<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article
PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.4 20190208//EN"
       "JATS-journalpublishing1.dtd">
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" article-type="research-article" dtd-version="1.4" xml:lang="en">
 <front>
  <journal-meta>
   <journal-id journal-id-type="publisher-id">Modeling of systems and processes</journal-id>
   <journal-title-group>
    <journal-title xml:lang="en">Modeling of systems and processes</journal-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>Моделирование систем и процессов</trans-title>
    </trans-title-group>
   </journal-title-group>
   <issn publication-format="print">2219-0767</issn>
  </journal-meta>
  <article-meta>
   <article-id pub-id-type="publisher-id">45394</article-id>
   <article-id pub-id-type="doi">10.12737/2219-0767-2021-14-2-86-92</article-id>
   <article-categories>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="ru">
     <subject>Физико-математические науки</subject>
    </subj-group>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="en">
     <subject></subject>
    </subj-group>
    <subj-group>
     <subject>Физико-математические науки</subject>
    </subj-group>
   </article-categories>
   <title-group>
    <article-title xml:lang="en">Experimental and analytical method for evaluating the effectiveness of measures to increase the resistance of ECB to the effects of AI CP by single effects</article-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>Экспериментально-аналитический метод оценки эффективности мер по повышению стойкости ЭКБ к воздействию ИИ КП по одиночным эффектам</trans-title>
    </trans-title-group>
   </title-group>
   <contrib-group content-type="authors">
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Козюков</surname>
       <given-names>Александр Евгеньевич</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Kozyukov</surname>
       <given-names>Aleksandr Evgen'evich</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-1"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Чубунов</surname>
       <given-names>Павел Александрович</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Chubunov</surname>
       <given-names>Pavel Aleksandrovich</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-2"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Зольников</surname>
       <given-names>Константин Владимирович</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Zolnikov</surname>
       <given-names>Konstantin Vladimirovich</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-3"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Скворцова</surname>
       <given-names>Татьяна Владимировна</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Skvortsova</surname>
       <given-names>Tatyana Vladimirovna</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-4"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Журавлева</surname>
       <given-names>Ирина Витальевна</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Zhuravleva</surname>
       <given-names>I. V.</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-5"/>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-6"/>
    </contrib>
   </contrib-group>
   <aff-alternatives id="aff-1">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">АО &quot;Научно-исследовательский институт космического приборостроения&quot;</institution>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">АО &quot;Научно-исследовательский институт космического приборостроения&quot;</institution>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-2">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">АО &quot;Научно-исследовательский институт космического приборостроения&quot;</institution>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">АО &quot;Научно-исследовательский институт космического приборостроения&quot;</institution>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-3">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова</institution>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov</institution>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-4">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова</institution>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov</institution>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-5">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова</institution>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov</institution>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-6">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">Филиал Ростовского государственного университета путей сообщения в г. Воронеже</institution>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Филиал Ростовского государственного университета путей сообщения в г. Воронеже</institution>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <volume>14</volume>
   <issue>2</issue>
   <fpage>86</fpage>
   <lpage>92</lpage>
   <history>
    <date date-type="received" iso-8601-date="2021-03-26T00:00:00+03:00">
     <day>26</day>
     <month>03</month>
     <year>2021</year>
