<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article
PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.4 20190208//EN"
       "JATS-journalpublishing1.dtd">
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" article-type="research-article" dtd-version="1.4" xml:lang="en">
 <front>
  <journal-meta>
   <journal-id journal-id-type="publisher-id">Modeling of systems and processes</journal-id>
   <journal-title-group>
    <journal-title xml:lang="en">Modeling of systems and processes</journal-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>Моделирование систем и процессов</trans-title>
    </trans-title-group>
   </journal-title-group>
   <issn publication-format="print">2219-0767</issn>
  </journal-meta>
  <article-meta>
   <article-id pub-id-type="publisher-id">47925</article-id>
   <article-id pub-id-type="doi">10.12737/2219-0767-2021-14-4-12-20</article-id>
   <article-categories>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="ru">
     <subject>Технические науки</subject>
    </subj-group>
    <subj-group subj-group-type="toc-heading" xml:lang="en">
     <subject></subject>
    </subj-group>
    <subj-group>
     <subject>Технические науки</subject>
    </subj-group>
   </article-categories>
   <title-group>
    <article-title xml:lang="en">Development of the technology of systems on a chip for a modern electronic component base ECB</article-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>Развитие технологии систем на кристалле для современной электронной компонентной базы ЭКБ</trans-title>
    </trans-title-group>
   </title-group>
   <contrib-group content-type="authors">
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Журавлева</surname>
       <given-names>Ирина Витальевна</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Zhuravleva</surname>
       <given-names>I. V.</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-1"/>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-2"/>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Попова</surname>
       <given-names>Елена Александровна</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Popova</surname>
       <given-names>Elena Aleksandrovna</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <xref ref-type="aff" rid="aff-3"/>
    </contrib>
   </contrib-group>
   <aff-alternatives id="aff-1">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова</institution>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov</institution>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-2">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">Филиал Ростовского государственного университета путей сообщения в г. Воронеже</institution>
     <country>Россия</country>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Филиал Ростовского государственного университета путей сообщения в г. Воронеже</institution>
     <country>Russian Federation</country>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <aff-alternatives id="aff-3">
    <aff>
     <institution xml:lang="ru">Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова</institution>
    </aff>
    <aff>
     <institution xml:lang="en">Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov</institution>
    </aff>
   </aff-alternatives>
   <pub-date publication-format="print" date-type="pub" iso-8601-date="2022-01-08T10:59:14+03:00">
    <day>08</day>
    <month>01</month>
    <year>2022</year>
   </pub-date>
   <pub-date publication-format="electronic" date-type="pub" iso-8601-date="2022-01-08T10:59:14+03:00">
    <day>08</day>
    <month>01</month>
    <year>2022</year>
   </pub-date>
   <volume>14</volume>
   <issue>4</issue>
   <fpage>12</fpage>
   <lpage>20</lpage>
   <history>
    <date date-type="received" iso-8601-date="2021-12-21T00:00:00+03:00">
     <day>21</day>
     <month>12</month>
     <year>2021</year>
    </date>
   </history>
   <self-uri xlink:href="https://zh-szf.ru/en/nauka/article/47925/view">https://zh-szf.ru/en/nauka/article/47925/view</self-uri>
   <abstract xml:lang="ru">
