АО "Научно-исследовательский институт электронной техники"
Россия
Россия
Предложена математическая модель по расчету надежности программно-технических комплексов специального назначения. Проведен теоретический анализ для учета комплексных характеристик надежности программно-технических комплексов. Интегрирование показателей надежности в процесс проектирования позволяет на ранних этапах разработки сложных комплексов выявить несоответствия требованиям технического задания и улучшить его характеристики.
Математическая модель, надежность, САПР, программно-технический комплекс, радиация.
1. Технические средства автоматизации. Программно-технические комплексы и контроллеры [Текст] / И. А. Елизаров, Ю. Ф. Мартемьянов, А. Г. Схиртладзе, С. Ф. Фролов. - М. : Машиностроение, 2004. - 126 с.
2. Фортинский, Ю. К. Создание подсистемы сложных цифровых микросхем с учетом радиационного воздействия / Ю. К. Фортинский, В. К. Зольников, М. В. Конарев. - Воронеж : Издательство-полиграфический центр Воронежского государственного университета, 2011. - 208 с.
3. Шкляр, В. Н. Надежность систем управления / В. Н. Шкляр. - Томск : Издательство Томского политехнического университета, 2009. - 126 с.
4. Ушаков, И. А. Курс теории надежности систем / И. А. Ушаков. - М. : Изд. Дрофа, 2008. - 209 с.
5. Надежность информационных систем / Ю. Ю. Громов, О. Г. Иванова, Н. Г. Мосягина, К. А. Набатов. - Тамбов : Издательство ГОУ ВПО ТГТУ, 2010. - 160 с.
6. Уткин, Д. М. Проблемно-ориентированное программное обеспечение для расчета показателей надежности сложных блоков программно-технических комплексов и его интеграция в САПР сквозного проектирования / Д. М. Уткин, В. К. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 3. - С. 48-51.
7. Баруча-Рид, А. Т. Элементы теории Марковских процессов и их приложения / А. Т. Баруча-Рид. - М. : Изд. Наука, 1969. - 512 с.
8. Метод и алгоритм поиска дефектов для радиационно-стойких микросхем // К.В. Зольников, В.А. Скляр, В.П. Крюков, А.В. Ачкасов, В.И. Анциферова, С.А. Евдокимова // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2014. - № 2. - С. 10-13.
9. Берж, К. Теория графов и ее применения / К. Берж. - М. : Издательство иностранной литературы, 1962. - 320 с.
10. Уткин, Д. М. Модернизированная методика проектирования сложных блоков программно-технических комплексов с учетом их параметров надежности / Д. М. Уткин, В. К. Зольников // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2014. - № 2. - С. 33-38.