    </date>
   </history>
   <self-uri xlink:href="https://zh-szf.ru/en/nauka/article/45394/view">https://zh-szf.ru/en/nauka/article/45394/view</self-uri>
   <abstract xml:lang="ru">
    <p>Суть обсуждаемого в статье метода заключается в проведении испытаний изделия электронной компонентной базы (ЭКБ), в котором используются методы парирования сбоев, при отключенной системе парирования сбоев по типовым методикам испытаний. Данный метод является действенным при невозможности применения прямого метода вследствие того, что поток ТЗЧ достигает такой величины, что схема коррекции не сможет обрабатывать возникающие при этом сбои.</p>
   </abstract>
   <trans-abstract xml:lang="en">
    <p>The essence of the method discussed in the article is to test the product of the electronic component base of the ECB, which uses methods of parrying failures, with the system of parrying failures disabled according to standard test methods. This method is effective if the direct method cannot be applied, due to the fact that the flow of TKP reaches such a value that, the correction scheme will not be able to handle the failures that occur.</p>
   </trans-abstract>
   <kwd-group xml:lang="ru">
    <kwd>Микросхема</kwd>
    <kwd>работоспособность</kwd>
    <kwd>интервал тестирования</kwd>
    <kwd>множественные сбои</kwd>
    <kwd>параметры</kwd>
    <kwd>моделирование</kwd>
    <kwd>чувствительность ячеек</kwd>
    <kwd>эффективность</kwd>
    <kwd>методы испытаний</kwd>
   </kwd-group>
   <kwd-group xml:lang="en">
    <kwd>chip</kwd>
    <kwd>operability</kwd>
    <kwd>test interval</kwd>
    <kwd>multiple failures</kwd>
    <kwd>parameters</kwd>
    <kwd>simulation</kwd>
    <kwd>cell sensitivity</kwd>
    <kwd>efficiency</kwd>
    <kwd>test methods</kwd>
   </kwd-group>
  </article-meta>
 </front>
 <body>
  <p></p>
 </body>
 <back>
  <ref-list>
   <ref id="B1">
    <label>1.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Повышение достоверности расчетов дозовых нагрузок на электронные компоненты в составе бортовой аппаратуры космических аппаратов / Н.Н. Булгаков, В.Ф. Зинченко, Ю.А. Миршавка, С.А. Яхутин // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2018. - № 3. - С. 39-45.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Povyshenie dostovernosti raschetov dozovyh nagruzok na elektronnye komponenty v sostave bortovoy apparatury kosmicheskih apparatov / N.N. Bulgakov, V.F. Zinchenko, Yu.A. Mirshavka, S.A. Yahutin // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2018. - № 3. - S. 39-45.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B2">
    <label>2.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Ловшенко, И.Ю. Моделирование воздействия тяжелой заряженной частицы на электрические характеристики приборной структуры N-МОП-транзистора / И.Ю. Ловшенко, В.Р. Стемпицкий, В.Т. Шандарович // Доклады Белорусского государственного университета информатики и радиоэлектроники. - 2020. - Т. 18, № 7. - С. 55-62.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Lovshenko, I.Yu. Modelirovanie vozdeystviya tyazheloy zaryazhennoy chasticy na elektricheskie harakteristiki pribornoy struktury N-MOP-tranzistora / I.Yu. Lovshenko, V.R. Stempickiy, V.T. Shandarovich // Doklady Belorusskogo gosudarstvennogo universiteta informatiki i radioelektroniki. - 2020. - T. 18, № 7. - S. 55-62.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B3">
    <label>3.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Современные условия эксплуатации микросхем космического назначения / В.К. Зольников [и др.] // Информационные технологии в управлении и моделировании мехатронных систем. материалы 1-й научно-практической международной конференции. - Тамбов, 2017. - С. 119-126.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Sovremennye usloviya ekspluatacii mikroshem kosmicheskogo naznacheniya / V.K. Zol'nikov [i dr.] // Informacionnye tehnologii v upravlenii i modelirovanii mehatronnyh sistem. materialy 1-y nauchno-prakticheskoy mezhdunarodnoy konferencii. - Tambov, 2017. - S. 119-126.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B4">
    <label>4.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Алгоритмическая основа моделирования и обеспечения защиты типовых КМОП элементов в процессе проектирования / В.К Зольников, В.А. Смерек, В.И. Анциферова, С.А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 3. - С. 14-16.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Algoritmicheskaya osnova modelirovaniya i obespecheniya zaschity tipovyh KMOP elementov v processe proektirovaniya / V.K Zol'nikov, V.A. Smerek, V.I. Anciferova, S.A. Evdokimova // Modelirovanie sistem i processov. - 2013. - № 3. - S. 14-16.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B5">
    <label>5.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Разработка проектной среды и оценка технологичности производства микросхемы с учетом стойкости к специальным факторам на примере СБИС 1867ВЦ6Ф / В.А. Скляр, В.А. Смерек, К.В. Зольников, Д.Н. Чернов, А.С. Ягодкин // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 77-82.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Razrabotka proektnoy sredy i ocenka tehnologichnosti proizvodstva mikroshemy s uchetom stoykosti k special'nym faktoram na primere SBIS 1867VC6F / V.A. Sklyar, V.A. Smerek, K.V. Zol'nikov, D.N. Chernov, A.S. Yagodkin // Modelirovanie sistem i processov. - 2020. - T. 13, № 1. - S. 77-82.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B6">