    <p>Без создания российской технологии проектирования СнК невозможно обеспечить современный уровень разработки СБИС, как для оборонных, так и для гражданских применений. Это соответствует мировым тенденциям развития. Тем не менее, необходимо выделить только те существенные процессы, которые в наибольшей степени соответствуют российским реалиям и могут помочь в решении конкретных проблем оборонной отрасли и экономики в целом с наименьшими затратами и в кратчайшие сроки. Важнейшим элементом внедрения технологии СнК является организация единого входа для размещения производства микросхем на основе данной технологии. Это позволит резко снизить затраты, аттестовать систему сложно функциональных блоков, повысить надежность и устойчивость разработок. Даже в организационном плане это позволит включать организованную фирму (условно - Silicon Gate) в качестве сертифицированного изготовителя чипов в любых договорах с МО. В статье рассмотрено структурирование программ по разработке отечественной технологии систем на кристалле СнК, координация области СнК разработок и сложно-функциональных блоков, а также их информационное обеспечение.</p>
   </abstract>
   <trans-abstract xml:lang="en">
    <p>Without the creation of Russian technology for designing SoC, it is impossible to provide a modern level of VLSI development, both for defense and civil applications. This is in line with global development trends. Nevertheless, it is necessary to highlight only those essential processes that are most consistent with Russian realities and can help in solving specific problems of the defense industry and the economy as a whole at the lowest cost and in the shortest possible time. The most important element of the implementation of SoC technology is the organization of a single sign-on to locate the production of microcircuits based on this technology. This will allow to drastically reduce costs, to certify the system of complex functional blocks, to increase the reliability and sustainability of developments. Even in organizational terms, this will allow an organized firm (conditionally - Silicon Gate) to be included as a certified chip manufacturer in any contracts with MO. The article discusses the structuring of programs for the development of domestic technology of SoC systems on a chip, the coordination of the SoC area of developments and complex functional blocks, as well as their information support.</p>
   </trans-abstract>
   <kwd-group xml:lang="ru">
    <kwd>Технология проектирования</kwd>
    <kwd>микросхемы</kwd>
    <kwd>программное обеспечение</kwd>
    <kwd>координация</kwd>
    <kwd>сложно-функциональные блоки</kwd>
    <kwd>информационное обеспечение.</kwd>
   </kwd-group>
   <kwd-group xml:lang="en">
    <kwd>Chip</kwd>
    <kwd>operability</kwd>
    <kwd>test interval</kwd>
    <kwd>multiple failures</kwd>
    <kwd>parameters</kwd>
    <kwd>simulation</kwd>
    <kwd>cell sensitivity</kwd>
    <kwd>efficiency</kwd>
    <kwd>test methods.</kwd>
   </kwd-group>
  </article-meta>
 </front>
 <body>
  <p></p>
 </body>
 <back>
  <ref-list>
   <ref id="B1">
    <label>1.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Semkin, N.D. Calculating the current in the measurement circuit of a high-velocity microparticle detector / N.D. Semkin, A.M. Telegin // Measurement techniques. - 2017. - Т. 59, № 12. - С. 1304-1309. - DOI: 10.1007/s11018-017-1133-3.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Semkin, N.D. Calculating the current in the measurement circuit of a high-velocity microparticle detector / N.D. Semkin, A.M. Telegin // Measurement techniques. - 2017. - T. 59, № 12. - S. 1304-1309. - DOI: 10.1007/s11018-017-1133-3.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B2">
    <label>2.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Беляева, Т.П. Управление предприятиями микроэлектроники: состояние и задачи развития / Т.П. Беляева, Д.И. Станчев // Информационные технологии моделирования и управления. - 2011. - № 3 (68). - С. 333-340.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Belyaeva, T.P. Upravlenie predpriyatiyami mikroelektroniki: sostoyanie i zadachi razvitiya / T.P. Belyaeva, D.I. Stanchev // Informacionnye tehnologii modelirovaniya i upravleniya. - 2011. - № 3 (68). - S. 333-340.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B3">
