Проблема современных эколого-ресурсосберегающих технологий в лесохозяйственной лесозаготовительной и сельскохозяйственной области связана с устройствами контроля состояния таких сложных систем как системы лесного и сельского хозяйства. Такой мониторинг удобно вести с помощью полупроводниковых датчиков, поскольку информация в них хранится в доступном для компьютера виде. Однако в естественных условиях датчики будут подвергаться воздействию окружающей среды и поэтому актуальным становится определение критериев стойкости полупроводниковых приборов, отражающие качество функционирования последних. Критерием стойкости объекта испытания, например, на полупроводниковую элементную базу является качество функционирования: а – нормальное функционирование; в – временное ухудшение или потеря функции, или работоспособности с самовосстановлением; с – временное ухудшение или потеря функции, или работоспособности, которые требуют вмешательства оператора или перезапуска системы; d – ухудшение или потеря функции, которая не может быть восстановлена из-за повреждения оборудования (компонентов) или программного обеспечения, или потери данных. Методология большинства опубликованных данных о критериальных уровнях соответствует существенно завышенным уровням воздействия на объект испытания. Кроме того, на основе статистической обработки результатов экспериментальных исследований стойкости полупроводниковых приборов к сверхкороткоимульсному полевому воздействию получено эмпирическое соотношение, связывающее дозу энергии воздействующих импульсов с длительностью импульсов, частотой их следования и временем облучения. В работе обоснована необходимость дополнения существующих стандартов по стойкости полупроводниковой элементной базы к наносекундным импульсным помехам более широкой номенклатурой тестовых сигналов с учётом доз облучения и эффектов накопления энергии последовательности импульсов в полупроводниковых приборах.
энергия сверхкоротких импульсов, стойкость полупроводниковых приборов.
1. Математическая модель для вычислительного эксперимента по определению концентрации носителей заряда в КД 212 [Текст] / Н. С. Камалова, Н. Ю. Евсикова, Н. Н. Матвеев, Т. И. Колупаева // Актуальные направления научных исследований XXI века: теория и практика : сборник научных трудов по материалам международной заочной научно-практической конференции. - Воронеж, 2014. - № 3. - Ч. 4 (8-4). - С. 65-69.
2. Каценеленбаум, Б.Э Антирадарная защита металлического тела с диэлектрической оболочкой [Текст] / Б.Э Каценеленбаум // Радиотехника и электроника. - 2014. Т. 59. - № 11. - С.1073-1079.
3. Гуз, С.А. Влияние зеленого шума на систему фазовой автоподстройки частоты [Текст] / С.А. Гуз // Радиотехника и электроника. - 2014. - Т. 59. - № 7. - С. 657.
4. Гизматулин, З.М. Исследование электромагнитной совместимости локальных вычислительных систем при наносекундных электромагнитных воздействиях [Текст] / З.М. Гизматулин, Р.М. Гизматулин // Радиотехника и электроника. - 2014. - Т. 59. - № 5. - С.463-473.
5. Мещеряков, С.А. К вопросу об эквивалентности воздействия мощных сверхвысоко-частотных импульсов и видиоимпульсов различной полярности на полупроводниковые ди-одные структуры [Текст] / С.А. Мещеряков // Радиотехника и электроника. - 2014. - Т. 59. - № 2. - С.184-195.
6. Косичкина, Т.П. Анализ методов подавления узкополосных помех при приеме СШП сигналов [Текст] / Т.П. Косичкина, В.С. Сперанский // Электросвязь. - 2010. - № 3. - С. 17-20.
7. ГОСТ Р 51317.4.4-99 Совместимость тех¬нических средств электромагнитная [Текст]. Устойчивость к наносекундным импульсным помехам. Требования и методы испытаний. ГОССТАНДАРТ РОССИИ, Москва, 1999.
8. Антипин, В.В. Влияние мощных импульсных микроволновых помех на полупроводниковые приборы и интегральные микросхемы [Текст] / В.В. Антипин, В.А. Годовицин, Д.В. Громов, А.С. Кожевников, А.А. Равваев // Зарубежная радиоэлектроника. - 1995. № 1. - С. 37-53.
9. Прохоров, Ю.В. Теория вероятностей [Текст] / Ю.В. Прохоров, Ю.А. Розанов / Гл. Ред. Физ. Мат. - Лит. Изд-ва «Наука», 1973. - 496 с.
10. Оценки минимальных доз облучения энергией сверхкоротких видеоимпульсов по-лупроводниковых приборов при исследовании их стойкости [Текст] / А.Н. Манько, А.П. Ярыгин // Актуальные направления научных исследований XXI века: теория и практика : сборник научных трудов по материалам международной заочной научно-практической кон-ференции. - Воронеж, 2013. - № 5 (5). - С. 150-455. - (грант № 13-02-06138 Г).
