RESULTS OF TESTS OF PRODUCTS TO INFLUENCE OF HEAVY CHARGED PARTICLES
Abstract and keywords
Abstract (English):
In article assessment of resistance of chips to influence of heavy charged particles is considered, the test environment, material support of tests are described.

Keywords:
design automation, chips, firmness, heavy charged particles.
Text

Оценка соответствия микросхем требованиям по стойкости к воздействию тяжелых заряженных частиц (ТЗЧ) проводилась в соответствии с программой методикой испытаний и по алгоритмам, представленным в [1, 2].

Задачами испытаний являются:

-     получение экспериментальных данных для оценки соответствия порогового значения ЛПЭ для необратимых отказов в микросхемах заданным требованиям;

-     определение зависимости уровней сбоеустойчивости изделий от ЛПЭ ионов.

 

Параметрами-критериями работоспособности и сбоеустойчивости являются параметры, указанные в табл. 1.

References

1. Zol´nikov, V. K. Vybor znacheniy parametrov, opredelyayushchikh kinetiku nakopleniya zaryada v dielektrike pri radiatsionnom vozdeystvii [Tekst] / V. K. Zol´nikov, V. P.Kryukov, V. N. Achkasov, V. A.Sklyar. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2015. - T. 8. № 3. - S. 24-26.

2. Zol´nikov, K. V. Raschet izmeneniya skhemotekhnicheskikh parametrov pri vozdeystvii nizkointensivnogo izlucheniya faktorov kosmicheskogo prostranstva [Tekst] / K. V. Zol´nikov, V. A. Sklyar, V. P. Kryukov, A. S. Groshev, K. A. Chubur. Modelirovanie sistem i protsessov. - 2015. - T. 8. № 3. - S. 33-35.

Login or Create
* Forgot password?