    <label>3.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Современные условия эксплуатации микросхем космического назначения / В.К. Зольников, В.П. Крюков, А.Ю. Кулай [и др.] // Информационные технологии в управлении и моделировании мехатронных систем. материалы 1-й научно-практической международной конференции. - Тамбов, 2017. - С. 119-126.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Sovremennye usloviya ekspluatacii mikroshem kosmicheskogo naznacheniya / V.K. Zol'nikov, V.P. Kryukov, A.Yu. Kulay [i dr.] // Informacionnye tehnologii v upravlenii i modelirovanii mehatronnyh sistem. materialy 1-y nauchno-prakticheskoy mezhdunarodnoy konferencii. - Tambov, 2017. - S. 119-126.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B4">
    <label>4.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Алгоритмическая основа моделирования и обеспечения защиты типовых КМОП элементов в процессе проектирования / В.К Зольников, В.А. Смерек, В.И. Анциферова, С.А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 3. - С. 14-16. - DOI: 10.12737/2382.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Algoritmicheskaya osnova modelirovaniya i obespecheniya zaschity tipovyh KMOP elementov v processe proektirovaniya / V.K Zol'nikov, V.A. Smerek, V.I. Anciferova, S.A. Evdokimova // Modelirovanie sistem i processov. - 2013. - № 3. - S. 14-16. - DOI: 10.12737/2382.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B5">
    <label>5.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Разработка проектной среды и оценка технологичности производства микросхемы с учетом стойкости к специальным факторам на примере СБИС 1867ВЦ6Ф / В.А. Скляр, В.А. Смерек, К.В. Зольников [и др.] // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 77-82. - DOI: 10.12737/2219-0767-2020-13-1-77-82.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Razrabotka proektnoy sredy i ocenka tehnologichnosti proizvodstva mikroshemy s uchetom stoykosti k special'nym faktoram na primere SBIS 1867VC6F / V.A. Sklyar, V.A. Smerek, K.V. Zol'nikov [i dr.] // Modelirovanie sistem i processov. - 2020. - T. 13, № 1. - S. 77-82. - DOI: 10.12737/2219-0767-2020-13-1-77-82.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B6">
    <label>6.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Конструкция и технология микросхем космического назначения / В.К. Зольников [и др.] // Информационно-сенсорные системы в теплофизических исследованиях: сборник научных трудов. - Тамбов, 2018. - С. 229-232.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Konstrukciya i tehnologiya mikroshem kosmicheskogo naznacheniya / V.K. Zol'nikov [i dr.] // Informacionno-sensornye sistemy v teplofizicheskih issledovaniyah: sbornik nauchnyh trudov. - Tambov, 2018. - S. 229-232.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B7">
    <label>7.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Комаров, А.С. Управление техническим уровнем высокоинтегрированных электронных систем (научно-технологические проблемы и аспекты развития) : монография / А.С. Комаров, Д.В. Крапухин, Е.И. Шульгин. - М. : Техносфера, 2014. - 240 с.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Komarov, A.S. Upravlenie tehnicheskim urovnem vysokointegrirovannyh elektronnyh sistem (nauchno-tehnologicheskie problemy i aspekty razvitiya) : monografiya / A.S. Komarov, D.V. Krapuhin, E.I. Shul'gin. - M. : Tehnosfera, 2014. - 240 s.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B8">
    <label>8.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Анашин, В.С. Особенности процесса контроля стойкости ЭКБ космических применений к воздействию ионизирующих излучений космического пространства / В.С. Анашин, П.А. Чубунов, А.Е. Козюков // Микроэлектроника-2015. Интегральные схемы и микроэлектронные модули: проектирование, производство и применение: сборник докладов Международной конференции. - 2016. - С. 117-119.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Anashin, V.S. Osobennosti processa kontrolya stoykosti EKB kosmicheskih primeneniy k vozdeystviyu ioniziruyuschih izlucheniy kosmicheskogo prostranstva / V.S. Anashin, P.A. Chubunov, A.E. Kozyukov // Mikroelektronika-2015. Integral'nye shemy i mikroelektronnye moduli: proektirovanie, proizvodstvo i primenenie: sbornik dokladov Mezhdunarodnoy konferencii. - 2016. - S. 117-119.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B9">
