp;#180;nikov. Modelirovanie sistem i protsessov. 2013. №3. S. 48-51.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
  </ref-list>
 </back>
</article>
