Россия
Воронежская область, Россия
Россия
В статье рассматриваются современные методики верификации проектирования микросхем: «сверху вниз», «снизу вверх», на основе аппаратной платформе и на основе системного интерфейса. Представлены схемы приведенных выше методик проектирования и верификации. Для оценки качества выполненной верификации целесообразно разработать ее план, который будет описывать необходимые ресурсы и параметры оценки качества проведенных процедур.
Микросхема, проектирование, верификация «сверху вниз», верификация «снизу вверх», верификация на основе аппаратной платформе, верификация на основе системного интерфейса.
1. Зольников, В.К. Методика проектирования современной микрокомпонентной базы с учетом одиночных событий радиационного воздействия / В.К. Зольников // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2012. - № 3. - С. 5-8.
2. Совмещенная аппаратно-программная верификация микросхем / В.А. Скляр, К.В. Зольников, И.В. Нагорный // Моделирование систем и процессов. - 2012. - № 2. - С. 63-65.
3. Методы схемотехнического моделирования КМОП СБИС с учетом радиации / К.В. Зольников, В.А. Скляр, В.И. Анциферова, С.А. Евдокимова // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2014. - № 2. - С. 5-9.
4. Зольников, В.К. Методика проектирования радиационно-стойких интегральных схем / В.К. Зольников, В.Н. Ачкасов, В.П. Крюков // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2004. - № 1-2. - С. 57-60.
5. Создание схемотехнического и конструктивно-технологического базиса микросхем специального назначения / В.К. Зольников, В.П. Крюков, А.Ю. Кулай, Ю.К. Фортинский, И.И. Струков, М.В. Солодилов // Моделирование систем и процессов. - 2017. - Т. 10, № 1. - С. 27-29.
6. Скляр, В.А. Проектирование и испытания микросхем для систем сбора и обработки информации / В.А. Скляр, А.В. Ачкасов, К.В. Зольников // Радиотехника. - 2014. - № 6. - С. 94-98.
7. Расчет изменения схемотехнических параметров при воздействии низкоинтенсивного излучения факторов космического пространства/ К.В. Зольников, В.А. Скляр, В.П. Крюков, А.С. Грошев, К.А. Чубур // Моделирование систем и процессов. - 2015. - Т. 8, № 3. - С. 33-35.
8. Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем / В.Н. Ачкасов, В.А. Смерек, Д.М. Уткин, В.К. Зольников // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2012. - № 1. - С. 634-637.
