LDR 01088naa#a2200193#i#450#
001     RU\\bibl\53299
005     20241128161844.4
011 ## _a2219-0767
100 ## _a20221005b2022####ek#y0rusy0150####ca
102 ## _aRU
200 1# _aОценка влияния структурных особенностей кристалла на стойкость ДМОП транзисторов к ионизирующему излучению
       _eЖурнальная статья
210 1# _aВоронеж
       _cВоронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова
       _d2022
215 ## _a8 с.
608 ## _aЖурнальная статья
       _2local
675 ## _aЭлектронные элементы, использующие свойства твердого тела. Полупроводниковая электроника. 621.382
       _z
700 #1 _aХарченко
       _gМаксим Эдуардович
700 #1 _aДорохов
       _gВ. А.
700 #1 _aКолесников
       _gМаксим Иванович
856 4# _azh-szf.ru
       _u