Modeling of systems and processes

Моделирование систем и процессов

2219-0767

4098

10.12737/6592

Технические науки

CALCULATION OF THE RESISTANCE OF THE BIPOLAR VLSI

Расчет показателей стойкости биполярных СБИС

Зольников

Владимир Константинович

Zolnikov

Vladimir Константинович

wkz@rambler.ru

25 11 2014

7 3 8 11

https://zh-szf.ru/en/nauka/article/4098/view

В работе определяются реакции микросхем на воздействие внешних дестабилизирующих факторов. Проводится расчет показателей стойкости и надежности

The paper defines the reaction of chips to external destabilizing factors. Carry out the calculation of indicators of resistance and reliability

САПР радиация микросхема

CAD radiation chip

Скляр, В. А. Развитие технологии и платформ проектирования при топологических нормах менее 90 нм [Текст] / В. А. Скляр, К. В. Зольников, В. В. Лавлинский, К. И. Таперо, А. И. Озеров // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 4. - С. 72-76.

Sklyar, V. A. Razvitie tekhnologii i platform proektirovaniya pri topologicheskikh normakh menee 90 nm [Tekst] / V. A. Sklyar, K. V. Zol´nikov, V. V. Lavlinskiy, K. I. Tapero, A. I. Ozerov. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2012. - № 4. - S. 72-76.

Зольников, В. К. Разработка схемотехнического и конструктивно-технологического базиса ЭКБ [Текст] / В. К. Зольников, А. А. Стоянов // Моделирование систем и процессов. - 2011. - № 1-2. - С. 28-30.

Zol´nikov, V. K. Razrabotka skhemotekhnicheskogo i konstruktivno-tekhnologicheskogo bazisa EKB [Tekst] / V. K. Zol´nikov, A. A. Stoyanov. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2011. - № 1-2. - S. 28-30.

Скляр, В. А. Обзор средств САПР для субмикронных СБИС [Текст] / В. А. Скляр, К. В. Зольников, И. В. Нагорный, В. В. Лавлинский // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 1. - С. 60-64.

Sklyar, V. A. Obzor sredstv SAPR dlya submikronnykh SBIS [Tekst] / V. A. Sklyar, K. V. Zol´nikov, I. V. Nagornyy, V. V. Lavlinskiy. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2012. - № 1. - S. 60-64.

Скляр, В. А. Проблема целостности сигнала: характеризация и моделирование процессов в САПР [Текст] / В. А. Скляр, В. К. Зольников, А. И. Яньков, Ю. А. Чевычелов, В. Ф. Барабанов // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 2. - С. 67-72.

Sklyar, V. A. Problema tselostnosti signala: kharakterizatsiya i modelirovanie protsessov v SAPR [Tekst] / V. A. Sklyar, V. K. Zol´nikov, A. I. Yan´kov, Yu. A. Chevychelov, V. F. Barabanov. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2013. - № 2. - S. 67-72.

Уткин, Д. М. Интеграция параметров надежности в средства автоматизированного проектирования программно-технических комплексов специального назначения [Текст] / Д. М. Уткин // Системы управления и информационные технологии. - 2013. - №4(54) - С. 70-74

Utkin, D. M. Integratsiya parametrov nadezhnosti v sredstva avtomatizirovannogo proektirovaniya programmno-tekhnicheskikh kompleksov spetsial´nogo naznacheniya [Tekst] / D. M. Utkin. Sistemy upravleniya i informatsionnye tekhnologii. - 2013. - №4(54) - S. 70-74