Россия
АО "Научно-исследовательский институт электронной техники"
Россия
Воронежская область, Россия
ГРНТИ 29.01 Общие вопросы физики
Рассматривается задача обеспечения стойкости электронной компонентной базы при возникновении обратимых одиночных событий и ее решение методами N-кратного резервирования. В работе приводятся описание, схема, достоинства и недостатки методов N-кратного резервирования таких, как дублирование с нагруженным резервным элементом, различные модификации троирования, скользящее резервирование, применение сторожевого таймера.
Электронная компонентная база (ЭКБ), системотехника, стойкость, обратимые одиночные события, N-кратное резервирование, скользящее резервирование
1. Моделирование ионизационных эффектов и эффектов смещения в цифровых микросхемах для САПР / В.К. Зольников, В.В. Лавлинский, Ю.А. Чевычелов [и др.] // Лесотехнический журнал. - 2014. - Т. 4, № 4 (16). - С. 280-291.
2. Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем / В.Н. Ачкасов, В.А. Смерек, Д.М. Уткин, В.К. Зольников // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2012. - № 1. - С. 634-637.
3. Радиационные эффекты в изделиях полупроводниковой микроэлектроники современных технологий / В.Ф. Зинченко, А.А. Романенко, Р.Г. Усеинов, В.М. Ужегов // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2016. - № 1. - С. 29-36.
4. Formation of the predicted training parameters in the form of a discrete information stream / T.E. Smolentseva, V.I. Sumin, V.K. Zolnikov, V.V. Lavlinsky // Journal of Physics: Conference Series. - 2018. - Pp. 012045.
5. Research of noncontact laser-based approach for dut heating during single-event effect tests with heavy ion exposure / E.V. Mitin, E.N. Nekrasova, V.S. Anashin, A.E. Koziukov // IEEE Radiation Effects Data Workshop. REDW 2017. - 2017. - Pp. 8115437.
6. Анализ проектирования блоков RISC-процессора с учетом сбоеустойчивости / В.К. Зольников, А.С. Ягодкин, В.И. Анциферова, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова, А.И. Яньков // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 4. - С. 56-65.
7. Анализ проблем моделирования элементов КМОП БИС / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, А.В. Фомичев, В.Н. Чикин, А.В. Ачкасов, В.Ф. Зинченко // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 4. - С. 20-25.
8. Зольников, В.К. Проектирование современной микрокомпонентной базы с учетом одиночных событий радиационного воздействия / В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2012. -№ 1. - С. 27-30.
9. Compact modeling of soft error rate in space environment / V.S. Anashin, A.E. Koziukov, M.E. Gorchichko, K.S. Zemtsov, A.M. Galimov, G.I. Zebrev // Proceedings of the European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems, RADECS, RADECS 2016. - 2017. - Pp. 1-5.
10. Арзамасцев, М.Ю. Анализ стойкости к ТЗЧ радиационно-стойкого микроконтроллера 1874BE10T, выполненного по отечественной технологии 0.25 мкм / М.Ю. Арзамасцев, А.И. Яньков // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 1. - С. 4-9.
