Россия
Россия
АО "Научно-исследовательский институт электронной техники"
Россия
Рассмотрено сравнение экспериментальных и теоретических результатов числа отказов у микросхем при воздействии тяжелых заряженных частиц. Сравнение результатов показало достаточно хорошее совпадение.
Моделирование, радиация, частицы.
Для оценки адекватности моделирования проводились испытания микросхем с использованием предложенных методов защиты и без них [1-4].
Испытания проводились на микросхемах выбраны микросхемы 1882ВЕ53У, выполненные по технологии КМОП 0,35 мкм (без применения защиты ОЗУ и ПЗУ), 1882ВЕ53УМ технология – 0,35 КМОП X-Fab (резервирование ОЗУ – три блока по 512 байт, "регенерация" ОЗУ – постоянное чтение и перезапись в случае обнаружение ошибки, резервирование всех триггеров, защита кодом Хэмминга памяти данных и памяти команд) и 1830ВЕ32У (Танк-5) выполненные по технологии 0,5 мкм КМОП/КНИ НИИСИ РАН (резервирование ОЗУ – три блока по 256 байт).
Экспериментальные исследования проводились на циклотроне У-400М при воздействии ионов Kr84 с ЛПЭ(Si) – 40 МэВ (для ИС 1882ВЕ53У, 1882ВЕ53УМ) и ионов Xe131 с ЛПЭ(Si) – 60 МэВ (для ИС 1830ВЕ32У).
1. Яньков, А. И. Методика функционального контроля СБИС серии 1874 на стойкость к воздействию ТЗЧ КП [Текст] / А. И. Яньков, В. А. Смерек // Радиационная стойкость электронных систем «Стойкость-2011» : научно-технический сборник : материалы докладов Российской конференции. - М. : МИФИ, 2011. - С. 88-89.
2. Крюков, В. П. Результаты экспериментальных исследований микросхем 1882ВЕ53У, 1882ВЕ53УМ и 1830ВЕ32У на стойкость к воздействию тяжелых заряженных частиц. [Текст] / В.П. Крюков, А.И. Яньков, В.Г. Калинин, В.А. Смерек // Моделирование систем и процессов. - 2011. - № 4. - С. 41-44.
3. Яньков, А. И. Подход к тестированию сложно-функциональных микросхем, примененный при испытаниях двухпроцессорной «системы на кристалле» на базе ядер 32-разрядных процессоров ЦОС [Текст] / А. И. Яньков, А. В. Ачкасов, К. В. Зольников, М. В. Конарев // Элементная база отечественной электроники : материалы первой Российко-белорусской научно-технической конференции. - Н. Новгород, ННГУ. - 2013. - С. 96-99.
4. Яньков, А. И. Результаты исследования сбоеустойчевого процессора серии 1867 [Текст] / А. И. Яньков, А. В. Ачкасов, К. В. Зольников, М. В. Конарев, Н. А. Орликовский // Моделирование систем и процессов. -2013. - № 4. - С. 72-74.
5. Скляр, В. А. Разработка микросхемы для использования в автомобильном транспорте при сборе и обработке данных [Текст] / В. А. Скляр, К. В. Зольников, А. В. Ачкасов, А. А.Стоянов // Альтернативные источники энергии на автомобильном транспорте: проблемы и перспективы рационального использования : материалы международной конференции. - Воронеж, 2014. - С. 348-354.
6. Смерек, В.А. Определение вероятности безотказной работы при структурной оптимизации элементов сложных функциональных блоков в САПР [Текст] / В. А. Смерек, К. В. Зольников, А. И. Яньков, М. В. Конарев, Н. А. Орликовский, А. В. Ачкасов // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 3. - С. 35-37.
7. Кононов, В. С. Двоично-взвешенный цунговый ЦАП для низковольтных АЦП на КНИ-подложках [Текст] / В. С. Кононов, К. В. Зольников / Элементная база отечественной электроники : материалы первой Российко-белорусской научно-технической конференции. - Н. Новгород, ННГУ. - 2013. - С. 22.
8. Зольников, К. В. Разработка микросхемы для систем сбора и обработки данных [Текст] / К. В. Зольников, В. А. Скляр, А. В. Ачкасов // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 1. - С. 40-44.
9. Смерек, В. А. Микроконтроллер 1830ВЕ32У - 8-разрядная архитектура MSC-51 в радиационно-стойком исполнении [Текст] / В. А. Смерек, А. И. Яньков, А. В. Крюков // Всероссийская научно-техническая конференция «Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС)» : сборник трудов. - 2010. - № 1. - С.279-282.
10. Смерек, В. А. Микроконвертер К1874ВЕ96Т. Первый отечественный 16-разрядный микроконвертер [Текст] / В. А. Смерек, В. Н. Ачкасов, И.П. Потапов // Всероссийская научно-техническая конференция "Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС)» : сборник трудов. - 2010. - № 1. - С. 390-393.