    <label>9.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Зольников, В.К. Методика проектирования современной микрокомпонентной базы с учетом одиночных событий радиационного воздействия / В.К. Зольников // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2012. - № 3. - С. 5-8.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Zol'nikov, V.K. Metodika proektirovaniya sovremennoy mikrokomponentnoy bazy s uchetom odinochnyh sobytiy radiacionnogo vozdeystviya / V.K. Zol'nikov // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2012. - № 3. - S. 5-8.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B10">
    <label>10.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Зольников, К. В. Современное проектирование электронной компонентной базы / К. В. Зольников, В.В. Лавлинский // Экономика. Инновации. Управление качеством. - 2015. - № 1 (10). - С. 40-41.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Zol'nikov, K. V. Sovremennoe proektirovanie elektronnoy komponentnoy bazy / K. V. Zol'nikov, V.V. Lavlinskiy // Ekonomika. Innovacii. Upravlenie kachestvom. - 2015. - № 1 (10). - S. 40-41.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B11">
    <label>11.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Зольников, К.В. Проектирование специальных СБИС и управление проектами их создания / К.В. Зольников, В.А. Смерек, Т.П. Беляева // Интеллектуальные технологии будущего. Естественный и искусственный интеллект: сборник материалов Всероссийской молодежной конференции. - Воронеж: Научная книга, 2011. - С. 218-220.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Zol'nikov, K.V. Proektirovanie special'nyh SBIS i upravlenie proektami ih sozdaniya / K.V. Zol'nikov, V.A. Smerek, T.P. Belyaeva // Intellektual'nye tehnologii buduschego. Estestvennyy i iskusstvennyy intellekt: sbornik materialov Vserossiyskoy molodezhnoy konferencii. - Voronezh: Nauchnaya kniga, 2011. - S. 218-220.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B12">
    <label>12.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Черников, Б.В. Методы решения задачи о размещении элементов БИС / Б.В. Черников, А.В. Можжухина, Е.А. Черникова // Информатизация и связь. - 2020. - № 6. - С. 13-16.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Chernikov, B.V. Metody resheniya zadachi o razmeschenii elementov BIS / B.V. Chernikov, A.V. Mozhzhuhina, E.A. Chernikova // Informatizaciya i svyaz'. - 2020. - № 6. - S. 13-16.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B13">
    <label>13.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Радиационно-стойкое проектирование высокопроизводительных нанометровых КМОП СБИС &quot;система-на-кристалле&quot; / Ю.М. Герасимов, Н.Г. Григорьев, А.В. Кобыляцкий [и др.] // Инфокоммуникационные и радиоэлектронные технологии. - 2019. - Т. 2, № 1. - С. 33-51. - DOI: 10.15826/icrt.2019.02.1.04.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Radiacionno-stoykoe proektirovanie vysokoproizvoditel'nyh nanometrovyh KMOP SBIS &quot;sistema-na-kristalle&quot; / Yu.M. Gerasimov, N.G. Grigor'ev, A.V. Kobylyackiy [i dr.] // Infokommunikacionnye i radioelektronnye tehnologii. - 2019. - T. 2, № 1. - S. 33-51. - DOI: 10.15826/icrt.2019.02.1.04.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B14">
    <label>14.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Compact models for radiation hardening by design of SiGe BiCMOS, Gaas and SOI CMOS microwave circuits / D.I. Sotskov, N.A. Usachev, V.V. Elesin [et al.] // SIBCON 2021 - International Siberian Conference on Control and Communications. - 2021. - С. 9438867. - DOI: 10.1109/SIBCON50419.2021.9438867.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Compact models for radiation hardening by design of SiGe BiCMOS, Gaas and SOI CMOS microwave circuits / D.I. Sotskov, N.A. Usachev, V.V. Elesin [et al.] // SIBCON 2021 - International Siberian Conference on Control and Communications. - 2021. - S. 9438867. - DOI: 10.1109/SIBCON50419.2021.9438867.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B15">
