TY  JOUR
TI  Фундаментальные основы приборно-технологического моделирования SEE при проектировании изделий силовой ЭКБ
KW  Силовая электроника
KW  полупроводниковая структура
KW  полевой транзистор
KW  МОП
KW  ДМОП
KW  эффект единичный со-бытия
KW  ТЗЧ
KW  эффект единичного прожога
KW  стойкость к воздействию излучения
KW  ионизирующее излучение
KW  САПР TCAD
KW  моделирование
KW  физические и математические модели
KW  полупроводниковый прибор
KW  Power electronics
KW  semiconductor structure
KW  MOSFET
KW  MOS
KW  DMOS
KW  Single Event Effect (SEE)
KW  Single Event Burnout (SEB)
KW  Single Event Gate Rupture (SEGR).
JO  Моделирование систем и процессов
AU  Харченко, М.Э.
PY  2026
IS  19
PB  Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова