ВВЕДЕНИЕ
Из радионаблюдений солнечных вспышек известно, что наряду с широкополосным континуальным излучением микроволновых всплесков наблюдаются узкополосные импульсы радиопотока, называемые в литературе тонкими структурами [Droege, 1977; Benz, 1986; Staehli et al., 1987; Allaart et al., 1990; Bruggmann et al., 1990; Altyntsev et al., 1999; Jiricka et al., 2001; Chernov et al., 2003; Fu et al., 2004; Huang et al., 2010; Zhdanov et al., 2015]. Узкая относительная полоса частот, не превышающая 5 %, и субсекундные времена жизни накладывают жесткие ограничения на размеры источника и механизмы излучения. Разнообразие временных и спектральных свойств тонких структур одновременно указывает и на различные механизмы генерации излучения, и на различные условия выхода излучения из области генерации. В настоящее время временные и спектральные особенности тонких структур изучены достаточно хорошо, однако информации об их источниках в литературе либо очень мало, либо она отсутствует совсем, поскольку подавляющая часть данных спектральных наблюдений не сопровождалась информацией, полученной из пространственных наблюдений.
В середине 90-х гг. не проводилось наблюдений с высоким спектральным разрешением в окрестности рабочей частоты ССРТ (5.7 ГГц) [Altyntsev et al., 1996]. Это не позволяло дать адекватную интерпретацию наблюдаемых на ССРТ всплесков длительностью меньше секунды, которые стали называть субсекундными импульсами (ССИ). С развитием технологий передачи данных большого объема появилась возможность использования данных солнечных спектрометров, расположенных в обсерваториях Китая [Fu et al., 1995]. Данные перекрывались по времени и частоте (5.2–7.6 ГГц) с наблюдениями на ССРТ. Первые же работы [Sych et al., 2002; Meshalkina et al., 2002; Altyntsev et al., 2003; Meshalkina et al., 2004] показали, что ССИ в динамических спектрах соответствуют различным спектральным структурам. В работах [Meshalkina et al., 2002; Altyntsev et al., 2007; Meshalkina et al., 2012] были рассмотрены структуры, называемые в литературе микроволновыми всплесками III типа [Staehli et al., 1987].
Несомненно, информация о местоположении источников тонких структур и их размерах важна для уточнения механизма излучения и определения параметров плазмы в области излучения [Chernov et al., 2014]. Но, к сожалению, в мире пока не существует радиотелескопов, способных напрямую определять положение источников микроволновых тонких структур в широкой полосе частот. Такие инструменты пока находятся на стадии проектирования [Yan et al., 2013; Lesovoi et al., 2014; Gary et al., 2014].
Существующие спектрополяриметры обладают высоким спектральным (до 5 МГц) и временным (до 5 мс) разрешением, но не имеют пространственного разрешения [Fu et al., 1995; Zhdanov et al., 2011]. Радиогелиографы, в частности ССРТ (5.7 ГГц) [Grechnev et al., 2003] и Нобеяма (17 и 34 ГГц) [Nakajima et al., 1994], имеющие высокое пространственное разрешение (до 10″), принимают излучение только на одной-двух фиксированных частотах. В связи с этим наблюдения, выполненные на РАТАН-600, дают уникальную информацию о частотно-пространственных свойствах источников, генерирующих тонкие структуры.
Анализ архива данных РАТАН-600 (интервал ежедневных наблюдений 07–11 UT) и спектрополяриметра 4–8 ГГц (интервал 00–10 UT) с марта 2011 по июнь 2013 г. показал, что из 79 событий с тонкой структурой, наблюдавшихся спектрополяриметром между 07 и 10 UT, только четыре события было зарегистрировано на РАТАН-600: 10 августа 2011 09:34 UT. 29 июня 2012 09:13 UT, 14 июля 2012 07:35 UT и 22 марта 2013 08:39 UT. Малое количество совпавших наблюдений объясняется пассажным принципом работы РАТАН-600.
В данной работе показаны результаты анализа радиоданных в событии 10 августа 2011 г. Для локализации источников тонких структур был проведен совместный анализ данных РАТАН-600, спектрополяриметра 4–8 ГГц и ССРТ. Разработана оригинальная методика локализации источников тонких структур, которая позволила найти двумерное положение источника микроволновых всплесков III типа на частоте 5.7 ГГц, а также одномерные положения источников на других частотах. Было найдено, что максимальный размер источников микроволновых всплесков III типа наблюдался на частоте 5.1 ГГц. С привлечением данных в крайнем ультрафиолете с SDO AIA было показано, что источники располагались вдоль видимых в крайнем ультрафиолете (УФ) и взаимодействующих между собой петельных образований.
