Россия
Россия
Россия
Воронежская область, Россия
Россия
АО "Научно-исследовательский институт электронной техники"
УДК 621 Общее машиностроение. Ядерная техника. Электротехника. Технология машиностроения в целом
Работа посвящена исследованию чувствительности электронной компонентной базы (ЭКБ) к воздействию тяжелых заряженных частиц. При этом различают степень чувствительности в зависимости от функциональной группы изделий ЭКБ к воздействию ионизационного излучения космического пространства и от конструктивно-технологического исполнения изделий ЭКБ. В работе приведены характеристики и условия применения ЭКБ в радиоэлектронной аппаратуре космического пространства для обеспечения минимальной чувствительности к воздействию ионизационного излучения и к тиристорному эффекту. После проведения анализа чувствительности изделий ЭКБ выполняется предварительный выбор ЭКБ, требующий проведения испытаний. В статье рассмотрены критерии определения ЭКБ, требующей проведения испытаний и возможной к использованию без проведения испытаний. Определены методы повышения стойкости радиоэлектронной аппаратуры космической аппаратуры и направления оптимизации методики анализа перечней ЭКБ
Электронная компонентная база (ЭКБ), тяжелые заряженные частицы (ТЗЧ), ионизационное излучение (ИИ), космическое пространство (КП), испытания, радиационная стойкость
1. Усеинов, Р.Г. Методика расчетно-экспериментальной оценки параметров чувствительности ЭКБ к эффектам одиночных событий при воздействии нейтронов по результатам экспериментов на ТЗЧ и ВЭП / Р.Г. Усеинов, А.С. Ватуев // Радиационная стойкость электронных систем "Стойкость-2021" : сборник трудов 24-й Всероссийской научно-технической конференции : научно-технический сборник. - Лыткарино, 2021. - С. 55-56.
2. On analysis of the electromagnetic resistance of radioelectronic devices under impulse radiation / Y.P. Lonin, A.G. Ponomaryov, V.I. Chumakov // Problems of Atomic Science and Technology. - 2018. - T. 115(3). - Pp. 45-48.
3. Analysis of metrological provision problems of a test stand for testing radio-electronic products for resistance to irradiation with high-energy heavy ions / A.V. Butenko, E.M. Syresin, S.I. Tyutyunnikov [et al.] // Physics of Particles and Nuclei Letters. - 2019. - T. 16(6). - Pp. 734-743. - DOI:https://doi.org/10.1134/S1547477119060098.
4. Беляева, Т.П. Методы поддержки принятия решений в части оценки достаточности требований технического задания к микроэлектронным компонентам и возможности их реализации отечественными предприятиями электронной промышленности / Т.П. Беляева, В.К. Зольников // Политематический сетевой электронный научный журнал Кубанского государственного аграрного университета. - 2012. - № 75. - С. 431-442.
5. Системы на кристалле (СНК) и влияние данной технологии на создание современной ЭКБ / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, М.Ю. Арзамасцев, А.Е. Гриднев // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 4. - С. 19-23. - DOI:https://doi.org/10.12737/2219-0767-2021-13-4-19-23.
6. Скляр, В.А. Моделирование низкоинтенсивного воздействия космического пространства / В.А. Скляр, В.К. Зольников, С.А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. - 2016. - Т. 9, № 2. - С. 71-74. - DOI:https://doi.org/10.12737/23663.
7. Estimation of heavy ion beam parameters during single event effects testing / V.S. Anashin, P.A. Chubunov, G.A. Protopopov [et al.] // Proceedings of the 6th International Beam Instrumentation Conference, IBIC 2017. - 2017. - С. 94-97. - DOI:https://doi.org/10.18429/JACoW-IBIC2017-MOPCF10.
8. Зольников, В.К. Математическое обеспечение учета импульсного излучения в САПР сквозного проектирования СБИС / В.К. Зольников // Системы управления и информационные технологии. - 2009. - № 1-2 (35). - С. 242-244.
9. Платформа для проектирования радиационно-стойких СНК космического применения DARE65Т / М. Какоулин, С. Редант, Г. Тес [и др.] // Электроника: Наука, технология, бизнес. - 2018. - № 8 (179). - С. 122-128. - DOI:https://doi.org/10.22184/1992-4178.2018.179.8.122.128.
