NDT World NDT World В мире неразрушающего контроля 1609-3178 38694 10.12737/1609-3178-2020-52-67 Радиационный контроль Radiation Inspection Радиационный контроль Non-Invasive Methods of Liquid Flow Expenditure Monitoring Using Overhead Transducers Taking into Account Deposits in Pipelines Природа происхождения артефактов на радиографических снимках с галогенидосеребряными эмульсиями Шаблов Станислав Владимирович Shablov Stanislav V. shablovrentgen@mail.ru

кандидат технических наук;

candidate of technical sciences;

 Белобородов Николай Васильевич Beloborodov V. Nikolay auto@ask-roentgen.ru Иваненко Лариса Александровна Ivanenko Larisa A. auto@ask-roentgen.ru НУЦ «СертиНК» ФГАУ «НУЦСК при МГТУ им. Н. Э. Баумана» Москва Россия Bauman Moscow State Technical University Moscow Russian Federation ООО «АСК-Рентген» Санкт-Петербург Россия ASK-Roentgen St. Petersburg Russian Federation ООО «АСК-РЕНТГЕН» Санкт- Петербург Россия ASK-ROENTGEN Ltd. St. Petersburg Russian Federation ООО «АСК-РЕНТГЕН» Санкт- Петербург Россия ASK-ROENTGEN Ltd. St. Petersburg Russian Federation 23 2 52 67 https://zh-szf.ru/en/nauka/article/38694/view

Рассмотрены и проанализированы процессы на начальных стадиях формирования центров скрытого изображения в галогенидосеребряных эмульсиях под действием ионизирующего фотонного излучения. Установлено, что разбалансированность двух конкурирующих восстановительных процессов: экспонирования и фотообработки, является причиной артефактов. Описан опыт экспертной оценки радиографических снимков с артефактами. Исследованы их различные виды и причины происхождения. Составлен альбом снимков с артефактами. Сформулированы практические рекомендации для дефектоскопистов по предотвращению причин, приводящих к артефактам при экспонировании и ручном способе химической фотообработки галогенидосеребряных плёнок.

Processes at the initial stages of the formation of latent image centers in silver halogen emulsions by the action of ionizing photon radiation are considered and analyzed. An algorithm for their formation is presented. Imbalance of two competing processes — exposure and processing — causes artifacts. Based on expert assessment radiographic images with artifacts were investigated. Various types of artifacts are described, reasons from origin are indicated, album of photos with artifacts is compiled. Recommendations are formulated to prevent the occurrence of artifacts while manual method of manual film processing.

 радиографическая плёнка формирование изображения экспонирование химическая фотообработка артефакты X-ray film imaging algorithm latent image exposure processing artifact album