    <label>15.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Особенности испытаний и оценки радиационной стойкости комплексированных изделий ЭКБ / Д.В. Печенкина, Д.В. Бойченко, А.В. Согоян [и др.] // Наноиндустрия. - 2020. - Т. 13, № S4 (99). - С. 295-297. - DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.4s.295.297.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Osobennosti ispytaniy i ocenki radiacionnoy stoykosti kompleksirovannyh izdeliy EKB / D.V. Pechenkina, D.V. Boychenko, A.V. Sogoyan [i dr.] // Nanoindustriya. - 2020. - T. 13, № S4 (99). - S. 295-297. - DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.4s.295.297.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B16">
    <label>16.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Согоян, А.В. Оценка соответствия интегральных схем требованиям по стойкости к воздействию тяжелых заряженных частиц / А.В. Согоян, А.А. Смолин, А.И. Чумаков // Безопасность информационных технологий. - 2020. - Т. 27, № 1. - С. 68-82. - DOI: 10.26583/bit.2020.1.06.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Sogoyan, A.V. Ocenka sootvetstviya integral'nyh shem trebovaniyam po stoykosti k vozdeystviyu tyazhelyh zaryazhennyh chastic / A.V. Sogoyan, A.A. Smolin, A.I. Chumakov // Bezopasnost' informacionnyh tehnologiy. - 2020. - T. 27, № 1. - S. 68-82. - DOI: 10.26583/bit.2020.1.06.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B17">
    <label>17.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Козюков, А.Е. Декорпусирование электронной компонентной базы с обратной стороны для подготовки образцов к испытаниям на стойкость к воздействию тяжёлых заряженных частиц / А.Е. Козюков, А.О. Волков // Вестник НПО им. С.А. Лавочкина. - 2021. - № 3 (53). - С. 60-71. - DOI: 10.26162/LS.2021.53.3.008.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Kozyukov, A.E. Dekorpusirovanie elektronnoy komponentnoy bazy s obratnoy storony dlya podgotovki obrazcov k ispytaniyam na stoykost' k vozdeystviyu tyazhelyh zaryazhennyh chastic / A.E. Kozyukov, A.O. Volkov // Vestnik NPO im. S.A. Lavochkina. - 2021. - № 3 (53). - S. 60-71. - DOI: 10.26162/LS.2021.53.3.008.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B18">
    <label>18.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Анализ и обоснование требований по надежности к перспективным космическим аппаратам / В.Е. Патраев, С.П. Вовченко, Е.А. Шангина, Р.А. Матюшев // Авиакосмическое приборостроение. - 2020. - № 7. - С. 3-11. - DOI: 10.25791/aviakosmos.07.2020.1165.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Analiz i obosnovanie trebovaniy po nadezhnosti k perspektivnym kosmicheskim apparatam / V.E. Patraev, S.P. Vovchenko, E.A. Shangina, R.A. Matyushev // Aviakosmicheskoe priborostroenie. - 2020. - № 7. - S. 3-11. - DOI: 10.25791/aviakosmos.07.2020.1165.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B19">
    <label>19.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Щепанов, А. Развитие российской электронной компонентной базы: взгляд эксперта / А. Щепанов // Электроника: Наука, технология, бизнес. - 2019. - № 7 (188). - С. 74-77. - DOI: 10.22184/1992-4178.2019.188.7.74.77.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Schepanov, A. Razvitie rossiyskoy elektronnoy komponentnoy bazy: vzglyad eksperta / A. Schepanov // Elektronika: Nauka, tehnologiya, biznes. - 2019. - № 7 (188). - S. 74-77. - DOI: 10.22184/1992-4178.2019.188.7.74.77.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B20">
    <label>20.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Зольников, В.К. Разработка схемотехнического и конструктивно-технологического базиса ЭКБ / В.К. Зольников, А.А. Стоянов // Моделирование систем и процессов. - 2011. - № 1-2. - С. 28-30.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Zol'nikov, V.K. Razrabotka shemotehnicheskogo i konstruktivno-tehnologicheskogo bazisa EKB / V.K. Zol'nikov, A.A. Stoyanov // Modelirovanie sistem i processov. - 2011. - № 1-2. - S. 28-30.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
  </ref-list>
 </back>
</article>
