<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article
PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.4 20190208//EN"
       "JATS-journalpublishing1.dtd">
<article xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" article-type="research-article" dtd-version="1.4" xml:lang="en">
 <front>
  <journal-meta>
   <journal-id journal-id-type="publisher-id">Actual directions of scientific researches of the XXI century: theory and practice</journal-id>
   <journal-title-group>
    <journal-title xml:lang="en">Actual directions of scientific researches of the XXI century: theory and practice</journal-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>Актуальные направления научных исследований XXI века: теория и практика</trans-title>
    </trans-title-group>
   </journal-title-group>
   <issn publication-format="print">2308-8877</issn>
  </journal-meta>
  <article-meta>
   <article-id pub-id-type="publisher-id">8305</article-id>
   <article-id pub-id-type="doi">10.12737/14845</article-id>
   <title-group>
    <article-title xml:lang="en">Causes of damage to the metallization of integrated circuits in terms of currents of high density</article-title>
    <trans-title-group xml:lang="ru">
     <trans-title>Причины повреждения металлизации интегральных схем в условиях воздействия токов повышенной плотности</trans-title>
    </trans-title-group>
   </title-group>
   <contrib-group content-type="authors">
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Врабий</surname>
       <given-names>Эдуард Михайлович</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Vrabiy</surname>
       <given-names>Eduard Михайлович</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Алексеев</surname>
       <given-names>Виктор Федорович</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Alekseev</surname>
       <given-names>Viktor Федорович</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <email>kojiet@gmail.com</email>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Пискун</surname>
       <given-names>Геннадий Адамович</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Piskun</surname>
       <given-names>Gennadiy Адамович</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
     <email>kojiet@gmail.com</email>
    </contrib>
    <contrib contrib-type="author">
     <name-alternatives>
      <name xml:lang="ru">
       <surname>Дегалевич</surname>
       <given-names>Дмитрий Александрович</given-names>
      </name>
      <name xml:lang="en">
       <surname>Degalevich</surname>
       <given-names>Dmitriy Александрович</given-names>
      </name>
     </name-alternatives>
    </contrib>
   </contrib-group>
   <pub-date publication-format="print" date-type="pub" iso-8601-date="2015-12-10T00:00:00+03:00">
    <day>10</day>
    <month>12</month>
    <year>2015</year>
   </pub-date>
   <pub-date publication-format="electronic" date-type="pub" iso-8601-date="2015-12-10T00:00:00+03:00">
    <day>10</day>
    <month>12</month>
    <year>2015</year>
   </pub-date>
   <volume>3</volume>
   <issue>7P1</issue>
   <fpage>228</fpage>
   <lpage>232</lpage>
   <self-uri xlink:href="https://zh-szf.ru/en/nauka/article/8305/view">https://zh-szf.ru/en/nauka/article/8305/view</self-uri>
   <abstract xml:lang="ru">
    <p>Изучаются причины повреждения металлизации интегральных схем (ИС) в условиях воздействия токов повышенной плотности, которые характерны для разрядов статического электричества.</p>
   </abstract>
   <trans-abstract xml:lang="en">
    <p>Examines the causes of damage to the metallization of integrated circuits (IC) in terms of currents of high density, which are typical for discharges of static electricity.</p>
   </trans-abstract>
   <kwd-group xml:lang="ru">
    <kwd>повреждение</kwd>
    <kwd>отказ</kwd>
    <kwd>металлизация</kwd>
    <kwd>электродиффузия</kwd>
    <kwd>надежность</kwd>
    <kwd>электростатический разряд (ЭСР)</kwd>
   </kwd-group>
   <kwd-group xml:lang="en">
    <kwd>damage</kwd>
    <kwd>failure</kwd>
    <kwd>metallization</kwd>
    <kwd>electrodiffusive</kwd>