10. Беляева, Т.П. Управление предприятием на основе современных ИПИ-технологий / Т.П. Беляева // Моделирование систем и процессов. - 2010. - № 1-2. - С. 13-18.
11. Introduction of rapid prototyping in solving applied problems in production / V.A. Brykin, A.P. Voroshilin, P.A. Uhov, A.V. Ripetskiy // Periodico Tche Quimica. - 2020. -Т. 17, № 35. - Pp. 354-366.
12. Особенности экспериментальных методов исследования микросхем памяти с помехоустойчивым кодированием данных / А.Б. Боруздина, М.С. Темирбулатов, А.А. Печенкин [и др.] // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2016. - № 4. - С. 184-189.
13. Особенности технологического процесса изготовления микросхем космического назначения по технологии КМОП КНС / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, И.В. Журавлева [и др.] // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 3. - С. 53-58. - DOI:https://doi.org/10.12737/2219-0767-2020-13-3-53-58.
14. Синтез аналоговой ЭКБ, устойчивой к ВВФ: архитектурные, структурные, схематические решения / А.А. Лебедев, В.А. Комлева, Н.М. Клоков [и др.] // Труды научно-исследовательского института системных исследований Российской академии наук. - 2017. - Т. 7, № 2. - С. 118-119.
15. Балбеков, А.О. Методики моделирования воздействия ТЗЧ на ИС в маршруте проектирования / А.О. Балбеков, М.С. Горбунов // Труды научно-исследовательского института системных исследований Российской академии наук. - 2020. - Т. 10, № 4. - С. 4-13. - DOI:https://doi.org/10.25682/NIISI.2020.4.0001.
16. Беляева, Т.П. Интегрированная среда управления производственными процессами на основе ИПИ-технологий / Т.П. Беляева // Моделирование систем и процессов. - 2010. - № 1-2. - С. 18-23.
17. Radiation-resistant optical cable for space technology objects / I.S. Ignatikov, I.A. Ovchinnikova, I.B. Peshkov [et al.] // 2020 Systems of Signals Generating and Processing in the Field of on Board Communications. - C. 9078596. - DOI:https://doi.org/10.1109/IEEECONF48371.2020.9078596.
18. Тельпухов, Д.В. Исследование и разработка автоматизированных средств моделирования случайных сбоев в современных комбинационных КМОП ИМС / Д.В. Тельпухов, А.И. Деменева, В.В. Надоленко // Известия ЮФУ. Технические науки. - 2019. - № 4 (206). - С. 207-219. - DOI:https://doi.org/10.23683/2311-3103-2019-4-207-219.
19. Анализ проблем моделирования элементов КМОП БИС / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, А.В. Фомичев [и др.] // Моделирование систем и процессов. - 2018. - Т. 11, № 4. - С. 20-25. - DOI:https://doi.org/10.12737/article_5c79642bd56f27.90584496.
20. Методы обеспечения стойкости электронной компонентной базы к одиночным событиям путем резервирования / А.Е. Козюков, В.К. Зольников, С.А. Евдокимова [и др.] // Моделирование систем и процессов. - 2021. - Т. 14. № 1. - С. 10-16. - DOI:https://doi.org/10.12737/2219-0767-2021-14-1-10-16.
21. Space radiation effects in electronics / L. Dilillo, A. Bosser, A. Javanainen, A. Virtanen // Rad-hard Semiconductor Memories. - 2018. - Pp. 1-64.
22. Результаты оценки надежности микросхемы 1921ВК035 / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, Е.В. Грошева, А.И. Яньков // Моделирование систем и процессов. - 2019. - Т. 12, № 4. - С. 42-46. - DOI:https://doi.org/10.12737/2219-0767-2020-12-4-42-46.
23. Чумаков, А.И. Лазерная методика оценки параметров чувствительности БИС к эффектам воздействия отдельных заряженных частиц / А.И. Чумаков // Микроэлектроника. - 2018. - Т. 47, № 3. - С. 198-204. - DOI:https://doi.org/10.7868/S0544126918030031.
