The technique of crystalline redundancy of ADC and DAC units is considered to increase the survivability of converters in operating conditions. The expediency of backing up the main digital blocks (adders, registers, PLLs), as well as peripheral DACs and comparators used for automatic calibration and calibration of converters is substantiated.
analog-to-digital converter (ADC), digital-to-analog converter (DAC), redundancy, blocks, survivability
1. Ioniziruyuschie izlucheniya kosmicheskogo prostranstva i ih vozdeystvie na bortovuyu apparaturu kosmicheskih apparatov / V. S. Anashin [i dr.]; pod red. G. G. Raykunova. - M. : FIZMATLIT, 2013. - 255 c.
2. Modelirovanie ionizacionnyh effektov i effektov smescheniya v cifrovyh mikroshemah dlya SAPR / V. K. Zol'nikov, V. V. Lavlinskiy, Yu. A. Chevychelov, Yu. S. Serbulov, V. I. Anciferova, V. N. Achkasov, Yu. G. Tabakov // Lesotehnicheskiy zhurnal. - 2014. - T. 4, № 4 (16). - S. 280-291.
3. Analiz problem modelirovaniya elementov KMOP BIS / V. K. Zol'nikov, S. A. Evdokimova, A. V. Fomichev, V. N. Chikin, A. V. Achkasov, V. F. Zinchenko // Modelirovanie sistem i processov. - 2018. - T. 11, № 4. - S. 20-25.
4. Kryukov, V. P. Problemy modelirovaniya bazovyh elementov KMOP BIS dvoynogo naznacheniya v SAPR / V. P. Kryukov, K. V. Zol'nikov, S. A. Evdokimova // Modelirovanie sistem i processov. - 2013. - № 4. - S. 41-44.
5. Metody obespecheniya stoykosti mikroshem k odinochnym sobytiyam pri proektirovanii radiacionno-stoykih mikroshem / V. N. Achkasov, V. A. Smerek, D. M. Utkin, V. K. Zol'nikov // Problemy razrabotki perspektivnyh mikro- i nanoelektronnyh sistem (MES). - 2012. - № 1. - S. 634-637.
6. Zol'nikov, V. K. Metodika proektirovaniya radiacionno-stoykih integral'nyh shem / V. K. Zol'nikov, V. N. Achkasov, V. P. Kryukov // Voprosy atomnoy nauki i tehniki. Seriya: Fizika radiacionnogo vozdeystviya na radioelektronnuyu apparaturu. - 2004. - № 1-2. - S. 57-60.
7. Razvitie tehnologii i platform proektirovaniya pri topologicheskih normah menee 90 nm / V. A. Sklyar, K. V. Zol'nikov, V. V. Lavlinskiy, K. I. Tapero, A. I. Ozerov // Modelirovanie sistem i processov. - 2012. - № 4. - S. 72-76.
8. Belyaeva, T. P. Model' optimal'nogo planirovaniya proektov sozdaniya izdeliy mikroelektroniki proektov / T. P. Belyaeva, A. P. Zatvornickiy // Programmnye produkty i sistemy. - 2011. - № 2. - S. 61-64.
9. Zol'nikov, K. V. Sovremennoe proektirovanie elektronnoy komponentnoy bazy / K. V. Zol'nikov, V. V. Lavlinskiy // Ekonomika. Innovacii. Upravlenie kachestvom. - 2015. - № 1 (10). - S. 40-41.
10. Kononov, V. S. Shemotehnicheskie metody povysheniya stoykosti analogovyh blokov ACP k vozdeystviyu tyazhelyh zaryazhennyh chastic / V. S. Kononov, A. A. Illarionov // Teoriya i tehnika special'noy radiosvyazi. - 2018. - №2. - S. 101-107.
11. Smerek, V. K. Model' fizicheskih processov v elementah SBIS pri vozdeystvii tyazhelyh zaryazhennyh chastic / V. K. Smerek, V. K. Zol'nikov, K. I. Tapero // Modelirovanie sistem i processov. - 2010. - № 1-2. - S. 41-48.
12. Zol'nikov, V. K. Verifikaciya proektov i sozdanie testovyh posledovatel'nostey dlya proektirovaniya mikroshem / V. K. Zol'nikov, S. A. Evdokimova, T. V. Skvorcova // Modelirovanie sistem i processov. - 2019. - T. 12, № 1. - S. 10-16.
13. Kononov, V. S. Lokalizaciya i neytralizaciya sluchaynyh defektov pri povyshenii resursa rabotosposobnosti ACP i CAP / V. S. Kononov, S. I. Rembeza // Vestnik Voronezhskogo gosudarstvennogo tehnicheskogo universiteta. - 2018. - T. 14, № 2. - S. 114-119.
