Россия
В статье рассматривается современное состояние электронно-компонентной базы космического назначения, проблемы ее создания, виды космического излучения, виды отказов работы микросхем. Проанализированы особенности развития современных средств автоматизации проектирования элементной базы космического назначения с учетом воздействия космического излучения.
САПР, микропроцессоры, СБИС, космическое воздействие, низкоинтенсивное ионизирующее излучение, процессы моделирования и проектирования, радиационно-стойкие микросхемы.
1. Зольников, В. К. Разработка математических моделей расчета радиационной стойкости параметров типовых элементов и определение адекватности схемотехнических и конструктивно технологических решений / В. К. Зольников, В. П. Крюков, В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек // Моделирование систем и процессов. - 2011. - № 1-2. - С. 24-26.
2. Зольников, К. В. Метод и алгоритм поиска дефектов для радиационно-стойких микросхем / К. В. Зольников, В. А. Скляр, В. П. Крюков, А. В. Ачкасов, В. И. Анциферова, С. А. Евдокимова. // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную апаратуру. - 2014. - № 2. - С. 10-13.
3. Скляр, В. А. Обзор средств САПР для субмикронных СБИС / В. А. Скляр, К. В. Зольников, И. В. Нагорный, В. В. Лавлинский // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 1. - С. 60-64.
4. Зольников, К. В. Обзор программ для САПР субмикронных СБИС / К. В. Зольников, В. А. Скляр, В. В. Лавлинский, С. А. Евдокимова, В. И. Анциферова // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 2. - С. 72-76.
5. Скляр, В. А. Проектирование и испытания микросхем для систем сбора и обработки информации / В. А. Скляр, А. В. Ачкасов, К. В. Зольников // Радиотехника. - 2014. - № 6. - С. 94-98.
6. Потапов, И. П. Средства автоматизации проектирования радиационно-стойкой элементной базы / И. П. Потапов, А. В. Ачкасов, В. К. Зольников // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. -2006. - № 1-2. - С. 147-148.
7. Ачкасов, А. В. Создание отечественной проектной среды разработки микроэлектронных систем / А. В. Ачкасов, А. И. Яньков // Приводная техника. - 2006. -№ 5. - С. 28-30.
8. Ачкасов, В. Н. Методика определения стойкости изделий микроэлектроники / В. Н. Ачкасов // Интеллектуальные информационные системы : сб. науч. тр. - Воронеж : ВГТУ, 2006. - С. 29-30.
9. Обоснование структуры АРМ проектирования базовых элементов микросхем двойного назначения / В. Н. Ачкасов, П. Р. Машевич, Ю. К. Фортинский, В. Е. Межов, В. К. Зольников // Математическое моделирование, компьютерная оптимизация технологий, параметров оборудования и систем управления: межвузовский сборник научных трудов. - Вып. Х. - Воронеж: ВГЛТА, 2005. - С. 215-216.
10. Подсистема автоматизации проектирования радиационно-стойкой элементной базы и унифицированных модулей вычислительных комплексов бортовых систем управления / В. Н. Ачкасов, В. М. Антимиров, П. Р. Машевич. Ю. К. Фортинский // Интеллектуальные информационные системы : сб. науч. тр. - Воронеж : ВГТУ, 2005. - С. 45-46.
11. Ачкасов, В. Н. Средства автоматизации проектирования радиационно-стойкой элементной базы и унифицированных модулей вычислительных комплексов бортовых систем управления / В. Н. Ачкасов, В. М. Антимиров, П. Р. Машевич // Материалы Российской конференции «Стойкость-2005». - Москва: МИФИ,2005. - С. 251
12. Pease, R. L. ELDRS in bipolar linear circuits: a review / R. L. Pease, R. D. Schrimpf, D. M. Fleetwood // IEEE Trans. Nucl. Sci. - 2009. - Vol. 56, № 6. - P. 1894-1908.
13. Согоян, А. В. Особенности пост радиационных релаксационных процессов в КНС ИС / А. В. Согоян, Г. Г. Давыдов // Радиационная стойкость электронных систем. - 2005. - Вып. 8. - С. 49-50.