Миз К., Джеймс Т. Теория фотографического процесса. - Л.: Химия, 1973. - 576 с. Miz K., Dzheyms T. Teoriya fotograficheskogo processa. - L.: Himiya, 1973. - 576 s. Кагакин Е.И. Синтез и свойства фотографических эмульсий с плоскими микрокристаллами галогенидов серебра сложного состава и строения. Диссертация (д.т.н.), - Кемерово, 2002. - 314 с. Kagakin E.I. Sintez i svoystva fotograficheskih emul'siy s ploskimi mikrokristallami galogenidov serebra slozhnogo sostava i stroeniya. Dissertaciya (d.t.n.), - Kemerovo, 2002. - 314 s. Румянцев С. В., Штань А. С., Гольцев В. А. Справочник по радиационным методам неразрушающего контроля. - М.: Энергоиздат, 1982. - 210 с Rumyancev S. V., Shtan' A. S., Gol'cev V. A. Spravochnik po radiacionnym metodam nerazrushayuschego kontrolya. - M.: Energoizdat, 1982. - 210 s Ципинова А. Х., Шериева Э. Х. Оценка оптимального размера плоских микрокристаллов галогенида серебра для повышения светочувствительности и разрешающей способности фотопленок. - Прикладная физика. 2018. № 5. С. 77. Cipinova A. H., Sherieva E. H. Ocenka optimal'nogo razmera ploskih mikrokristallov galogenida serebra dlya povysheniya svetochuvstvitel'nosti i razreshayuschey sposobnosti fotoplenok. - Prikladnaya fizika. 2018. № 5. S. 77. Колесников Л. B., Милешин И. В., Звиденцова Н. С. Фотоэмисионные свойства однородных и композиционных микрокристаллов галогенидов серебра. - ЖНиПФ. 1999. Т. 44. № 5. С. 11-18. Kolesnikov L. B., Mileshin I. V., Zvidencova N. S. Fotoemisionnye svoystva odnorodnyh i kompozicionnyh mikrokristallov galogenidov serebra. - ZhNiPF. 1999. T. 44. № 5. S. 11-18. Halmshaw R. Industrial Radiography. - Mortsel, Belgium: AGFA-GEVAERT N.V, 1986. - 158 p. Halmshaw R. Industrial Radiography. - Mortsel, Belgium: AGFA-GEVAERT N.V, 1986. - 158 p. Косарина Е. И., Крупнина О. А., Степанов А. В. Радиационные методы неразрушающего контроля. - СПб.: СВЕН, 2019. - 285 с. Kosarina E. I., Krupnina O. A., Stepanov A. V. Radiacionnye metody nerazrushayuschego kontrolya. - SPb.: SVEN, 2019. - 285 s. Соснин Ф. Р., Клюев В. В., др. Рентгенотехника. - М.: Машиностроение, 1992. - 480 с. Sosnin F. R., Klyuev V. V., dr. Rentgenotehnika. - M.: Mashinostroenie, 1992. - 480 s. Зуев В. М., Табакман Р. Л., Удралов Ю. И. Радиографический контроль сварных соединений. - СПб.: Энергоатомиздат, 2001. - 148 с. Zuev V. M., Tabakman R. L., Udralov Yu. I. Radiograficheskiy kontrol' svarnyh soedineniy. - SPb.: Energoatomizdat, 2001. - 148 s. Горбачев В. И. Семёнов А. П. Радиографический контроль сварных соединений. - М.: Спутник+, 2009. - 458 с. Gorbachev V. I. Semenov A. P. Radiograficheskiy kontrol' svarnyh soedineniy. - M.: Sputnik+, 2009. - 458 s. ISO 11699-1. Контроль неразрушающий. Рентгенографические пленки для промышленной радиографии. Часть 1. Классификация пленочных систем для промышленной радиографии. - Код КС (ОКС, МКС): 37.040.25 - 14с. ISO 11699-1. Kontrol' nerazrushayuschiy. Rentgenograficheskie plenki dlya promyshlennoy radiografii. Chast' 1. Klassifikaciya plenochnyh sistem dlya promyshlennoy radiografii. - Kod KS (OKS, MKS): 37.040.25 - 14s. ISO 11699-2 Контроль неразрушающий. Радиографическая пленка для промышленной радиографии. Часть 2: Контроль за обработкой пленки посредством эталонных значений. - Код КС (ОКС, МКС): 37.040.25 - 18с. ISO 11699-2 Kontrol' nerazrushayuschiy. Radiograficheskaya plenka dlya promyshlennoy radiografii. Chast' 2: Kontrol' za obrabotkoy plenki posredstvom etalonnyh znacheniy. - Kod KS (OKS, MKS): 37.040.25 - 18s. Мотт Н., Герни Р. Электронные процессы в ионных кристаллах. / Пер. с англ. под ред. акад. А. Ф. Иоффе. - М.: Изд-во иностранной литературы, 1950. Mott N., Gerni R. Elektronnye processy v ionnyh kristallah. / Per. s angl. pod red. akad. A. F. Ioffe. - M.: Izd-vo inostrannoy literatury, 1950. The Fundamentals of Industrial Radiography; Akasaka 9-chome, Minatoku, Tokyo 107-0052, Japan.Ref. № IX-22-2009.02 F1079. The Fundamentals of Industrial Radiography; Akasaka 9-chome, Minatoku, Tokyo 107-0052, Japan.Ref. № IX-22-2009.02 F1079. Мейкляр П. В. Скрытое фотографическое изображение. - Успехи физ. . 1949. Т XXXVIII. Вып. 1. Meyklyar P. V. Skrytoe fotograficheskoe izobrazhenie. - Uspehi fiz. . 1949. T XXXVIII. Vyp. 1.