    <label>6.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Конструкция и технология микросхем космического назначения / В.К. Зольников [и др.] // Информационно-сенсорные системы в теплофизических исследованиях: сборник научных трудов. - Тамбов, 2018. - С. 229-232.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Konstrukciya i tehnologiya mikroshem kosmicheskogo naznacheniya / V.K. Zol'nikov [i dr.] // Informacionno-sensornye sistemy v teplofizicheskih issledovaniyah: sbornik nauchnyh trudov. - Tambov, 2018. - S. 229-232.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B7">
    <label>7.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Challenges and approaches to radiation hardness control of electronic components to in-space high-energy particles exposure / V. Anashin, P. Chubunov, A. Koziukov, A. Konyukhov, G. Protopopov // Proceedings - 2018 20th International Symposium on High-Current Electronics, ISHCE 2018. - 2018. - Pp. 31-34.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Challenges and approaches to radiation hardness control of electronic components to in-space high-energy particles exposure / V. Anashin, P. Chubunov, A. Koziukov, A. Konyukhov, G. Protopopov // Proceedings - 2018 20th International Symposium on High-Current Electronics, ISHCE 2018. - 2018. - Pp. 31-34.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B8">
    <label>8.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Mosfets SEB SEGR qualification results with SOA estimation / S.A. Iakovlev, V.S. Anashin, A.E. Koziukov, K.B.Bu-Khasan, T.A. Maksimenko, P.A. Chubunov, A.M. Chlenov // 2017 17th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, RADECS 2017. 17, Space to Ground and Below. - 2019. - Pp. 8696132.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Mosfets SEB SEGR qualification results with SOA estimation / S.A. Iakovlev, V.S. Anashin, A.E. Koziukov, K.B.Bu-Khasan, T.A. Maksimenko, P.A. Chubunov, A.M. Chlenov // 2017 17th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, RADECS 2017. 17, Space to Ground and Below. - 2019. - Pp. 8696132.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B9">
    <label>9.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Зольников, В.К. Методика проектирования современной микрокомпонентной базы с учетом одиночных событий радиационного воздействия / В.К. Зольников // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2012. - № 3. - С. 5-8.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Zol'nikov, V.K. Metodika proektirovaniya sovremennoy mikrokomponentnoy bazy s uchetom odinochnyh sobytiy radiacionnogo vozdeystviya / V.K. Zol'nikov // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2012. - № 3. - S. 5-8.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B10">
    <label>10.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Зольников, К. В. Современное проектирование электронной компонентной базы / К. В. Зольников, В.В. Лавлинский // Экономика. Инновации. Управление качеством. - 2015. - № 1 (10). - С. 40-41.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Zol'nikov, K. V. Sovremennoe proektirovanie elektronnoy komponentnoy bazy / K. V. Zol'nikov, V.V. Lavlinskiy // Ekonomika. Innovacii. Upravlenie kachestvom. - 2015. - № 1 (10). - S. 40-41.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B11">
    <label>11.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Зольников, К.В. Проектирование специальных СБИС и управление проектами их создания / К.В. Зольников, В.А. Смерек, Т.П. Беляева // Интеллектуальные технологии будущего. Естественный и искусственный интеллект: сборник материалов Всероссийской молодежной конференции. - Воронеж: Научная книга, 2011. - С. 218-220.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Zol'nikov, K.V. Proektirovanie special'nyh SBIS i upravlenie proektami ih sozdaniya / K.V. Zol'nikov, V.A. Smerek, T.P. Belyaeva // Intellektual'nye tehnologii buduschego. Estestvennyy i iskusstvennyy intellekt: sbornik materialov Vserossiyskoy molodezhnoy konferencii. - Voronezh: Nauchnaya kniga, 2011. - S. 218-220.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B12">
    <label>12.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Лагаев, Д.А. Конструктивно-технологические особенности КМОП КНИ транзисторов с повышенной стойкостью к накопленной дозе ионизирующего излучения / Д.А. Лагаев, Н.А. Шелепин // Электронная техника. Серия 3: Микроэлектроника. - 2020. - № 1 (177). - С. 5-13.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Lagaev, D.A. Konstruktivno-tehnologicheskie osobennosti KMOP KNI tranzistorov s povyshennoy stoykost'yu k nakoplennoy doze ioniziruyuschego izlucheniya / D.A. Lagaev, N.A. Shelepin // Elektronnaya tehnika. Seriya 3: Mikroelektronika. - 2020. - № 1 (177). - S. 5-13.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
  </ref-list>
 </back>
</article>