    <kwd>reliability</kwd>
    <kwd>electrostatic discharge (ESD)</kwd>
   </kwd-group>
  </article-meta>
 </front>
 <body>
  <p>Технологические недостатки металлизации, контактов и внешних выводов в значительной мере объясняют тот факт, что прогнозируемая высокая надежность ИС достаточно трудно реализуема. Стоит отметить, что система внутрисхемных соединений должна исключительно надежно выполнять свои функции, однако производственно-технологические дефекты могут существенно ограничить возможности металлизации ИС.Среди различных видов повреждения ИС, вызванных воздействием разрядов статического электричества, особое место принадлежит эффекту расплавления металлизированных дорожек, представляющих собой узкие (шириной в несколько микрон), тонкие (толщиной около 0,5 мкм), протяженные (длиной до 100 мкм) полоски металлизации, напыляемые на поверхность окисных защитных пленок [1, 2].Из работы [3] известно, что отведение тепла от дорожки осуществляется четырьмя способами: путем конвекции, теплового излучения, теплопередачи вдоль дорожки и теплопередачи в глубину полупроводникового кристалла. </p>
 </body>
 <back>
  <ref-list>
   <ref id="B1">
    <label>1.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Онегин, Е.Е. Автоматическая сборка ИС / Е.Е. Онегин, В.А. Зенько¬вич, Л.Г. Битно. Минск: Выш. шк., 1990. 382 с.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Onegin, E.E. Avtomaticheskaya sborka IS / E.E. Onegin, V.A. Zen&amp;#180;ko¬vich, L.G. Bitno. Minsk: Vysh. shk., 1990. 382 s.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B2">
    <label>2.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Парфенов, О.Д. Технология микросхем / О.Д. Парфенов. М.: Высш. шк., 1986. 320 с.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Parfenov, O.D. Tekhnologiya mikroskhem / O.D. Parfenov. M.: Vyssh. shk., 1986. 320 s.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B3">
    <label>3.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Каверзнев, В.А. Статическое электричество в полупроводниковой промышленности / В.А. Каверзнев. М.: Энергия, 1975. 164 с.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Kaverznev, V.A. Staticheskoe elektrichestvo v poluprovodnikovoy promyshlennosti / V.A. Kaverznev. M.: Energiya, 1975. 164 s.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B4">
    <label>4.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Физические основы надежности ИС / под ред. Ю.Г.Миллера. М., Сов. радио, 1976, 320 с.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Fizicheskie osnovy nadezhnosti IS / pod red. Yu.G.Millera. M., Sov. radio, 1976, 320 s.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B5">
    <label>5.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Брылева, О.А. Основные механизмы повреждения микроконтроллеров вследствие влияния электростатических разрядов / О.А. Брылева, В.Ф. Алексеев, Г.А. Пискун // Вестник Белорусско-Российского университета. 2013. № 2 (39).     С. 130-137.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Bryleva, O.A. Osnovnye mekhanizmy povrezhdeniya mikrokontrollerov vsledstvie vliyaniya elektrostaticheskikh razryadov / O.A. Bryleva, V.F. Alekseev, G.A. Piskun. Vestnik Belorussko-Rossiyskogo universiteta. 2013. № 2 (39).     S. 130-137.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
   <ref id="B6">
    <label>6.</label>
    <citation-alternatives>
     <mixed-citation xml:lang="ru">Моделирование распределения температуры в токоведущих элемен¬тах интегральных микросхем в результате воздействия электростатических раз¬рядов / Г.А. Пискун, В.Ф. Алексеев, В.Л. Ланин, В.Г. Левин // Доклады БГУИР. 2014.     № 4 (82). С. 16-22.</mixed-citation>
     <mixed-citation xml:lang="en">Modelirovanie raspredeleniya temperatury v tokovedushchikh elemen¬takh integral&amp;#180;nykh mikroskhem v rezul&amp;#180;tate vozdeystviya elektrostaticheskikh raz¬ryadov / G.A. Piskun, V.F. Alekseev, V.L. Lanin, V.G. Levin. Doklady BGUIR. 2014.     № 4 (82). S. 16-22.</mixed-citation>
    </citation-alternatives>
   </ref>
  </ref-list>
 </back>
</article>
