Abstract and keywords
Abstract (English):
Considered method of three-dimensional modeling of elements of integral schemes in conditions of influence ionizing radiations. Offered algorithm of modeling connecting ionizing current p-n-junction allowing take into account effect of restriction of volume a collection of carriers a charge.

Keywords:
integral circuits, ionizing radiation, ionizing current.
Text

УДК 621.384.6: 537.535

Трехмерное моделирование элементов интегральных схем в условиях радиационного воздействия

Three-dimensional modeling of elements of integral schemes in conditions radiation influences

Панюшкин Н.Н.

Матвеев Н.Н.

ФБГОУ ВПО «Воронежская государственная лесотехническая академия»,

г. Воронеж, Россия

nnpan@yandex.ru

DOI: 10.12737/6762

 

Аннотация. Рассмотрен метод трехмерного моделирования элементов интегральных схем в условиях воздействия ионизирующего излучения. Предложен алгоритм моделирования переходного ионизационного тока p-n-перехода позволяющий учесть эффект ограничения объема сбора носителей заряда (НЗ).

Summary:Considered method of three-dimensional modeling of elements of integral schemes in conditions of influence ionizing radiations. Offered algorithm of modeling connecting ionizing current p-n-junction allowing take into account effect of restriction of volume a collection of carriers a charge.

Ключевые слова: интегральные схемы, ионизирующее излучение, ионизационный ток.

Keywords: integral circuits, ionizing radiation, ionizing current.

 

К моделям элементов ИС предъявляются два противоречивых требования - они должны быть точными и экономичными. Компромисс может быть достигнут путем введения физических оправданных упрощений математических моделей. Одним из наиболее эффективных компромиссных подходов такого рода является метод региональных приближений [1]. Метод предусматривает разбиение транзисторной структуры на отдельные области, совпадающие с областью пространственного заряда p-n-переходов и квазинейтральными областями. При этом появляется возможность произвести расчет полупроводниковой структуры по частям. В качестве критерия правомерности разбиения структуры на отдельные области (секции) будем использовать условие постоянства граничных условий.

 

 


Для МОП-транзистора, изготовленного по КНИ технологии (рис.1), переходные ионизационные токи каждого из р-n-переходов «исток-карман» и «сток-карман» состоят из четырех составляющих. 

References

1. Panyushkin N.N. Modelirovanie perekhodnykh ionizatsionnykh tokov elementov integral´nykh skhem na osnove metoda regional´nykh priblizheniy / N.N. Panyushkin. Sistemy upravleniya i informatsionnye tekhnologii. - 2009.- Vyp. 3(37). - S.84-88.

2. Panyushkin N.N. Mikrouravnevaya model´ ionizatsionnogo toka r-n-perekhoda / N.N. Panyushkin. Izvestiya vuzov. Severo-Kavkazskiy region. Tekhnicheskie nauki. - 2011. - №4. - S. 38-39.


Login or Create
* Forgot password?